[發明專利]觸控顯示面板及其驅動方法、顯示裝置

有效

• 申請號: 201711020957.2
• 申請日: 2017-10-27
• 公開（公告）號: CN107608563B
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 趙遠洋;邵賢杰;古宏剛;葛浩森
• 申請（專利權）人: 合肥京東方光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G02F1/1333
• 代理公司: 北京市立方律師事務所 11330
• 代理人: 劉延喜

本發明提供一種觸控顯示面板，包括光強檢測層和液晶層，所述光強檢測層位于所述液晶層的出光側，其用于檢測透過所述液晶層的光的強度。由于液晶層受到觸控壓力時對應于觸控位置的液晶量減少，因此通過液晶層的光的強度也會減弱，所述光強檢測層根據檢測到的觸控位置在觸控前和觸控時的光的強度，則可確定光強變化量，從而便于外接檢測裝置或設置于所述觸控顯示面板內的檢測裝置確定觸控壓力的大小。在確定觸控壓力的大小之后，可設置不同大小的觸控壓力對應于不同的顯示內容和顯示效果，從而可豐富所述觸控顯示面板的顯示功能。此外，本發明還提供一種顯示裝置，以及與所述觸控顯示面板相應的驅動方法。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域及觸控技術領域，尤其涉及一種觸控顯示面板，以及相應的顯示裝置，此外還涉及相應的觸控顯示面板的驅動方法。

背景技術

隨著屏幕觸控技術的快速發展，采用觸摸屏的電子設備已被廣泛應用。觸摸屏主要分為壓力傳感式觸摸屏、電阻式觸摸屏、電容式觸摸屏、紅外線觸摸屏以及表面聲波式觸摸屏等種類。其中，電容式觸摸屏無疑是應用最為廣泛的觸摸屏。電容式觸摸屏包括利用ITO制成的橫向和縱向的電極陣列，該橫向和縱向的電極陣列構成在屏幕表面均勻分布的若干個測試點。由于相鄰電極之間可以產生自電容，所以通過自電容掃描方式采集各個測試點的自電容值的變化，可以實現對單點觸摸的檢測。另外，由于相鄰電極之間也可以產生互電容，所以通過互電容掃描方式采集各個測試點的互電容值的變化，可以實現對多點觸摸的檢測。

3D觸控是一種立體觸控技術，相對于多點觸摸在平面二維空間的操作，3D觸控技術增加了對觸控力度和觸控面積的感知。目前3D觸控技術只能夠實現區分“輕壓”和“重壓”兩種觸控形式，而要檢測觸控壓力的數值和確定觸控位置則具有一定難度，要實現觸控壓力的細致分級也較為困難。

發明內容

本發明的目的旨在提供一種觸控顯示面板，其特點是能夠檢測透過液晶層的光的強度以便于確定觸控壓力的大小。

本發明的另一目的是提供一種顯示裝置，其運用了所述觸控顯示面板，因此具有所述觸控顯示面板的優點。

本發明的再一目的是提供一種觸控顯示面板的驅動方法，其特點是根據檢測到的透過液晶層的光強以確定觸控信息。

為了實現上述目的，本發明提供以下技術方案：

本發明提供一種觸控顯示面板，其包括光強檢測層和液晶層，所述光強檢測層位于所述液晶層的出光側，其用于檢測透過所述液晶層的光的強度。

進一步地，所述觸控顯示面板還包括壓感觸控分析單元，所述壓感觸控分析單元與所述光強檢測層電連接，所述壓感觸控分析單元用于接收所述光強檢測層傳送的電信號以確定觸控壓力的大小。

更進一步地，所述觸控顯示面板還包括封框膠，所述封框膠中摻雜有金屬，所述壓感觸控分析單元通過所述封框膠中的金屬與所述光強檢測層電連接。

較佳地，所述光強檢測層包括多個探測器，多個所述探測器以陣列形式排布。

可選地，所述探測器為光電探測器或熱探測器。

可選地，所述探測器為CdS探測器、CdSe探測器或CdTe探測器。

進一步地，所述觸控顯示面板還包括黑矩陣和信號走線，所述信號走線與所述探測器電連接，所述探測器和所述信號走線在所述液晶層上的正投影位于所述黑矩陣在所述液晶層上的正投影內。

進一步地，所述觸控顯示面板還包括彩膜層，所述彩膜層位于所述光強檢測層遠離所述液晶層的一側。

進一步地，所述觸控顯示面板還包括觸摸傳感層和陣列層，所述陣列層設于所述液晶層遠離所述光強檢測層的一側，所述觸摸傳感層設于所述液晶層與所述陣列層之間。

相應地，本發明還提供了一種顯示裝置，其包括上述任意一項技術方案所述的觸控顯示面板。