[發(fā)明專利]一種背照式圖形傳感器的制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711019226.6 | 申請(qǐng)日: | 2017-10-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107910339B | 公開(公告)日: | 2021-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林宏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海集成電路研發(fā)中心有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/146 | 分類號(hào): | H01L27/146 |
| 代理公司: | 上海天辰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吳世華;陳慧弘 |
| 地址: | 201210 上海市*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 背照式 圖形 傳感器 制造 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種背照式圖形傳感器的制造方法,包括:對(duì)像元芯片背面進(jìn)行硅片減薄處理,在像元芯片背面表面依次沉積抗反射介質(zhì)層和第一保護(hù)層,在第一保護(hù)層上形成不同顏色的濾色薄膜,各濾色薄膜之間具有連通的間隙,在濾色薄膜表面保形地沉積第二保護(hù)層,沿間隙位置定義出連通的深溝槽區(qū)域,刻蝕形成深溝槽,對(duì)深溝槽先后沉積介質(zhì)阻擋層、金屬阻擋層,并填充金屬,對(duì)表面金屬進(jìn)行CMP拋光,并沉積介質(zhì)覆蓋層。本發(fā)明通過先完成濾色薄膜工藝,再采用第二保護(hù)層介質(zhì)層全覆蓋濾色薄膜,并進(jìn)一步將深溝槽工藝與金屬格柵工藝同步完成,可減少一個(gè)光刻步驟和金屬格柵相關(guān)的工藝步驟,從而使成本得到降低。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及集成電路制造工藝技術(shù)領(lǐng)域,更具體地,涉及一種背照式CMOS圖形傳感器的制造方法。
背景技術(shù)
隨著智能手機(jī)和平板電腦的普及,CMOS圖形傳感器(CIS)產(chǎn)品需求與日俱增,智能手機(jī)攝像頭的配置一般在300萬像素以上,一些高端智能機(jī)甚至配有800萬以上像素的攝像頭。這些高端應(yīng)用對(duì)CIS產(chǎn)品性能有了更高的要求,包括像素、分辨率、功耗、物理尺寸等。因此,以Sony(索尼)公司為首的CIS產(chǎn)品供應(yīng)商們都在著力開發(fā)背照式圖形傳感器技術(shù)(BSICIS),來進(jìn)一步提高CIS產(chǎn)品的感光度和降低像元信號(hào)之間干擾,支持高端智能機(jī)的攝像需求。背照式圖形傳感器以3D CIS技術(shù)為研究熱點(diǎn),把圖形傳感器芯片和數(shù)字信號(hào)處理器芯片通過TSV(硅通孔)垂直互連在一起,能夠有效減少封裝尺寸、減低功耗。
目前已量產(chǎn)的3D CIS產(chǎn)品工藝,包括以下步驟:
將像元芯片(圖形傳感器芯片)和數(shù)控芯片(數(shù)字信號(hào)處理器芯片)采用SiO2-SiO2直接鍵合工藝垂直粘接在一起;
對(duì)像元芯片進(jìn)行背面減薄工藝,減薄硅的厚度,接近受過注入的感光區(qū);
從像元芯片背面對(duì)感光單元之間進(jìn)行深溝槽隔離工藝(Deep TrenchIsolation),在深溝槽內(nèi)先后填入介質(zhì)和金屬,實(shí)現(xiàn)感光單元之間的電隔離和光隔離;
在感光單元之間進(jìn)行金屬格柵工藝,金屬格柵可以吸收雜散光,減少信號(hào)干擾;
在像元陣列旁的控制電路區(qū)域進(jìn)行背面TSV工藝,分別連接像元芯片的第一層金屬層和數(shù)控芯片的頂層金屬層;
采用鋁布線將TSV引出,形成Wire bond(鍵合金線)所需的Al Pad(焊盤);
在感光區(qū)先后形成透過不同可見光的濾色薄膜,并最后在濾色薄膜上方制作顯微透鏡。
上述現(xiàn)有的3D背照式圖形傳感器技術(shù)都是自下而上地依次完成各種背面加工,其濾色薄膜工藝是在深溝槽工藝、金屬格柵工藝之后再進(jìn)行的。從工藝集成難度來看,這是比較容易實(shí)現(xiàn)且易于工藝控制的,但這樣做工藝步驟較多,成本較高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)存在的上述缺陷,提供一種背照式圖形傳感器的制造方法。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
一種背照式圖形傳感器的制造方法,包括以下步驟:
步驟S01:提供一具有像元芯片的硅片,對(duì)所述像元芯片背面進(jìn)行硅片減薄處理;
步驟S02:在減薄后的像元芯片背面表面依次沉積抗反射介質(zhì)層和第一保護(hù)層;
步驟S03:在第一保護(hù)層上形成不同顏色的濾色薄膜;其中,各所述濾色薄膜之間具有相連通的間隙;
步驟S04:在濾色薄膜表面保形地沉積第二保護(hù)層;
步驟S05:沿間隙位置定義出連通的深溝槽區(qū)域;
步驟S06:刻蝕形成深溝槽;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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