[發明專利]一種圖像壞點校正方法及裝置

在審

• 申請號: 201710976159.0
• 申請日: 2017-10-19
• 公開（公告）號: CN107800980A
• 公開（公告）日: 2018-03-13
• 發明（設計）人: 凌晨;張旦;馬鑫;方偉
• 申請（專利權）人: 浙江大華技術股份有限公司
• 主分類號: H04N5/367
• 分類號: H04N5/367;H04N17/00
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司11291
• 代理人: 黃志華

1.一種圖像壞點校正方法，其特征在于，包括：

針對待檢測圖像，電子設備以所述待檢測圖像中的第f個像素點為中心像素點建立N*N像素矩陣；所述f為取遍不大于所述待檢測圖像包括的像素點總數的正整數；所述N為大于1的奇數；

所述電子設備將內圈和外圈的每個像素點的顏色分別轉換為所述中心像素點的顏色，并分別確定所述每個像素點轉換后的像素值；所述內圈為所述N*N像素矩陣中與所述中心像素點相鄰的a個像素點；所述外圈為所述N*N像素矩陣中與所述中心像素點間隔一行和/或間隔一列的b個像素點；所述a，b均為大于1的整數；

所述電子設備基于所述每個像素點轉換后的像素值確定所述中心像素點為壞點，并對所述中心像素點進行校正。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述電子設備將內圈和外圈的每個像素點的顏色分別轉換為所述中心像素點的顏色，并分別確定所述每個像素點轉換后的像素值，包括：

所述電子設備分別確定所述每個像素點的U色差值以及V色差值；

所述電子設備基于所述每個像素點的U色差值確定U色差值均值，并基于所述每個像素點的V色差值確定V色差值均值；

針對所述內圈和所述外圈中的每個異色像素點，所述電子設備基于所述每個異色像素點的像素值、所述U色差值均值以及所述V色差值均值確定所述每個異色像素點轉換后的像素值；所述異色像素點為所述待檢測圖像中與所述中心像素點顏色不同的像素點。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述電子設備基于所述每個像素點轉換后的像素值確定所述中心像素點為壞點，并對所述中心像素點進行校正，包括：

所述電子設備確定所述內圈和所述外圈中各個像素點轉換后的像素值中的最大值，并在確定所述中心像素點的像素值大于所述最大值，且所述中心像素點的像素值與所述最大值間的差值大于第一閾值時，確定所述中心像素點為壞點；

所述電子設備確定至少一個像素對，并分別確定所述至少一個像素對中像素值差值最小的像素對；所述像素對由所述外圈中的與所述中心像素點顏色相同、且以所述中心像素點為對稱點對稱的兩個像素點的像素值所組成；

所述電子設備將所述中心像素點的像素值校正為所述像素值差值最小的像素對中的較大值。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述電子設備基于所述每個像素點轉換后的像素值確定所述中心像素點為壞點，并對所述中心像素點進行校正，包括：

所述電子設備確定所述內圈和所述外圈中各個像素點轉換后的像素值中的最小值，并在確定所述中心像素點的像素值小于所述最小值，且所述中心像素點的像素值與所述最小值間的差值大于第二閾值時，確定所述中心像素點為壞點；

所述電子設備確定至少一個像素對，并分別確定所述至少一個像素對中像素值差值最小的像素對；所述像素對由所述外圈中的與所述中心像素點顏色相同、且以所述中心像素點為對稱點對稱的兩個像素點的像素值所組成；

所述電子設備將所述中心像素點的像素值校正為所述像素值差值最小的像素對中的較小值。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述電子設備將內圈和外圈的每個像素點的顏色分別轉換為所述中心像素點的顏色，并分別確定所述每個像素點轉換后的像素值之前，所述方法還包括：

所述電子設備在確定第一像素點的像素值與第二像素點的像素值間的差值大于第三閾值時，將所述第一像素點的像素值修改為所述第二像素點的像素值；所述第一像素點為所述外圈中與所述中心像素點顏色相同且像素值最大的像素點；所述第二像素點為所述外圈中與所述中心像素點顏色相同且像素值次大的像素點；或者

所述電子設備在確定第三像素點的像素值與第四像素點的像素值間的差值大于第四閾值時，將所述第三像素點的像素值修改為所述第四像素點的像素值；所述第三像素點為所述外圈中與所述中心像素點顏色相同且像素值最小的像素點；所述第四像素點為所述外圈中與所述中心像素點顏色相同且像素值次小的像素點。