[發明專利]一種鼠籠形密封圈老化試驗裝置

在審

• 申請號: 201710973208.5
• 申請日: 2017-10-18
• 公開（公告）號: CN107643170A
• 公開（公告）日: 2018-01-30
• 發明（設計）人: 楊蕓;王國利;高超
• 申請（專利權）人: 南方電網科學研究院有限責任公司
• 主分類號: G01M13/00
• 分類號: G01M13/00
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司11274
• 代理人: 申健

技術領域

本發明涉及密封圈老化試驗裝置領域，尤其涉及一種鼠籠形密封 圈老化試驗裝置。

背景技術

在高壓電輸送技術中，常采用氣體絕緣封閉組合電器(即GIS， Gas Insulated Switchgear)中的六氟化硫(即SF₆)作為絕緣和滅弧介 質，將高壓電器與外界隔絕。氣體絕緣封閉組合電器中充有一定壓力 的六氟化硫，通過法蘭盤夾緊，并在法蘭盤之間設置密封圈結構將其 密封。因密封圈在長時間使用過程中，會因老化而密封失效，導致六 氟化硫泄漏的問題。

現有技術中測量密封圈老化的試驗裝置包括兩個法蘭盤，在其中 一個法蘭盤上開設安裝槽，將密封圈裝在安裝槽內，再將兩個法蘭盤 夾緊，最后將其放入烘箱內，間隔一段時間將其取出測量密封圈的性 能變化，最后通過阿累尼烏斯圖方法分析測量結果，從而獲得密封圈 的使用壽命。

因上述測量過程中，密封圈的測量裝置均處于常壓狀態下，與氣 體絕緣全封閉組合電器中密封圈的使用環境不同。因此，無法準確測 量出應用于氣體絕緣封閉組合電器中密封圈的使用壽命。

發明內容

本發明的實施例提供一種鼠籠形密封圈老化試驗裝置，可解決現 有技術中無法準確測量出密封圈在氣體壓力下的使用壽命的問題。

為達到上述目的，本發明的實施例采用如下技術方案：

一種鼠籠形密封圈老化試驗裝置，包括兩個法蘭蓋，兩個所述法 蘭蓋之間設有至少一個法蘭盤，所述法蘭盤的外徑小于所述法蘭蓋的 外徑，所述法蘭盤的上表面和/或下表面沿周向設有用于裝設密封圈 的安裝槽，兩個所述法蘭蓋沿外周相互連接，可使所述法蘭蓋壓緊所 述法蘭盤以在所述法蘭盤內形成封閉的空腔，所述法蘭蓋上開設有充 氣孔，所述充氣孔連接有充氣裝置。

進一步地，所述法蘭盤有多個，相鄰兩個所述法蘭盤通過沉頭螺 釘連接。

進一步地，每個所述法蘭盤上均包括用于與所述沉頭螺釘的頭部 和中部配合的階梯孔，以及用于與所述沉頭螺釘的尾部配合的盲孔， 所述階梯孔上直徑較大的一端與所述盲孔上開口的一端位于所述法 蘭盤的同一表面，位于上一層的所述法蘭盤上的所述階梯孔與位于下 一層的所述法蘭盤上的所述盲孔相對設置，多個所述法蘭盤上的階梯 孔形狀和大小相同，且多個所述法蘭盤上的盲孔形狀和大小相同。

進一步地，所述法蘭盤上還設有通孔，所述通孔的直徑大于所述 階梯孔的最大直徑，位于上一層的所述法蘭盤上的所述通孔與位于下 一層的所述法蘭盤上的所述階梯孔相對設置。

進一步地，所述法蘭盤上的所述階梯孔、所述盲孔以及所述通孔 均為多個，且沿所述法蘭盤的周向均勻間隔設置。

進一步地，每個所述法蘭盤上的所述階梯孔、所述盲孔以及所述 通孔的數量相等，位于上一層的所述法蘭盤上所述階梯孔與位于下一 層的所述法蘭盤上的所述盲孔一一相對設置，位于上一層的所述法蘭 盤上所述通孔與位于下一層的所述法蘭盤上的所述階梯孔一一相對 設置。

進一步地，所述法蘭蓋上靠近所述法蘭盤的表面沿周向設有用于 裝設密封圈的安裝槽。

進一步地，所述安裝槽的截面為方形。

進一步地，所述充氣孔還連接有氣壓測定裝置。

進一步地，所述充氣孔處設有密封蓋。

本發明實施例提供的鼠籠形密封圈老化試驗裝置，可將密封圈安 裝在法蘭盤上的安裝槽內，再通過連接兩個法蘭蓋將法蘭盤壓緊，使 法蘭盤內形成密封的空腔，再采用充氣裝置經充氣孔將氣體充入空腔 內，使得在測量過程中法蘭盤之間或法蘭盤與法蘭蓋之間的密封圈處 于一定的氣體壓力下。該試驗環境與氣體絕緣封閉組合電器中的密封 圈的工作環境相同，使得試驗測量出密封圈性能變化的數據結果與工 作環境更接近，從而根據該密封圈性能變化的數據結果能夠更準確的 推算出密封圈的使用壽命。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面 將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而 易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域 普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些 附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明實施例鼠籠形密封圈老化試驗裝置的結構示意圖；

圖2為圖1的A-A截面圖；

圖3為本發明實施例中鼠籠形密封圈老化試驗裝置中法蘭盤的 結構示意圖；

圖4為圖3的B-B截面圖；

圖5為圖3的C-C截面圖。

具體實施方式