[發(fā)明專利]一種測量RFID標(biāo)簽耦合性能參數(shù)的方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710972735.4
• 申請日: 2017-10-18
• 公開（公告）號(hào): CN107863992B
• 公開（公告）日: 2021-08-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 韓冬桂;李達(dá);燕怒;劉芳;李紅軍;朱鑫
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢紡織大學(xué)
• 主分類號(hào): H04B5/00
• 分類號(hào): H04B5/00
• 代理公司: 武漢泰山北斗專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 42250
• 代理人: 程千慧

1.一種測量RFID標(biāo)簽耦合性能參數(shù)的方法，其特征在于，通過改變目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的距離、目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的角度或RFID讀寫裝置的發(fā)射角度這三個(gè)參數(shù)，測量目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的距離、目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的角度以及RFID讀寫裝置的發(fā)射角度對目標(biāo)標(biāo)簽的最小讀取功率值的影響，還包括測量目標(biāo)標(biāo)簽和多個(gè)干擾標(biāo)簽堆疊下的耦合性能參數(shù)的方法，具體步驟為：

步驟S4.1、將目標(biāo)標(biāo)簽和多個(gè)干擾標(biāo)簽分別放置于實(shí)驗(yàn)臺(tái)上，再將放置了標(biāo)簽的實(shí)驗(yàn)臺(tái)堆成一摞且將放置了目標(biāo)標(biāo)簽的實(shí)驗(yàn)臺(tái)置于最上端，并在實(shí)驗(yàn)臺(tái)的側(cè)面安裝RFID讀寫裝置；

步驟S4.2、測量目標(biāo)標(biāo)簽的堆疊下的第一最小讀取功率值，以及利用RFID讀寫裝置實(shí)際測得的標(biāo)簽數(shù)目和實(shí)際存在的標(biāo)簽數(shù)目之比測量堆疊下的第一讀取率；

步驟S4.3、改變RFID讀寫裝置的發(fā)射角度且RFID讀寫裝置位于實(shí)驗(yàn)臺(tái)的側(cè)面，重復(fù)步驟S4.2，得到堆疊下的第二最小讀取功率值和堆疊下的第二讀取率；

步驟S4.4、重復(fù)步驟S4.3，得到一組不同位置的堆疊下的最小讀取功率值以及堆疊下的讀取率。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量RFID標(biāo)簽耦合性能參數(shù)的方法，其特征在于，測量目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的角度對目標(biāo)標(biāo)簽的最小讀取功率值的影響的方法具體包括以下步驟：

步驟S1.1、放置目標(biāo)標(biāo)簽、干擾標(biāo)簽和RFID讀寫裝置，確定目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的距離、角度以及RFID讀寫裝置的發(fā)射角度；

步驟S1.2、測量目標(biāo)標(biāo)簽的第一角度最小讀取功率值；

步驟S1.3、移動(dòng)干擾標(biāo)簽，保持目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的距離不變，改變目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽的角度，重復(fù)步驟S1.2，得到第二角度最小讀取功率值；

步驟S1.4、重復(fù)步驟S1.3，得到第一組不同目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽的角度對應(yīng)的最小讀取功率值；

步驟S1.5、改變目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的距離和RFID讀寫裝置的發(fā)射角度后，重復(fù)步驟S1.2-步驟S1.4，得到第二組不同目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽的角度對應(yīng)最小讀取功率值；

步驟S1.6、重復(fù)步驟S1.5，得到多組不同目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽的角度對應(yīng)最小讀取功率值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量RFID標(biāo)簽耦合性能參數(shù)的方法，其特征在于，測量目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的距離對目標(biāo)標(biāo)簽的最小讀取功率值的影響的方法具體包括以下步驟：

步驟S2.1、放置目標(biāo)標(biāo)簽、干擾標(biāo)簽和RFID讀寫裝置，確定目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的距離、角度以及RFID讀寫裝置的發(fā)射角度；

步驟S2.2、測量目標(biāo)標(biāo)簽的第一距離最小讀取功率值；

步驟S2.3、移動(dòng)干擾標(biāo)簽，保持目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的角度不變，改變目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽的距離，重復(fù)步驟S2.2，得到第二距離最小讀取功率值；

步驟S2.4、重復(fù)步驟S2.3，得到第一組不同目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽的距離對應(yīng)的最小讀取功率值；

步驟S2.5、改變目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的角度和RFID讀寫裝置的發(fā)射角度后，重復(fù)步驟S2.2-步驟S2.4，得到第二組不同目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽的距離對應(yīng)最小讀取功率值；

步驟S2.6、重復(fù)步驟S2.5，得到多組不同目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽的距離對應(yīng)最小讀取功率值。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量RFID標(biāo)簽耦合性能參數(shù)的方法，其特征在于，測量RFID讀寫裝置的發(fā)射角度對目標(biāo)標(biāo)簽的最小讀取功率值的影響的方法具體包括以下步驟：

步驟S3.1、放置目標(biāo)標(biāo)簽、干擾標(biāo)簽和RFID讀寫裝置，確定目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的距離、角度以及RFID讀寫裝置的發(fā)射角度；

步驟S3.2、測量目標(biāo)標(biāo)簽的第一位置最小讀取功率值；

步驟S3.3、保持目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的距離和角度不變，移動(dòng)RFID讀寫裝置，改變RFID讀寫裝置的發(fā)射角度，重復(fù)步驟S3.2，得到第二位置最小讀取功率值；

步驟S3.4、重復(fù)步驟S3.3，得到第一組不同RFID讀寫裝置的發(fā)射角度對應(yīng)的最小讀取功率值；

步驟S3.5、改變目標(biāo)標(biāo)簽和干擾標(biāo)簽之間的距離和角度后，重復(fù)步驟S3.2-步驟S3.4，得到第二組不同RFID讀寫裝置的發(fā)射角度對應(yīng)的最小讀取功率值；

步驟S3.6、重復(fù)步驟S3.5，得到多組不同RFID讀寫裝置的發(fā)射角度對應(yīng)的最小讀取功率值。