[發(fā)明專利]用于列級(jí)ADC架構(gòu)CMOS圖像傳感器的高速數(shù)據(jù)讀出電路有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711025224.8 | 申請(qǐng)日: | 2017-10-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107734273B | 公開(公告)日: | 2019-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳治軍;李夢(mèng)萄;劉昌舉;李毅強(qiáng);張靖 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團(tuán)公司第四十四研究所 |
| 主分類號(hào): | H04N5/3745 | 分類號(hào): | H04N5/3745;H04N5/378 |
| 代理公司: | 重慶樂泰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 50221 | 代理人: | 劉佳 |
| 地址: | 400060 *** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 adc 架構(gòu) cmos 圖像傳感器 高速 數(shù)據(jù) 讀出 電路 | ||
本發(fā)明提供一種用于列級(jí)ADC架構(gòu)CMOS圖像傳感器的高速數(shù)據(jù)讀出電路,包括多位數(shù)據(jù)讀出電路,針對(duì)每位數(shù)據(jù)讀出電路中每列第一數(shù)據(jù)讀出電路,其第一MOS管的柵極和反相器的輸入端連接對(duì)應(yīng)列SR存儲(chǔ)器的對(duì)應(yīng)位輸出端,源極接地,漏極連接第三MOS管的源極,反相器的輸出端連接第二MOS管的柵極,第二MOS管的源極接地,漏極連接第四MOS管的源極,第三MOS管和第四MOS管的柵極連接垂直尋址電路輸出的對(duì)應(yīng)列選通信號(hào),第三MOS管的漏極通過對(duì)應(yīng)第一寄生電容和第一寄生電阻、第一跨阻放大器連接電壓放大器的負(fù)輸入端,第四MOS管的漏極通過對(duì)應(yīng)的第二寄生電容和第二寄生電阻、第二跨阻放大器連接電壓放大器的正輸入端,電壓放大器的輸出端讀出信號(hào)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于圖像傳感器領(lǐng)域,具體涉及一種用于列級(jí)ADC(Analog-to-DigitalConverter,模數(shù)轉(zhuǎn)換)架構(gòu)CMOS(Complementary Metal-Oxiade Semiconductor,金屬氧化物半導(dǎo)體元件)圖像傳感器的高速數(shù)據(jù)讀出電路。
背景技術(shù)
圖像傳感器是組成數(shù)字?jǐn)z像頭的重要組成部分。根據(jù)元件的不同,可分為CCD(Charge Couple Device,電荷耦合元件)和CMOS兩大類。CMOS圖像傳感器獲得廣泛應(yīng)用的一個(gè)前提是其所擁有的較高靈敏度、較短曝光時(shí)間、日漸縮小的像素尺寸和大規(guī)模生產(chǎn)的低成本效應(yīng)。
隨著CMOS技術(shù)在大規(guī)模生產(chǎn)中的應(yīng)用,基于CMOS技術(shù)的許多產(chǎn)品在成本方面體現(xiàn)出越來越多的優(yōu)勢(shì)。尤其隨著CMOS技術(shù)特征尺寸的不斷降低(scaling down)單位面積芯片的成本也在不斷減小。因此,得益于此,基于CMOS技術(shù)的圖像傳感器比CCD圖像傳感器表現(xiàn)出更強(qiáng)的競(jìng)爭(zhēng)力。
CMOS圖像傳感器的重要發(fā)展方向之一就是向大像素、高分辨率圖像傳感器領(lǐng)域發(fā)展,主要的表現(xiàn)在于CMOS圖像傳感器的分辨率不斷提高,而分辨率的提高將會(huì)帶來圖像傳輸速度的下降。然而,對(duì)于某些視頻應(yīng)用來說,不僅要求CMOS圖像傳感器的分辨率不斷提高,而且要求CMOS圖像傳感器的全畫幅數(shù)據(jù)讀出速率也不斷提高。例如,對(duì)于一個(gè)1080p高清和VGA(Video Graphics Array,視頻圖像陣列)格式的CMOS圖像傳感器芯片來說,兩個(gè)都要求有每秒25幀以上的數(shù)據(jù)傳輸速率,但是顯然,1080p高清的數(shù)據(jù)讀出速率要遠(yuǎn)高于VGA格式。
目前,CMOS圖像傳感器通常采用列級(jí)ADC架構(gòu)CMOS圖像傳感器,架構(gòu)示意圖如圖1所示,主要包括由M×N像素陣列、水平尋址電路、M列列級(jí)ADC電路、M列列級(jí)SR電路、M列數(shù)據(jù)讀出電路、垂直尋址電路和其他電路。列級(jí)ADC架構(gòu)CMOS圖像傳感器的圖像數(shù)據(jù)傳輸方法是通過與像素陣列列數(shù)相同個(gè)數(shù)的M列列級(jí)ADC將一行像素的數(shù)據(jù)經(jīng)讀取模擬信號(hào)、轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),并把各自列的像素?cái)?shù)字信號(hào)儲(chǔ)存在與列級(jí)ADC一一對(duì)應(yīng)相連的M列列級(jí)存儲(chǔ)器SR電路中;然后,通過垂直尋址電路尋址選通M個(gè)數(shù)據(jù)讀出電路依次把M個(gè)列級(jí)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀出。
限制CMOS圖像傳感器的數(shù)據(jù)傳輸速率主要為數(shù)據(jù)讀出電路模塊,用于列級(jí)ADC架構(gòu)CMOS圖像傳感器典型數(shù)據(jù)讀出結(jié)構(gòu)如圖2所示。由于行方向寄生電阻、寄生電容存在的影響,使整個(gè)圖像的數(shù)據(jù)傳輸速度受到了限制,且當(dāng)像素陣列的列數(shù)較多或像素面積較大時(shí),會(huì)繼續(xù)增加數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種用于列級(jí)ADC架構(gòu)CMOS圖像傳感器的高速數(shù)據(jù)讀出電路,以解決目前CMOS圖像傳感器數(shù)據(jù)讀出速率較低的問題。
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