[發(fā)明專利]一種谷類加工精度測定方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711029131.2 | 申請日： | 2017-10-29 |
| 公開（公告）號： | CN109724513A | 公開（公告）日： | 2019-05-07 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 葉志威 | 申請（專利權(quán)）人： | 湖北萬嘉油脂有限責(zé)任公司 |
| 主分類號： | G01B11/00 | 分類號： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 438200 湖*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 圖像采集系統(tǒng) 籽粒區(qū)域 谷類 糠皮 圖像分析處理系統(tǒng) 進(jìn)樣系統(tǒng) 精度測定 加工 種谷 計算機(jī)圖像處理技術(shù) 糧食谷物籽粒 圖像信息特性 圖像識別 自動化 圖像 分割 檢測 | ||
1.一種谷類加工精度測定的方法，其特征在于：所述測定方法是利用計算機(jī)圖像處理技術(shù)獲得谷類圖像糠皮區(qū)域和籽粒區(qū)域信息，分別進(jìn)行糠皮區(qū)域和籽粒區(qū)域的圖像識別分割與提取，根據(jù)糠皮區(qū)域占籽粒區(qū)域的百分比值實(shí)現(xiàn)谷類加工精度的測定。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的谷類加工精度測定方法，其特征在于：所述測定方法是根據(jù)谷類籽粒的圖像信息對谷類加工精度進(jìn)行測定，它包括進(jìn)樣系統(tǒng)(a)、圖像采集系統(tǒng)(b)、圖像分析處理系統(tǒng)(c)；其中，進(jìn)樣系統(tǒng)(a)連接到圖像采集系統(tǒng)(b)，圖像采集系統(tǒng)(b)連接到圖像分析處理系統(tǒng)(c)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的谷類加工精度測定方法，其特征在于：所述進(jìn)樣系統(tǒng)(a)為托盤、輸送帶(1)中任一種裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的谷類加工精度測定方法，其特征在于：所述圖像采集系統(tǒng)(b)包括箱體(2)、光源(3)和圖像獲取裝置(4)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2或4所述的谷類加工精度測定方法，其特征在于：所述圖像采集系統(tǒng)(b)的箱體(2)為內(nèi)壁漫反射的暗箱箱體。
6.根據(jù)權(quán)利要求2或4所述的谷類加工精度測定方法，其特征在于：所述圖像采集系統(tǒng)(b)的光源(3)為發(fā)光二極管或其他光源。
7.根據(jù)權(quán)利要求2或4所述的谷類加工精度測定方法，其特征在于：所述圖像采集系統(tǒng)(b)的圖像獲取裝置(4)采用電荷藕合器件CCD、CMOS圖像傳感器、數(shù)碼照相機(jī)、數(shù)碼攝像機(jī)、光敏傳感器CIS、自掃描光電二極管列陣SPD或電荷注入器件CID中任一種。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的谷類加工精度測定方法，其特征在于：所述圖像分析處理系統(tǒng)(c)包括計算機(jī)(5)或單片機(jī)以及相應(yīng)的分析處理程序。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或8所述的谷類加工精度測定方法，其特征在于：所述分析處理程序包括：1）讀取原始谷類圖像；2）進(jìn)行谷類圖像預(yù)處理；3）進(jìn)行谷類圖像分析；4）提取谷類糠皮區(qū)域特征值；5）提取谷類籽粒區(qū)域特征值；6）利用谷類糠皮區(qū)域特征值進(jìn)行圖像識別分割，獲取糠皮區(qū)域；7）利用谷類籽粒區(qū)域特征值進(jìn)行圖像識別分割，獲取籽粒區(qū)域；8)提取谷類糠皮區(qū)域圖像像素值；9)提取谷類籽粒區(qū)域圖像像素值；10）計算谷類糠皮區(qū)域占籽粒區(qū)域的百分比值；11）輸出谷類加工精度。
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