[發明專利]過程設備狀況和性能監控

在審

• 申請號: 201711003250.0
• 申請日: 2017-10-24
• 公開（公告）號: CN107976969A
• 公開（公告）日: 2018-05-01
• 發明（設計）人: M·J·尼克松;J·B·基德;M·J·布德羅;S·W·安德森;E·羅特沃爾德
• 申請（專利權）人: 費希爾-羅斯蒙特系統公司
• 主分類號: G05B19/418
• 分類號: G05B19/418
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司72002
• 代理人: 曹雯

1.一種用于通過使用數據來檢測過程工廠實體的狀況的方法，所述數據從過程工廠安全地傳輸到云計算系統，所述方法包括：

在所述過程工廠進行操作以控制工業過程時，在所述云計算系統處接收由所述過程工廠的一個或多個設備生成的數據，所述數據被保護以便經由數據二極管從所述一個或多個設備傳送到所述云計算系統，并且所述數據二極管被配置為防止在所述過程工廠的網絡與所述云計算系統的網絡之間的雙向通信；

在所述云計算系統處分析所述數據，從而檢測過程工廠實體的狀況，所述過程工廠實體執行物理功能以控制所述過程工廠中的所述工業過程，所述過程工廠實體與所述一個或多個設備相對應；以及

將對所述過程工廠實體的狀況的指示傳送到用戶接口設備，以向操作者警告所述狀況。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，接收由所述一個或多個設備生成的所述數據包括：在多個時間實例處接收針對所述過程工廠實體的一個或多個過程參數中的每個過程參數的相應的過程參數值。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，分析所述數據，從而檢測所述過程工廠實體的狀況包括：

對于所述一個或多個過程參數中的每個過程參數，將在所述多個時間實例上的所述一個或多個過程參數的相應的過程參數值進行組合，以生成過程參數度量；以及

基于所述過程參數度量檢測所述過程工廠實體的狀況。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，將在所述多個時間實例上的所述一個或多個過程參數的相應的過程參數值進行組合以生成所述過程參數度量包括計算以下項中的至少一個，以生成所述過程參數度量：在所述多個時間實例上的所述相應的過程參數值的移動平均值或所述相應的過程參數值的衰減平均值。

5.根據權利要求3所述的方法，

還包括基于所述一個或多個過程參數的歷史過程參數值來生成統計模型；以及

其中，基于所述過程參數度量來檢測所述過程工廠實體的狀況包括：將所述過程參數度量應用到所述統計模型。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，基于所述一個或多個過程參數的所述歷史過程參數值來生成所述統計模型包括：

將每個歷史過程參數值分類為對應于針對已經經歷了所述狀況的一個或多個過程工廠實體的過程參數值的第一集合；或分類為對應于針對未經歷所述狀況的一個或多個過程工廠實體的過程參數值的第二集合；以及

基于對所述歷史過程參數值的分類來生成所述統計模型。

7.根據權利要求5所述的方法，還包括：

接收對所述過程工廠實體是否已經經歷了所述狀況的指示；以及

基于對所述過程工廠實體是否已經經歷了所述狀況的指示，更新所述歷史過程參數值以包括所述過程工廠實體的所述一個或多個過程參數的相應的過程參數值。

8.根據權利要求1所述的方法，其中，檢測所述過程工廠實體的狀況，包括以下步驟中的至少一個：檢測所述過程工廠實體的性能監控度量；或檢測在所述過程工廠實體處的錯誤、死區、死區時間、或泄露中的至少一個。

9.根據權利要求1所述的方法，還包括：

基于檢測到的所述過程工廠實體的狀況，引起將在所述過程工廠處生成警報或事件。

10.根據權利要求1所述的方法，還包括：

向所述過程工廠傳送控制信號，以基于檢測到所述過程工廠實體的狀況來調整對所述過程工廠實體的操作。

11.根據權利要求1所述的方法，其中，接收由所述一個或多個設備生成的數據包括：經由所述數據二極管接收從所述一個或多個設備流動到所述云計算系統的實時數據。