[發(fā)明專利]用于測試高壓電容式套管組合件的電流連接的方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710971649.1
• 申請日: 2017-10-18
• 公開（公告）號: CN107957529B
• 公開（公告）日: 2021-12-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: M.W.斯圖德;T.舒伊特
• 申請（專利權(quán)）人: 日立能源瑞士股份公司
• 主分類號: G01R31/68
• 分類號: G01R31/68
• 代理公司: 北京市漢坤律師事務(wù)所 11602
• 代理人: 王其文;張濤

1.一種用于測試高壓電容式套管組合件(100)的第一端子(110、120、220、410)與傳導層(152、252、450)之間的電流連接(10a、10b、10c、10)的質(zhì)量的方法，所述方法包含：

提供電容性測試電路(400)，其中，所述電容性測試電路包含所述第一端子、AC功率源(460)和測量單元(470)；

由所述AC功率源來提供所述電容性測試電路中的第一測試電流(430)，其中，所述第一測試電流是在10kHz或更高的第一測試頻率(432)下的AC電流；

由所述測量單元來測量指示所述電流連接的電阻的測試參數(shù)；以及

從所測量的測試參數(shù)來確定所述電流連接的質(zhì)量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述電流連接包含焊接式接觸(310)，其中，所述方法包含確定所述焊接式接觸的質(zhì)量。

3.根據(jù)權(quán)利要求1-2中的任一項所述的方法，其中，所述AC功率源具有50V_AC或更低的操作電壓(530)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-2中的任一項所述的方法，其中，所述第一測試電流是0.1A_AC或更高。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-2中的任一項所述的方法，其中，所述第一測試電流具有配置成破壞有缺陷的電流連接的幅值，其中，所述方法進一步包含：

確定所述電流連接是否被所述第一測試電流破壞。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-2中的任一項所述的方法，其中，所述測試參數(shù)指示所述電容性測試電路的有效容量，其中，所述方法進一步包含：

將所測量的測試參數(shù)與指示閾限容量的預定的閾值比較；

如果所測量的測試參數(shù)比所述預定的閾值小，則確定所述電流連接是有缺陷的；以及

如果所測量的測試參數(shù)大于或等于所述預定的閾值，則確定所述電流連接是無缺陷的。

7.根據(jù)權(quán)利要求1-2中的任一項所述的方法，其中，所述第一端子是所述高壓電容式套管組合件的安裝法蘭(110)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-2中的任一項所述的方法，其中，所述電容性測試電路包含所述高壓電容式套管組合件的第二端子，其中，所述第二端子是所述高壓電容式套管組合件的電壓分接頭(120、220)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中，在所述電容性測試電路中，所述AC功率源和/或所述測量單元被串聯(lián)地布置于所述第一端子與所述第二端子之間。

10.根據(jù)權(quán)利要求1-2中的任一項所述的方法，其中，測量所述測試參數(shù)包含執(zhí)行C2測量，所述C2測量涉及測量所述高壓電容式套管組合件(100)的兩個傳導層之間的電容值。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中，所述C2測量涉及測量所述高壓電容式套管組合件(100)的第二最外傳導層與最外傳導層之間的電容值。

12.根據(jù)權(quán)利要求1-2中的任一項所述的方法，其中，所述測試參數(shù)包含下列中的至少一個：

在所述電容性測試電路中流動的電流；

所述電容性測試電路中的電壓降；

所述電容性測試電路的電容；

所述電容性測試電路的阻抗；以及

所述電容性測試電路的諧振頻率。

13.根據(jù)權(quán)利要求1-2中的任一項所述的方法，其中，所述電容性測試電路進一步包含電感，其中，所述第一測試頻率是與所述電容性測試電路的諧振頻率相差不超過10％的頻率。