[發明專利]一種運算放大器校準方法及電路

在審

• 申請號: 201710971607.8
• 申請日: 2017-10-18
• 公開（公告）號: CN107769737A
• 公開（公告）日: 2018-03-06
• 發明（設計）人: 黃碩;荀本鵬;由德強;文學
• 申請（專利權）人: 上海芯北電子科技有限公司
• 主分類號: H03F1/34
• 分類號: H03F1/34;H03F3/45
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所(普通合伙)31251
• 代理人: 郭桂峰

1.一種運算放大器校準方法，其特征在于，包括：

步驟S100運算放大器獲取輸入第一信號和第二信號，并進行放大處理得到對應的輸出第三信號和第四信號；

步驟S200濾波電路將所述運算放大器輸出的所述第三信號和所述第四信號進行濾波處理，并輸入至比較器；

步驟S300所述比較器根據接收的濾波處理后的所述第三信號和所述第四信號生成反饋調整信號，并反饋至所述運算放大器；

步驟S400所述運算放大器根據接收的所述反饋調整信號與所述運算放大器中的預設信號進行均衡處理，控制所述運算放大器輸出的所述第三信號和所述第四信號。

2.根據權利要求1所述的運算放大器校準方法，其特征在于，步驟S300包括：

步驟S310所述比較器將接收的濾波處理后的所述第三信號和所述第四信號進行比較；

步驟S320當所述第三信號大于所述第四信號時，比較器輸出第一電平信號；

步驟S330當所述第三信號小于等于所述第四信號時，比較器輸出第二電平信號；

步驟S340所述比較器根據所述第一電平信號和所述第二電平信號生成所述反饋調整信號，并反饋至所述運算放大器。

3.根據權利要求1所述的運算放大器校準方法，其特征在于，步驟S400包括：

步驟S410所述運算放大器接收的所述反饋調整信號反饋至所述運算放大器中的第一差分對晶體管M2的襯底；

步驟S420所述運算放大器中的預設信號連接至所述運算放大器中的第一差分對晶體管M1的襯底；

步驟S430所述運算放大器將所述第一差分對晶體管M1和M2的襯底進行均衡處理，控制所述運算放大器輸出的所述第三信號和所述第四信號。

4.一種應用于權利要求1-3任一所述的運算放大器校準方法的運算放大器校準電路，其特征在于，包括：

運算放大器、比較器、濾波電路；

所述運算放大器用于獲取輸入端第一信號和第二信號，并進行放大處理得到對應的輸出端第三信號和第四信號；

所述濾波電路用于將所述運算放大器輸出端輸出的第三信號和第四信號進行濾波處理，并輸入至所述比較器；

所述比較器用于根據接收的濾波處理后的所述第三信號和所述第四信號生成反饋調整信號，并反饋至所述運算放大器；

所述運算放大器還用于根據接收的所述反饋調整信號與所述運算放大器中的預設信號進行均衡處理，控制所述運算放大器輸出端輸出的所述第三信號和所述第四信號。

5.根據權利要求4所述的運算放大器校準電路，其特征在于，包括：

所述比較器還用于將接收的濾波處理后的所述第三信號和所述第四信號進行比較；

所述比較器還用于當所述第三信號大于所述第四信號時，輸出第一電平信號；

所述比較器還用于當所述第三信號小于等于所述第四信號時，輸出第二電平信號；

所述比較器還用于根據所述第一電平信號和所述第二電平信號生成所述反饋調整信號，并反饋至所述運算放大器。

6.根據權利要求4或5任一所述的運算放大器校準電路，其特征在于，所述運算放大器包括：

第一差分對晶體管M1和M2、動態負載；

所述運算放大器輸入端第一信號與所述第一差分對晶體管M2的柵極電連接；

所述第一差分對晶體管M2的漏極與所述動態負載電連接；

濾波處理后的所述反饋調整信號與所述第一差分對晶體管M2的襯底端電連接；

所述運算放大器輸入端第二信號與所述第一差分對晶體管M1的柵極電連接；

所述第一差分對晶體管M1的漏極與所述動態負載電連接；

所述運算放大器中的預設信號與所述第一差分對晶體管M1的襯底端電連接；

所述動態負載分別與所述運算放大器輸出端第三信號和第四信號電連接。

7.根據權利要求6所述的運算放大器校準電路，其特征在于，所述動態負載包括：

第二差分對晶體管M3和M4；

所述第二差分對晶體管M4的漏極與所述第一差分對晶體管M2的漏極共同與所述運算放大器輸出端第三信號電連接；

所述第二差分對晶體管M3的漏極與所述第一差分對晶體管M1的漏極共同與所述運算放大器輸出端第四信號電連接。