[發(fā)明專利]基于S2method時頻分析的目標極點特征提取與檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710967076.5 | 申請日： | 2017-10-17 |
| 公開（公告）號： | CN107976659A | 公開（公告）日： | 2018-05-01 |
| 發(fā)明（設計）人： | 李亞軍;郭冬梅;郭良帥;王卓群;武俊強;王樹文 | 申請（專利權）人： | 上海無線電設備研究所 |
| 主分類號： | G01S7/41 | 分類號： | G01S7/41 |
| 代理公司： | 上海信好專利代理事務所(普通合伙)31249 | 代理人： | 朱成之 |
| 地址： | 200090 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 s2method 分析 目標 極點 特征 提取 檢測 方法 | ||
1.一種基于S2-method時頻分析的目標極點特征提取與檢測方法，其特征在于，包含以下步驟：
S1、生成并發(fā)射窄脈沖基帶信號，得到目標的多方位時域窄脈沖回波信號；
S2、利用S2-method時頻分析方法，得到目標的多方位時域窄脈沖回波信號的時頻域信息，并從中提取不同時間點的最大極點信息；
S3、利用多方位合成技術得到不同方位角度下的回波信號；
S4、利用時間反轉技術將S3中得到的不同方位角度下的回波信號進行時間反轉，并發(fā)射出去以獲得匹配回波信號；
S5、在噪聲和干擾情況下，利用匹配回波信號完成對弱小目標的有效檢測。
2.如權利要求1所述的基于S2-method時頻分析的目標極點特征提取與檢測方法，其特征在于，所述的S1中，位于高頻區(qū)的目標的各散射中心是理想的點目標，目標模型表示為：
式中，ai、Ti為散射中心的強度和時延；t為時間；δ為沖擊響應函數(shù)；θ為目標姿態(tài)角；N為散射中心數(shù)目。
3.如權利要求1所述的基于S2-method時頻分析的目標極點特征提取與檢測方法，其特征在于，所述的S2中，定義離散信號x(n)的S-method分布為：
其中，k為頻率序號；n為時間序列；N+1為離散信號x(n)的長度；L為S-method分布的計算項數(shù)；STFT(n,k)表示離散信號x(n)的短時傅里葉變換；STFT*(n,k)表示STFT(n,k)的共軛。
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