[發(fā)明專(zhuān)利]鈷填充金屬化的器件和方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711026477.7 | 申請(qǐng)日: | 2017-10-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108206158A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | V·卡米奈尼;J·凱利;P·埃杜蘇米利;O·范德斯特拉滕;B·普拉納薩蒂哈倫 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 格芯公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/768 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/768;H01L23/538 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務(wù)所 11247 | 代理人: | 李崢;于靜 |
| 地址: | 開(kāi)曼群島*** | 國(guó)省代碼: | 開(kāi)曼群島;KY |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體材料層 中間半導(dǎo)體器件 填充金屬 半導(dǎo)體材料 集成電路器件 退火 器件執(zhí)行 側(cè)壁 沉積 制造 | ||
1.一種方法,包括:
提供具有至少一個(gè)溝槽的中間半導(dǎo)體器件;
在所述器件上形成至少一個(gè)半導(dǎo)體材料層;
在所述至少一個(gè)半導(dǎo)體材料層上沉積第一鈷(Co)層;以及
對(duì)所述器件執(zhí)行退火回流工藝。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述執(zhí)行退火工藝包括執(zhí)行氬退火回流工藝。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述形成至少一個(gè)半導(dǎo)體材料層包括在所述至少一個(gè)溝槽的底表面上和在所述器件的上表面上沉積第一半導(dǎo)體材料層。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中所述形成至少一個(gè)半導(dǎo)體材料層進(jìn)一步包括在所述第一半導(dǎo)體材料層上和在所述器件之上沉積第二半導(dǎo)體材料層的層。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述沉積第一Co層包括沉積連續(xù)的層。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述沉積第一Co層包括沉積保形的層。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括:
執(zhí)行至少一個(gè)循環(huán),包括:
在所述器件之上沉積Co層;以及
對(duì)所述器件執(zhí)行退火回流工藝。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其中所述執(zhí)行退火回流工藝包括執(zhí)行氬退火回流工藝。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,進(jìn)一步包括:
使用Co填充所述至少一個(gè)溝槽;
執(zhí)行退火回流工藝;以及
平面化所述器件。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其中所述執(zhí)行退火回流工藝包括執(zhí)行H2退火回流工藝。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括:
執(zhí)行所述第一Co層中的至少一部分的氧化;
從所述第一Co層去除所述被氧化的Co中的至少一部分;
使用Co填充所述至少一個(gè)溝槽;以及
平面化所述器件。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其中所述去除所述被氧化的Co中的至少一部分包括通過(guò)電化學(xué)浴去除所述被氧化的Co中的至少一部分。
13.一種中間半導(dǎo)體器件,包括:
形成在所述器件內(nèi)的至少一個(gè)溝槽,所述至少一個(gè)溝槽包括底表面和側(cè)壁;
設(shè)置在所述器件上的至少一個(gè)半導(dǎo)體材料層;以及
設(shè)置在所述至少一個(gè)半導(dǎo)體材料層上的第一鈷(Co)層,
其中所述至少一個(gè)半導(dǎo)體材料層至少包括第一半導(dǎo)體材料和第二半導(dǎo)體材料。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的器件,其中所述第一半導(dǎo)體材料包括從鈦(Ti)、鎳(Ni)、鎳鉑(NiPt)和鈷(Co)中選擇的一種或多種材料。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的器件,其中所述第一半導(dǎo)體材料設(shè)置在所述至少一個(gè)溝槽的底表面和所述器件的頂表面上。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的器件,其中所述第二半導(dǎo)體材料包括從氮化鈦(TiN)、碳化鎢(WC)、氮化鎢(WN)、氮化鉭(TaN)和釕(Ru)中選擇的一種或多種材料。
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的器件,其中所述第一Co層是連續(xù)的層。
18.根據(jù)權(quán)利要求13所述的器件,其中所述第一Co層是保形的層。
19.根據(jù)權(quán)利要求13所述的器件,其中設(shè)置在所述溝槽的底部上的所述第一Co層比設(shè)置在所述溝槽的側(cè)壁上的所述第一Co層厚。
20.根據(jù)權(quán)利要求13所述的器件,進(jìn)一步包括在所述第一Co層上的多個(gè)Co層。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
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H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





