[發明專利]一種同時測量多個微波信號頻率的裝置有效
| 申請號: | 201710965963.9 | 申請日: | 2017-10-17 |
| 公開(公告)號: | CN107765086B | 公開(公告)日: | 2023-07-07 |
| 發明(設計)人: | 張華林 | 申請(專利權)人: | 閩南師范大學 |
| 主分類號: | G01R23/06 | 分類號: | G01R23/06 |
| 代理公司: | 廈門市首創君合專利事務所有限公司 35204 | 代理人: | 連耀忠 |
| 地址: | 363000 福*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 同時 測量 微波 信號 頻率 裝置 | ||
本發明公開了一種同時測量多個微波信號頻率的裝置,通過調制器及濾波器獲得包括待測微波信號頻率的上邊帶光信號,并發送給色散位移光纖,當色散位移光纖兩端輸入的激光信號頻率差為布里淵頻移時,對應的單頻激光器輸出激光信號的部分能量轉移到上邊帶光信號上;數據處理器測出不加待測微波信號時低頻光電探測器的輸出電流以及加入待測微波信號時低頻光電探測器的輸出電流,并比較電流大小,若加入待測微波信號時低頻光電探測器的輸出電流變大,則待測微波信號中包含對應頻率的微波信號,若不變或變小,則不包含對應頻率的微波信號。本發明不僅可瞬時測量多個微波頻率,而且測量頻率范圍寬,測量分辨率高達0.1GHz。
技術領域
本發明涉及微波頻率測量技術領域,具體涉及一種同時測量多個微波信號頻率的裝置。
背景技術
目前,光輔助法微波頻率測量因大帶寬、抗電磁干擾、低損耗和小體積而成為研究熱點。常見的頻率-微波功率映射型和頻率-光功率映射型適用于測量僅包含單個頻率的微波信號。但在各種不同頻率交錯存在的復雜電磁環境下,需要同時測量多個微波信號的頻率。已有的光輔助法同時測量多個微波頻率有頻率-空間映射型、頻率-時域映射型,其測量精度低于1GHz。
近幾年,瞬時微波頻率測量相關文獻有數十篇,然而基本上是瞬時測量單個微波頻率的。文獻[1-5]提出了同時測量多個微波頻率的方案。文獻[1]采用不同長度的波導延時線在1-16GHz實現了分辨率1GHz的多個微波頻率的同時測量;文獻[2]采用自由空間衍射光柵在100GHz實現了分辨率1GHz的多個微波頻率的同時測量;文獻[3]采用相移光纖光柵陣列在2-18GHz實現了分辨率2GHz的多個微波頻率的同時測量;文獻[4]采用法布里-珀羅校準具在1-23GHz實現了分辨率2GHz的多個微波頻率的同時測量;文獻[5]應用高色散系數的啁啾光纖光柵將微波信號調制而生成的正負一階光邊帶的頻率間隔轉換為光功率時域分布上的變化,分析光功率的時域分布情況得到待測的一個或多個微波信號頻率,該方案測量誤差達1.6GHz。
參考文獻:
[1]Heaton.J.M.,Watson.C.D.,Jones.S.B.,Bourke.M.M.,Boyne.C.M.,Smith.G.W.,and?Wight.D.R.16-channel(1-to?16-GHz)microwave?spectrum?analyzerdevice?based?on?a?phased?array?of?GaAs/AlGaAs?electro-optic?waveguide?delaylines.in?Proc.SPIE?1998,3278,245-251.
[2]Wang.W.S.,Davis.R.L.,Jung.T.J.,Lodenkamper.R.,Lembo.L.J.,Brock.J.C.,and?Wu.M.C.Characterization?of?a?coherent?optical?RF?channelizerbased?on?a?diffraction?grating.IEEE?Trans.Microw.Theory?Tech.2001,49,1996-2001.
[3]Hunter.D.B.,Edvell.L.G.,and?Englund.M.A.Wideband?MicrowavePhotonic?Channelised?Receiver.Proc.MWP?2005?2005,249-252.
[4]Winnall.S.T.,Lindsay.A.C.,Austin.M.W.,Canning.J.,and?Mitchell.A.Amicrowave?channelizer?and?spectroscope?based?on?an?integrated?optical?Bragg-grating?Fabry-Perot?and?integrated?hybrid?fresnel?lens?system.IEEETrans.Microw.Theory?Tech.2006,54,868-872.
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