[發明專利]軸向位移檢測方法、裝置和軸向位移傳感器

有效

• 申請號: 201711020228.7
• 申請日: 2017-10-26
• 公開（公告）號: CN107869949B
• 公開（公告）日: 2021-02-26
• 發明（設計）人: 賀永玲;胡叨福;趙聰
• 申請（專利權）人: 珠海格力節能環保制冷技術研究中心有限公司
• 主分類號: G01B7/02
• 分類號: G01B7/02
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 趙囡囡

1.一種軸向位移檢測方法，其特征在于，包括：

通過一個軸向位移傳感器中的多個探頭采集同一個檢測面的多個軸向位移信號，其中，所述檢測面為用于對磁懸浮系統的軸的軸向位移進行檢測的檢測平面，所述檢測面為所述磁懸浮系統的軸的端面，所述多個探頭分布于與所述檢測面成預設軸向距離的圓周平面上；

根據采集的所述多個軸向位移信號確定所述軸的軸向位移，其中，通過所述多個軸向位移信號消除檢測面傾斜對確定所述軸的軸向位移的影響；

所述軸向位移傳感器包括：一個信號調理電路，用于為所述多個探頭提供高頻交變電流，其中，所述多個探頭依次串聯在所述軸向位移傳感器的所述一個信號調理電路中；和/或，所述多個探頭同時并聯在所述軸向位移傳感器的所述一個信號調理電路中。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述多個探頭均勻分布于與所述檢測面成一定軸向距離的圓周平面上。

3.根據權利要求1至2中任一項所述的方法，其特征在于，所述軸向位移傳感器為電渦流位移傳感器。

4.一種軸向位移檢測裝置，其特征在于，包括：

采集模塊，用于通過一個軸向位移傳感器中的多個探頭采集同一個檢測面的多個軸向位移信號，其中，所述檢測面為用于對磁懸浮系統的軸的軸向位移進行檢測的檢測平面，所述檢測面為所述磁懸浮系統的軸的端面，所述多個探頭分布于與所述檢測面成預設軸向距離的圓周平面上；

確定模塊，用于根據采集的所述多個軸向位移信號確定所述軸的軸向位移，其中，通過所述多個軸向位移信號消除檢測面傾斜對確定所述軸的軸向位移的影響；

其特征在于，所述軸向位移傳感器包括：一個信號調理電路，用于為所述多個探頭提供高頻交變電流，其中，所述多個探頭依次串聯在所述軸向位移傳感器的所述一個信號調理電路中；和/或，所述多個探頭同時并聯在所述軸向位移傳感器的所述一個信號調理電路中。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述多個探頭均勻分布于與所述檢測面成一定軸向距離的圓周平面上。

6.一種軸向位移傳感器，其特征在于，包括：一個信號調理電路和多個探頭，所述多個探頭連接于所述一個信號調理電路中，其中，

所述多個探頭，用于采集同一個檢測面的多個軸向位移信號，其中，所述檢測面為用于對磁懸浮系統的軸的軸向位移進行檢測的檢測平面，所述檢測面為所述磁懸浮系統的軸的端面，所述多個探頭分布于與所述檢測面成預設軸向距離的圓周平面上，所述多個探頭用于采集多個軸向位移信號，所述多個軸向位移信號用于消除檢測面傾斜對確定所述軸的軸向位移的影響；

所述多個探頭依次串聯在所述軸向位移傳感器的所述一個信號調理電路中；和/或，所述多個探頭同時并聯在所述軸向位移傳感器的所述一個信號調理電路中，其中，所述信號調理電路用于為所述多個探頭提供高頻交變電流。

7.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質包括存儲的程序，其中，所述程序執行權利要求1至3中任意一項所述的軸向位移檢測方法。

8.一種處理器，其特征在于，所述處理器用于運行程序，其中，所述程序運行時執行權利要求1至3中任意一項所述的軸向位移檢測方法。