[發明專利]半導體工藝設備、涂覆設備及其排出裝置有效
| 申請號: | 201710964140.4 | 申請日: | 2017-10-17 |
| 公開(公告)號: | CN109671641B | 公開(公告)日: | 2022-11-11 |
| 發明(設計)人: | 林津民;王國華;李志洋;陳冠綸 | 申請(專利權)人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 南京正聯知識產權代理有限公司 32243 | 代理人: | 顧伯興 |
| 地址: | 中國臺灣新竹科*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 工藝設備 設備 及其 排出 裝置 | ||
一種半導體工藝設備,包括材料供應源、加工腔室、載臺、噴嘴、排出泵以及排出裝置。載臺位在加工腔室內,用以承載待加工物。噴嘴位在加工腔室內并且設置于待加工物的上方。此外,噴嘴連接材料供應源,用以提供材料到待加工物上。排出泵位在加工腔室外。排出裝置設置于載臺下方,幷且包括排出管、彎管以及蓋板。排出管連接加工腔室底部并且延伸至加工腔室外。彎管位在加工腔室外,并且連接于排出管與排出泵之間,其中彎管的側壁上具有清潔開口,用以暴露彎管內部。蓋板可拆卸地設置于清潔開口。涂覆設備及其排出裝置亦被提出。
技術領域
本發明實施例涉及一種半導體工藝設備、涂覆設備及其排出裝置。
背景技術
常見的半導體器件工藝包括通過蝕刻技術來形成圖案化的膜層。例如,先將光刻膠劑供應到半導體芯片(wafer)上,再對芯片上的光刻膠劑進行曝光以及顯影處理,以在芯片上形成圖案化光刻膠層。之后,以圖案化光刻膠層作為罩幕來對芯片進行蝕刻處理,而在芯片上形成圖案化的膜層。
在已知蝕刻技術的工藝中,通常采用旋涂法,藉由涂覆設備(COT)來將光刻膠均勻涂覆在芯片表面。此外,也可能藉由涂覆設備或是類似的設備在芯片上涂覆可能的材料層。已知的涂覆設備藉由真空吸附將芯片固定在例如載臺(mounting table)上,使芯片與載臺一起旋轉,并且藉由芯片上方的噴嘴將溶液滴落到芯片的中心部位,使芯片表面的溶液沿芯片的徑向方向向外漫延,以在芯片的整個表面上形成膜層。
此外,載臺下方還設有排出(exhaust)裝置。一般而言,排出裝置需要定期清潔,避免沉淀物累積。然而,由于排出裝置位在涂覆設備深處,不易拆卸,因此拆卸動作需耗費大量工時,增加制造成本。另外,若排出裝置清潔不徹底,將容易導致工藝缺陷。
發明內容
本發明實施例提供一種半導體工藝設備,包括材料供應源、加工腔室(processingchamber)、載臺、噴嘴、排出泵以及排出裝置。載臺位在加工腔室內,用以承載待加工物。噴嘴位在加工腔室內并且設置于待加工物的上方。此外,噴嘴連接材料供應源,用以提供材料到待加工物上。排出泵位在加工腔室外。排出裝置設置于載臺下方,并且包括排出管、彎管(trap)以及蓋板。排出管連接加工腔室底部并且延伸至加工腔室外。彎管位在加工腔室外,并且連接于排出管與排出泵之間,其中彎管的側壁上具有清潔開口,用以暴露彎管內部。蓋板可拆卸地設置于清潔開口。
本發明實施例提供一種涂覆設備,包括加工腔室、旋轉載臺、噴嘴以及排出裝置。旋轉載臺位在加工腔室內,用以承載并帶動待加工物旋轉。噴嘴位在加工腔室內并且設置于待加工物的上方。此外,噴嘴連接材料供應源,用以提供材料到待加工物上。排出裝置設置于載臺下方,并且包括排出管、彎管以及蓋板。排出管連接加工腔室底部并且延伸至加工腔室外。彎管位在加工腔室外,并且連接于排出管與外部的排出泵之間,其中彎管的側壁上具有清潔開口,用以暴露彎管內部。蓋板可拆卸地設置于清潔開口。
本發明實施例提供一種排出裝置,配置于半導體工藝設備的加工腔室下方。排出裝置包括排出管、彎管以及蓋板。排出管連接加工腔室底部并且延伸至加工腔室外。彎管位在加工腔室外,并且連接于排出管與一排出泵之間,其中彎管的側壁上具有清潔開口,用以暴露彎管內部。蓋板可拆卸地設置于清潔開口。
附圖說明
包含附圖以便進一步理解本發明,且附圖并入本說明書中并構成本說明書的一部分。附圖說明本發明的實施例,并與描述一起用于解釋本發明的原理。
圖1為根據本發明的實施例的半導體工藝設備的示意圖。
圖2繪示半導體工藝設備的整體結構的外觀。
圖3為半導體工藝設備的局部結構的分解圖。
圖4為半導體工藝設備的另一局部結構的分解圖。
圖5為依照本發明的實施例的排出裝置的彎管的放大圖。
具體實施方式
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





