[發明專利]水稻籽粒中鎘元素污染來源的解析方法

有效

• 申請號: 201711024986.6
• 申請日: 2017-10-27
• 公開（公告）號: CN107817289B
• 公開（公告）日: 2019-11-19
• 發明（設計）人: 魏帥;郭波莉;孫倩倩;魏益民
• 申請（專利權）人: 中國農業科學院農產品加工研究所
• 主分類號: G01N27/64
• 分類號: G01N27/64
• 代理公司: 11369 北京遠大卓悅知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 史霞<國際申請>=<國際公布>=<進入國

1.一種水稻籽粒中鎘元素污染來源的解析方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟一、分別測定土壤中污染源A、污染源B及水稻籽粒中的Cd同位素比值δ_A、δ_B和δ_t；

步驟二、依照源解析公式(1)計算出污染源A對水稻籽粒中鎘元素的貢獻率f_A：

其中，δ_t為待解析水稻籽粒中鎘元素同位素比值，α為土壤至水稻籽粒中的鎘同位素分餾系數，δ_A為污染源A的鎘同位素比值，δ_B為污染源B的鎘同位素比值，所述待解析水稻籽粒收獲于所述土壤；

步驟二中，獲得所述土壤至水稻籽粒中的鎘同位素分餾系數α的值包括如下步驟：

1.1)向無Cd污染土壤中按照一定濃度土添加Cd，之后于所述土壤中種植水稻，所述無Cd污染土壤采自0-20cm耕層，pH值6.7的土壤；

1.2)待水稻成熟后收獲水稻籽粒，分別對土壤樣品和水稻籽粒樣品進行鎘同位素比值測定，再利用如下公式計算獲得土壤Cd同位素特征δ^114/110Cd_土壤和水稻籽粒Cd同位素特征δ^114/110Cd_籽粒，

其中，(¹¹⁴Cd/¹¹⁰Cd)_樣品是所測定樣品的¹¹⁴Cd/¹¹⁰Cd值，(¹¹⁴Cd/¹¹⁰Cd)_標準是標準NIST SRM3108的¹¹⁴Cd/¹¹⁰Cd值；

則，鎘同位素分餾系數α＝(δ^114/110Cd_籽粒+1000)/(δ^114/110Cd_土壤+1000)。

2.如權利要求1所述的水稻籽粒中鎘元素污染來源的解析方法，其特征在于，還包括如下步驟：

步驟三、計算得出污染源B對水稻籽粒中鎘元素的貢獻率f_B：

f_B＝1-f_A。

3.如權利要求1所述的水稻籽粒中鎘元素污染來源的解析方法，其特征在于，采用多接收電感耦合等離子體質譜方法測定所述鎘元素同位素比值。

4.如權利要求1所述的水稻籽粒中鎘元素污染來源的解析方法，其特征在于，所述α＝1.0013。