[發明專利]帶微波集成切換開關的輻射諧波測試系統及切換方法

有效

• 申請號: 201711024830.8
• 申請日: 2017-10-27
• 公開（公告）號: CN107947869B
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發明（設計）人: 金超;周陳力;楊東;范超群;劉超鋒
• 申請（專利權）人: 寧波麥博韋爾移動電話有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 杭州斯可睿專利事務所有限公司 33241
• 代理人: 毛翔威

1.一種帶微波集成切換開關的輻射諧波測試系統的切換方法，包括計算機(1)、綜合測試儀(2)、頻譜儀(3)、通訊天線(4)和喇叭天線(5)，其特征是：在計算機(1)與綜合測試儀(2)、頻譜儀(3)、通訊天線(4)和喇叭天線(5)之間設有微波集成切換開關(6)，所述微波集成切換開關(6)包括以下部件：

一個天線極化A開關(7)，且所述天線極化A開關(7)上設有四個射頻端口；

一個微波切換B開關(8)，且所述微波切換B開關(8)上設有四個射頻端口；

一個綜合測試儀接口切換C開關(9)，且所述綜合測試儀接口切換C開關(9)上設有三個射頻端口；

一個控制器(10)，且所述控制器(10)是能夠發出高低邏輯組合電平來控制天線極化A開關(7)、微波切換B開關(8)、綜合測試儀接口切換C開關(9)后，達到OTA測試系統與輻射諧波測試系統進行切換的控制器(10)；其中，所述天線極化A開關(7)的A1射頻端口(7-1)通過同軸線纜與綜合測試儀接口切換C開關(9)上的C1射頻端口(9-1)連接，天線極化A開關(7)的A2射頻端口(7-2)和A3射頻端口(7-3)均與喇叭天線(5)連接，天線極化A開關(7)的A4射頻端口(7-4)通過同軸線纜與微波切換B開關(8)上的B2射頻端口(8-2)連接，所述微波切換B開關(8)的B4射頻端口(8-4)與頻譜儀(3)連接，所述綜合測試儀接口切換C開關(9)上的C2射頻端口(9-2)與綜合測試儀(2)連接，所述綜合測試儀接口切換C開關(9)上的C3射頻端口(9-3)與通訊天線(4)連接，且所述控制器(10)分別與天線極化A開關(7)、微波切換B開關(8)和綜合測試儀接口切換C開關(9)控制連接，所述微波切換B開關(8)的B4射頻端口(8-4)通過低噪聲放大器(11)與頻譜儀(3)連接，其特征是：具體包括以下兩個切換過程：

一、OTA測試系統的切換過程如下：

S11、由計算機(1)發出OTA測試指令，并傳輸給控制器(10)；

S12、此時控制器(10)判斷為OTA測試指令，并向綜合測試儀接口切換C開關(9)發出高電平1的指令，綜合測試儀接口切換C開關(9)上的C2射頻端口(9-2)立即連接到C1射頻端口(9-1)，此時由于C1射頻端口(9-1)與A1射頻端口(7-1)相連；控制器(10)也向天線極化A開關(7)發出高電平1并切換到A1射頻端口(7-1)，而A2射頻端口(7-2)、A3射頻端口分別作為垂直極化和水平極化端口進行OTA測試；

二、輻射諧波測試系統的切換過程如下：

S21、計算機(1)發出輻射諧波測試指令，傳輸到控制器(10)；

S22、控制器(10)向綜合測試儀接口切換C開關(9)發出低電平0，使得C3射頻端口(9-3)連接到C2射頻端口(9-2)；控制器(10)向天線極化A開關(7)發出低電平0，切換到天線極化A開關(7)的A4射頻端口(7-4)，A4射頻端口(7-4)與微波切換B開關(8)相連；控制器(10)向微波切換B開關(8)發出控制指令，驅使微波切換B開關(8)上的B4射頻端口(8-4)與對應的微波切換B開關(8)內的B1射頻端口(8-1)或B2射頻端口(8-2)或B3射頻端口(8-3)導通，實現低頻高通濾波或中頻高通濾波或高頻高通濾波后，通過頻譜儀(3)進行輻射諧波測試。

2.根據權利要求1所述的帶微波集成切換開關的輻射諧波測試系統的切換方法，其特征是：在步驟S22中，控制器(10)向微波切換B開關(8)發出控制指令具體為：發送00指令代表選擇低頻高通濾波器，使B1射頻端口(8-1)與B4射頻端口(8-4)相連，發送01指令代表選擇中頻高通濾波器，使B2射頻端口(8-2)與B4射頻端口(8-4)相連，發送11指令代表選擇高頻高通濾波器，使B3射頻端口(8-3)與B4射頻端口(8-4)相連。