[發(fā)明專(zhuān)利]一種基于高電壓和鹽溶液評(píng)價(jià)復(fù)合絕緣子界面性能的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710980312.7
• 申請(qǐng)日: 2017-10-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107797036B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-11-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃振;王銳;彭向陽(yáng);張中浩;余欣;錢(qián)金菊;王黎明
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/12
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/12;G01R31/52
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 張春水;唐京橋

本發(fā)明屬于電力領(lǐng)域，尤其涉及一種基于高電壓和鹽溶液評(píng)價(jià)復(fù)合絕緣子界面性能的方法。本發(fā)明提供了一種基于高電壓和鹽溶液評(píng)價(jià)復(fù)合絕緣子界面性能的方法，包括：將復(fù)合絕緣子短樣品與泄漏電流測(cè)量裝置串聯(lián)后與高壓電源形成回路，再在復(fù)合絕緣子短樣品的第一端滴加鹽溶液6～12h，并同時(shí)通過(guò)泄漏電流檢測(cè)裝置檢測(cè)復(fù)合絕緣子短樣品的泄漏電流；對(duì)泄漏電流檢測(cè)裝置檢測(cè)的所有泄漏電流進(jìn)行判斷，若所有泄漏電流不大于預(yù)置電流值，則復(fù)合絕緣子短樣品的界面合格。本發(fā)明考慮了復(fù)合絕緣子界面在實(shí)際劣化過(guò)程中的狀況，在評(píng)價(jià)復(fù)合絕緣子界面性能時(shí)同時(shí)考察了高電壓和鹽溶液的影響，能更好地對(duì)復(fù)合絕緣子界面性能進(jìn)行評(píng)價(jià)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于電力領(lǐng)域，尤其涉及一種基于高電壓和鹽溶液評(píng)價(jià)復(fù)合絕緣子界面性能的方法。

背景技術(shù)

復(fù)合絕緣子在污穢與潮濕環(huán)境下具有性能優(yōu)異、機(jī)械強(qiáng)度高、不易損壞、運(yùn)輸安裝方便、成本低廉的優(yōu)點(diǎn)，其在超高壓與特高壓線路上優(yōu)點(diǎn)更加突出，因此自20世紀(jì)60年代出現(xiàn)以來(lái)就得到了廣泛的應(yīng)用。但隨著運(yùn)行時(shí)間和運(yùn)行數(shù)量的增加，復(fù)合絕緣子會(huì)出現(xiàn)界面劣化、高溫發(fā)熱的現(xiàn)象，該現(xiàn)象會(huì)最終引發(fā)絕緣子斷裂，影響電網(wǎng)的安全運(yùn)行。

復(fù)合絕緣子的界面問(wèn)題日益成為影響其安全運(yùn)行的重要因素，由于界面在絕緣子內(nèi)部，內(nèi)部缺陷具有隱蔽性，在出廠檢測(cè)、線路巡檢中都不易發(fā)覺(jué)。當(dāng)內(nèi)部缺陷發(fā)展到較大程度時(shí)，其在外部會(huì)表現(xiàn)出發(fā)熱等現(xiàn)象。缺陷的存在會(huì)使復(fù)合絕緣子的機(jī)械承載能力和絕緣子材料本身受到較大的削弱，因此需要有效的界面檢測(cè)方法提高絕緣子的運(yùn)行穩(wěn)定水平。

目前對(duì)于復(fù)合絕緣子界面質(zhì)量的考察方法主要為帶護(hù)套芯棒水?dāng)U散方法，該方法在復(fù)合絕緣子上截取帶護(hù)套的芯棒短樣，然后將其放置在沸騰的鹽水溶液中100h，再通過(guò)測(cè)量水煮后芯棒短樣的泄漏電流來(lái)考察界面質(zhì)量。

中國(guó)專(zhuān)利CN106123952A公開(kāi)了一種絕緣子界面質(zhì)量的檢測(cè)方法和裝置，檢測(cè)方法包括檢測(cè)絕緣子在單位面積上的分離功，測(cè)量絕緣子和芯棒的泄漏電流，進(jìn)一步獲取絕緣子的界面泄漏電流確定絕緣子的界面質(zhì)量。

中國(guó)專(zhuān)利CN102507731A公開(kāi)了一種復(fù)合絕緣子界面缺陷檢測(cè)方法，該檢測(cè)方法對(duì)復(fù)合絕緣子進(jìn)行水煮后測(cè)量泄漏電流的試驗(yàn)，再根據(jù)測(cè)得的直流電壓和相應(yīng)泄漏電流數(shù)據(jù)進(jìn)行冪函數(shù)擬合，根據(jù)擬合結(jié)果判定復(fù)合絕緣子的界面缺陷，采用特征系數(shù)比值或特征指數(shù)變化率進(jìn)行判別界面缺陷。

現(xiàn)有技術(shù)通過(guò)測(cè)試水煮后復(fù)合絕緣子短樣的泄漏電流，通過(guò)高溫水煮的方法來(lái)降低絕緣子的界面性能，通過(guò)泄漏電流大小考核界面的性能。由于絕緣子的界面劣化實(shí)際上不僅存在水分侵蝕的作用，更多的是存在局部放電、鹽溶液腐蝕的過(guò)程，新的絕緣子樣品基本都能順利通過(guò)泄漏電流試驗(yàn)的檢測(cè)，但現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行中更多關(guān)注界面在長(zhǎng)期運(yùn)行下的性能老化特性，因此短時(shí)間的泄漏電流測(cè)量難以對(duì)界面的長(zhǎng)期老化性能進(jìn)行評(píng)判，現(xiàn)有技術(shù)對(duì)復(fù)合絕緣子界面的性能考察存在不準(zhǔn)確性。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提供了一種基于高電壓和鹽溶液評(píng)價(jià)復(fù)合絕緣子界面性能的方法，用于解決現(xiàn)有技術(shù)檢測(cè)復(fù)合絕緣子界面性能時(shí)沒(méi)有實(shí)際復(fù)合絕緣子考慮劣化過(guò)程中存在局部放電、鹽溶液腐蝕的問(wèn)題。

本發(fā)明提供了一種基于高電壓和鹽溶液評(píng)價(jià)復(fù)合絕緣子界面性能的方法，包括：

將復(fù)合絕緣子短樣品與泄漏電流測(cè)量裝置串聯(lián)后與高壓電源形成回路，再在所述復(fù)合絕緣子短樣品的第一端滴加鹽溶液6～12h，并同時(shí)通過(guò)所述泄漏電流檢測(cè)裝置檢測(cè)所述復(fù)合絕緣子短樣品的泄漏電流；

對(duì)所述泄漏電流檢測(cè)裝置檢測(cè)的所有泄漏電流進(jìn)行判斷，若所述所有泄漏電流不大于預(yù)置電流值，則所述復(fù)合絕緣子短樣品的界面合格。

優(yōu)選的，將復(fù)合絕緣子短樣品與泄漏電流測(cè)量裝置串聯(lián)后與高壓電源形成回路，再在所述復(fù)合絕緣子短樣品的第一端滴加鹽溶液6～12h，并同時(shí)通過(guò)所述泄漏電流檢測(cè)裝置檢測(cè)所述復(fù)合絕緣子短樣品的泄漏電流之前還包括：

將所述復(fù)合絕緣子短樣品傾斜放置；