[發明專利]佩戴檢測的控制方法及裝置、可穿戴設備

有效

• 申請號: 201711029560.X
• 申請日: 2017-10-27
• 公開（公告）號: CN107817537B
• 公開（公告）日: 2019-09-17
• 發明（設計）人: 呂百濤;尹少偉;趙亞軍
• 申請（專利權）人: 華米(北京)信息科技有限公司
• 主分類號: G01V11/00
• 分類號: G01V11/00
• 代理公司: 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415
• 代理人: 陳蕾

1.一種佩戴檢測的控制方法，其特征在于，所述方法包括：

當需要對可穿戴設備進行佩戴檢測時，開啟電容檢測功能，得到電容檢測結果；

當所述電容檢測結果指示所述可穿戴設備處于已佩戴狀態時，則開啟光學檢測功能，得到光學檢測結果；

當所述光學檢測結果指示所述可穿戴設備處于已佩戴狀態時，則輸出所述可穿戴設備的佩戴檢測狀態為已佩戴狀態；

所述方法還包括：

判斷所述電容檢測結果是否滿足第一設定條件，所述第一設定條件為所述電容檢測結果中的感應電容值大于預設的第一電容閾值；

若是，則確定所述電容檢測結果指示所述可穿戴設備處于已佩戴狀態；

若否，則確定所述電容檢測結果指示所述可穿戴設備處于未佩戴狀態；

所述輸出所述可穿戴設備的佩戴檢測狀態為已佩戴狀態之后，還包括：

判斷后續接收到的電容檢測結果是否滿足第二設定條件，所述第二設定條件為所述電容檢測結果中包括的感應電容值小于預設的第二電容閾值；

若是，則輸出所述佩戴檢測狀態為未佩戴狀態，并針對另一后續接收到的電容檢測結果，判斷該電容檢測結果是否滿足所述第一設定條件；

若否，繼續輸出所述可穿戴設備的佩戴檢測狀態為已佩戴狀態，并繼續判斷另一后續接收到的電容檢測結果是否滿足所述第二設定條件，所述第一電容閾值不同于所述第二電容閾值；

所述方法還包括：

當所述電容檢測結果指示所述可穿戴設備處于未佩戴狀態時，則輸出所述佩戴檢測狀態為未佩戴狀態，接著針對后續接收到的電容檢測結果，判斷該電容檢測結果是否滿足所述第一設定條件。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述光學檢測結果中包括反射光信號值；所述方法還包括：

判斷所述反射光信號值是否大于預設的光信號閾值；

若是，則確定所述光學檢測結果指示所述可穿戴設備處于已佩戴狀態；

若否，則確定所述光學檢測結果指示所述可穿戴設備處于未佩戴狀態。

3.一種佩戴檢測的控制裝置，其特征在于，所述裝置包括：

電容檢測開啟模塊，被配置為當需要對可穿戴設備進行佩戴檢測時，開啟電容檢測功能，得到電容檢測結果；

光學檢測開啟模塊，被配置為當所述電容檢測結果指示所述可穿戴設備處于已佩戴狀態時，則開啟光學檢測功能，得到光學檢測結果；

第一狀態輸出模塊，被配置為當所述光學檢測結果指示所述可穿戴設備處于已佩戴狀態時，則輸出所述可穿戴設備的佩戴檢測狀態為已佩戴狀態；

所述裝置還包括：

第一判斷模塊，被配置為判斷所述電容檢測結果是否滿足第一設定條件，所述第一設定條件為所述電容檢測結果中的感應電容值大于預設的第一電容閾值；

第一確定模塊，被配置為若所述第一判斷模塊判定所述電容檢測結果滿足所述第一設定條件，則確定所述電容檢測結果指示所述可穿戴設備處于已佩戴狀態；

第二確定模塊，被配置為若所述第一判斷模塊判定所述電容檢測結果不滿足所述第一設定條件，則確定所述電容檢測結果指示所述可穿戴設備處于未佩戴狀態；

所述裝置還包括：

第三判斷模塊，被配置為所述第一狀態輸出模塊輸出所述可穿戴設備的佩戴檢測狀態為已佩戴狀態之后，判斷后續接收到的電容檢測結果是否滿足第二設定條件，所述第二設定條件為所述電容檢測結果中包括的感應電容值小于預設的第二電容閾值；

第三狀態輸出模塊，被配置為若所述第三判斷模塊判定所述后續接收到的電容檢測結果滿足所述第二設定條件，則輸出所述佩戴檢測狀態為未佩戴狀態，并針對另一后續接收到的電容檢測結果，判斷該電容檢測結果是否滿足所述第一設定條件；

第四狀態輸出模塊，被配置為若所述第三判斷模塊判定所述后續接收到的電容檢測結果不滿足所述第二設定條件，則繼續輸出所述可穿戴設備的佩戴檢測狀態為已佩戴狀態，并繼續判斷另一后續接收到的電容檢測結果是否滿足所述第二設定條件，所述第一電容閾值不同于所述第二電容閾值；

所述裝置還包括：

第二狀態輸出模塊，被配置為當所述電容檢測結果指示所述可穿戴設備處于未佩戴狀態時，則輸出所述佩戴檢測狀態為未佩戴狀態，接著針對后續接收到的電容檢測結果，判斷該電容檢測結果是否滿足所述第一設定條件。