[發(fā)明專利]一種光學(xué)測試系統(tǒng)和測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710969786.1 | 申請日: | 2017-10-18 |
| 公開(公告)號: | CN107884368B | 公開(公告)日: | 2020-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曹勇 | 申請(專利權(quán))人: | 湖南文理學(xué)院 |
| 主分類號: | G01N21/59 | 分類號: | G01N21/59;G01N21/55 |
| 代理公司: | 北京風(fēng)雅頌專利代理有限公司 11403 | 代理人: | 曾志鵬 |
| 地址: | 415000 湖南*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光學(xué) 測試 系統(tǒng) 方法 | ||
本發(fā)明為一種光學(xué)測試系統(tǒng)和測試方法,包括底座、光輸入單元、積分球和反射率檢測室,所述光輸入單元包括輸入口、依次位于輸入口后的輸入光調(diào)制器、分光鏡和光輸出口,還包括用于探測分光鏡分出的光的輸入光探測器,所述積分球設(shè)有輸入孔、輸出孔Ⅰ和輸出孔Ⅱ,所述輸出孔Ⅱ?qū)?yīng)安裝有輸出光探測器,所述反射率檢測室包括固定架和覆蓋在固定架周邊的遮光罩,所述固定架設(shè)置有用于固定樣品支撐架的固定槽和用于光線穿過的光學(xué)窗,所述樣品支撐架內(nèi)設(shè)置有待測品,所述遮光罩不遮擋光學(xué)窗;本發(fā)明所述設(shè)備結(jié)構(gòu)簡單、成本低,且測試方法方便快捷,適用于所有能用透過率、反射率參數(shù)表征的樣品,不限樣品的狀態(tài),因此適用范圍廣。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光學(xué)測試領(lǐng)域,具體是涉及到一種光學(xué)測試系統(tǒng)和測試方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的測試透射、反射率的方式是,制備樣品后,將樣品從溶液中取出,加載到測試儀上測試,存在將樣品轉(zhuǎn)移的過程,特別是在測試一些反應(yīng)時間對樣品透過率、反射率影響的試驗中,需要先制備不同反應(yīng)時間的樣品,再進行測試。反應(yīng)時間不同的同一系列樣品需要制備多個,導(dǎo)致浪費樣品制備時間和試劑成本。而且不同的樣品之間可能存在試劑品質(zhì)、用量和樣品自身的差異,使實驗的不確定性增加。
申請?zhí)枮?01310498479.1的發(fā)明專利公開了一種用于光學(xué)系統(tǒng)鏡片透過率和反射率檢測的新系統(tǒng),其工作原理為,白光光源發(fā)出的光線進入單色儀中,出射的單色光譜經(jīng)球面反射鏡形成平行光,經(jīng)過旋轉(zhuǎn)反射鏡分光調(diào)制,將連續(xù)光輻射分成兩路交變光脈沖,一路作為參考光束,另一路作為測量光束,再經(jīng)過聚光鏡耦合注入光纖。兩束光交替進入積分球,經(jīng)探測器轉(zhuǎn)換輸出兩路交替變化的交變電信號,此信號經(jīng)過信號分揀、鎖相放大、A/D轉(zhuǎn)換處理后,最終得到被試品的白光或光譜的透過率和反射率。但是在該測試系統(tǒng)中,測試樣品被放置在積分球內(nèi),這就限制了樣品的狀態(tài),不便于測試液態(tài)樣品。此外,該測試系統(tǒng)中不含有遮光配件,為了排除外界光的影響,需要在暗室中或者暗箱中使用,且該檢測系統(tǒng)的積分球和探測器的數(shù)量均較多,會帶來成本的上升。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種結(jié)構(gòu)簡單、成本低的反射率、透過率測試系統(tǒng),及一種方便快捷的測試方法。
本發(fā)明提供的光學(xué)測試系統(tǒng),包括底座和依次固定在底座上的通過同一束光線的光輸入單元、積分球和反射率檢測室,所述光輸入單元包括輸入口、依次位于輸入口后的輸入光調(diào)制器、分光鏡和光輸出口,還包括用于探測分光鏡分出的光的輸入光探測器,所述積分球設(shè)有輸入孔、輸出孔Ⅰ和輸出孔Ⅱ,所述輸出孔Ⅱ?qū)?yīng)安裝有輸出光探測器,所述反射率檢測室包括固定架和覆蓋在固定架周邊的遮光罩,所述固定架設(shè)置有用于固定樣品支撐架的固定槽和用于光線穿過的光學(xué)窗,所述樣品支撐架內(nèi)設(shè)置有待測品,所述遮光罩不遮擋光學(xué)窗。
所述遮光罩包括覆蓋在固定架的左、右和上方的三塊平板,三塊平板的端部覆蓋有遮光板。
所述光輸入單元和積分球之間還設(shè)置有透過率檢測室,所述透過率檢測室包括固定架和覆蓋在固定架上的遮光罩。
所述光學(xué)窗的面積與遮光板相同,或者小于遮光板的面積。
所述固定架和光學(xué)窗采用同一種材料制成,所述材料為玻璃、石英或晶體硅。
所述固定架和光學(xué)窗采用不同材料制成,光學(xué)窗的材料為石英,固定架的材料為聚四氟乙烯。
所述遮光罩邊緣設(shè)置有遮光墊。
所述底座下部固定有支撐腳,所述支撐腳高度可調(diào)節(jié),且支撐腳的數(shù)量至少有4個。
一種應(yīng)用所述光學(xué)測試系統(tǒng)的測試方法,為測試待測樣品的反射率,包括兩個步驟,先進行背景測試,再進行樣品測試:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于湖南文理學(xué)院,未經(jīng)湖南文理學(xué)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710969786.1/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





