[發明專利]一種基于K統計分布模型背景的目標檢測方法有效
| 申請號： | 201711001621.1 | 申請日： | 2017-10-24 |
| 公開（公告）號： | CN109696662B | 公開（公告）日： | 2021-04-09 |
| 發明（設計）人： | 徐達;羅海力;郝程鵬;劉明剛;李娜;施博;閆晟;宿曉靜;朱東升 | 申請（專利權）人： | 中國科學院聲學研究所 |
| 主分類號： | G01S7/41 | 分類號： | G01S7/41;G01S7/539 |
| 代理公司： | 北京方安思達知識產權代理有限公司 11472 | 代理人： | 陳琳琳;武玥 |
| 地址： | 100190 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 統計 分布 模型 背景 目標 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于K統計分布模型背景的目標檢測方法，包括以下步驟：
步驟1)獲取符合K統計分布模型的觀測樣本數據{zi},i＝1,2,…,N；
步驟2)利用觀測樣本數據{zi},i＝1,2,…,N，構造R估計器，從而對K統計分布模型的形狀參數進行估計；
步驟3)利用得到的K統計分布模型的形狀參數，計算恒虛警檢測方法中的自適應檢測門限值；將待檢測量與門限值進行對比；若大于門限值，判斷為有目標；否則，判斷為無目標；
所述步驟2)具體包括：
步驟201)通過觀測樣本數據計算R估計器的統計量：
其中，r為R估計器的階數；
步驟202)對R估計器的統計量進行修正；
步驟203)R估計器的統計量與K統計分布模型的形狀參數v的關系式為：
步驟204)通過步驟203)的關系式，查找與最接近的值所對應的v值作為K統計分布模型的形狀參數估計值。
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