[發明專利]一種碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測方法及裝置

在審

• 申請號: 201711013138.5
• 申請日: 2017-10-25
• 公開（公告）號: CN107664776A
• 公開（公告）日: 2018-02-06
• 發明（設計）人: 戴曉峰;張明;甘利燈;李凌高
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01V11/00
• 分類號: G01V11/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司11127
• 代理人: 劉鑫,沈金輝

1.一種碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測方法，其特征在于，該碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測方法包括以下步驟：

獲取地震數據和測井數據；

統計蓋層、碳酸鹽巖地層和巖溶儲層的平均波阻抗值；

建立楔狀巖溶儲層的波阻抗模型；

合成對應所述波阻抗模型的地震正演剖面；

提取所述地震正演剖面沿風化殼頂面的地震屬性并對所述地震屬性和儲層厚度進行多項式擬合；

提取沿層地震屬性并預測儲層厚度。

2.根據權利要求1所述的碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測方法，其特征在于：

獲取地震數據包括獲取偏移后的地震數據和風化殼頂面的時間構造層位；

獲取測井數據包括獲取風化殼頂面的上和下層段的聲波時差和密度曲線。

3.根據權利要求1所述的碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測方法，其特征在于，統計蓋層、碳酸鹽巖地層和巖溶儲層的平均波阻抗值包括以下步驟：

基于測井數據計算波阻抗曲線；

統計分析風化殼頂面的上覆地層、下伏地層和有利巖溶儲層的平均波阻抗值。

4.根據權利要求3所述的碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測方法，其特征在于，建立楔狀巖溶儲層的波阻抗模型包括以下步驟：

基于碳酸鹽巖巖溶儲層的區域地質實際鉆井結果，確定楔狀儲層厚度變化范圍值；

建立楔狀儲層地質模型及其對應的波阻抗模型。

5.根據權利要求4所述的碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測方法，其特征在于，建立楔狀儲層地質模型及其對應的波阻抗模型包括以下步驟：

沿風化殼頂面從上至下建立一個3層的地層模型，包括

(1)緊鄰風化殼頂面之下設計的一個厚度從小變大頂平底斜的楔狀體巖溶儲層，

(2)在風化殼頂面之上的厚度穩定、均勻的蓋層地層，以及，

(3)緊鄰楔狀體巖溶儲層之下的均勻的碳酸鹽巖非儲層地層；

將統計分析風化殼頂面的上覆地層、下伏地層和有利巖溶儲層的平均波阻抗值賦值到地質模型中，得到二維楔狀儲層的波阻抗模型。

6.根據權利要求1所述的碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測方法，其特征在于，合成對應所述波阻抗模型的地震正演剖面包括以下步驟：

基于地震數據提取地震子波；

將所述楔狀巖溶儲層波阻抗模型和地震子波進行褶積運算，合成得到地震正演剖面。

7.根據權利要求1所述的碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測方法，其特征在于，提取所述地震正演剖面沿風化殼頂面的地震屬性并對所述地震屬性和儲層厚度進行多項式擬合包括以下步驟：

在地震正演剖面沿風化殼頂面選取計算時窗，提取地震屬性值；

對地震屬性值和儲層厚度進行相關分析，建立地震屬性值和儲層厚度的多項式擬合關系式，所述多項式擬合關系式為：

Y＝a_nXⁿ+a_n-1X^n-1+...a₁X+a₀

其中：Y為儲層厚度，X為地震屬性值，a_n為多項式系數。

8.根據權利要求7所述的碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測方法，其特征在于，提取沿層地震屬性并預測儲層厚度包括以下步驟：

對地震數據沿風化殼頂面的時間構造層位，在計算時窗范圍內，提取待測區域的沿層地震屬性；

將沿層地震屬性值帶入多項式擬合關系式中，計算待預測區域儲層厚度值。

9.根據權利要求7或8所述的碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測方法，其特征在于，計算時窗的選取是通過地質構造復雜程度和風化殼地震反射連續性來確定；當實際地震剖面上的地質構造簡單且風化殼對應地震反射同相軸連續性較好時，選擇較小的計算時窗，反之選擇較大的計算時窗。

10.根據權利要求9所述的碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測方法，其特征在于，地質構造復雜程度判斷依據是：斷層發育數量多少、斷層間切割關系復雜程度；斷層數量越多、斷層間相互切割組合越困難，則該地質構造復雜，反之該地質構造簡單。

11.一種碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測裝置，其特征在于，該碳酸鹽巖風化殼巖溶儲層厚度地震預測裝置包括：

獲取模塊，用于獲取地震數據和測井數據；

平均波阻抗值統計模塊，用于統計蓋層、碳酸鹽巖地層和巖溶儲層的平均波阻抗值；

波阻抗模型建立模塊，用于建立楔狀巖溶儲層波阻抗模型；

合成地震正演剖面生成模塊，用于合成對應所述波阻抗模型的地震正演剖面；

多項式擬合模塊，用于提取所述地震正演剖面沿風化殼頂面的地震屬性并對所述地震屬性和儲層厚度進行多項式擬合；

預測儲層厚度模塊，用于提取沿層地震屬性并預測儲層厚度。