[發明專利]電路測試優化方法及裝置

有效

• 申請號: 201710985482.4
• 申請日: 2017-10-20
• 公開（公告）號: CN109696614B
• 公開（公告）日: 2021-01-12
• 發明（設計）人: 陳冠廷;陳小軍;謝冠
• 申請（專利權）人: 深圳天德鈺科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 汪飛亞;薛曉偉

1.一種電路測試優化方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取電路測試數據，及獲取所述電路測試數據對應的至少一個電路輸出及所述至少一個電路輸出中每個電路輸出對應的至少一個電路測試項目；

從所述至少一個電路輸出中，確定至少一個待測電路輸出；

根據所述電路測試數據，確定所述至少一個待測電路輸出中每個待測電路輸出的出錯率，及確定一個或者多個待測電路輸出中相關的電路測試項目，其中，所述相關的電路測試項目同時出錯；及

根據所述每個待測電路輸出的出錯率及所述一個或者多個待測電路輸出中相關的電路測試項目，對所述出錯率大于或者等于第二預設值的待測電路輸出進行測試。

2.如權利要求1所述的電路測試優化方法，其特征在于，所述每個電路輸出對應的至少一個電路測試項目包括以下任意一項或者多項的組合：

電流、電壓、電阻。

3.如權利要求1所述的電路測試優化方法，其特征在于，所述從所述至少一個電路輸出中，確定至少一個待測電路輸出包括：

獲取每個電路輸出的測試時間；

根據每個電路輸出的測試時間，將測試時間滿足第一預設條件的電路輸出確定為所述至少一個待測電路輸出；或

將所述至少一個電路輸出確定為所述至少一個待測電路輸出。

4.如權利要求1所述的電路測試優化方法，其特征在于，所述確定一個或者多個待測電路輸出中相關的電路測試項目包括：

分析同一個待測電路輸出對應的各個電路測試項目之間的相關性，確定所述同一個待測電路輸出中相關的電路測試項目；及/或

分析多個待測電路輸出中對應的相同電路測試項目之間的相關性，確定相關的多個待測電路輸出及所述相關的多個待測電路輸出中相關的電路測試項目。

5.如權利要求1所述的電路測試優化方法，其特征在于，所述根據所述每個待測電路輸出的出錯率及所述一個或者多個待測電路輸出中相關的電路測試項目，對電路進行測試包括：

對出錯率滿足第二預設條件的待測電路輸出進行測試；及/或

從同一個待測電路輸出中相關的電路測試項目中選擇任意一個測試項目進行測試；及/或

當確定相關的多個待測電路輸出及所述相關的多個待測電路輸出中相關的電路測試項目時，從所述多個待測電路輸出中選擇一個電路輸出，對所述選擇的電路輸出中所述相關的電路測試項目進行測試。

6.一種電路測試優化裝置，其特征在于，所述裝置包括：

獲取單元，用于獲取電路測試數據，及獲取所述電路測試數據對應的至少一個電路輸出及所述至少一個電路輸出中每個電路輸出對應的至少一個電路測試項目；

確定單元，用于從所述至少一個電路輸出中，確定至少一個待測電路輸出；

所述確定單元，還用于根據所述電路測試數據，確定所述至少一個待測電路輸出中每個待測電路輸出的出錯率，及確定一個或者多個待測電路輸出中相關的電路測試項目，其中，所述相關的電路測試項目同時出錯；及

測試單元，用于根據所述每個待測電路輸出的出錯率及所述一個或者多個待測電路輸出中相關的電路測試項目，對所述出錯率大于或者等于第二預設值的待測電路輸出進行測試。

7.如權利要求6所述的電路測試優化裝置，其特征在于，所述每個電路輸出對應的至少一個電路測試項目包括以下任意一項或者多項的組合：

電流、電壓、電阻。

8.如權利要求6所述的電路測試優化裝置，其特征在于，所述確定單元從所述至少一個電路輸出中，確定至少一個待測電路輸出具體包括：

獲取每個電路輸出的測試時間；

根據每個電路輸出的測試時間，將測試時間滿足第一預設條件的電路輸出確定為所述至少一個待測電路輸出；或

將所述至少一個電路輸出確定為所述至少一個待測電路輸出。