[發明專利]一種總線型高密度測斜系統和方法在審
| 申請號: | 201710959678.6 | 申請日: | 2017-10-16 |
| 公開(公告)號: | CN107702696A | 公開(公告)日: | 2018-02-16 |
| 發明(設計)人: | 何欽;毛吉化;李建鋒;張記峰;蘇瑞明;阮園園;鄺婧雯;盧金赟;李衍航;張貴鑫;鐘瑋;林西賢;王年忠;陳校;彭呈輝;張英頌;李華豐;李福亮 | 申請(專利權)人: | 廣州市建設工程質量安全檢測中心;北京聯睿科科技有限公司 |
| 主分類號: | G01C9/00 | 分類號: | G01C9/00 |
| 代理公司: | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司44205 | 代理人: | 譚英強 |
| 地址: | 510600 廣東省廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 線型 高密度 系統 方法 | ||
技術領域
本發明涉及工程檢測領域,尤其是一種總線型高密度測斜系統和方法。
背景技術
深層水平位移監測是二級及以上監測安全等級工程必測項目,廣泛應用與基坑、隧道、邊坡、地基、軌道交通、尾礦、大壩工程的安全監測中。就建筑基坑而言,根據《建筑基坑工程監測技術規范》(GB50497-2009)表4.2.1,一、二級建筑基坑,深層水平位為應測,三級建筑基坑為宜測;根據《城市軌道交通工程監測技術規范》(GB50911-2013)表4.2.1,監測安全等級為一、二級,深層水平位為應測項目,監測安全等級三級為選測。因此,深層水平位移的應用廣泛,是工程監測不可或缺的監測項目之一。
測斜儀依據探頭是否固定在被測物體上分為固定式和活動式兩種。基坑工程監測中常用的是活動式測斜儀,即先埋設測斜管,每隔一定的時間將探頭放入管內沿導槽滑動,測量間距宜為0.5m(Li=0.5m),通過量測測斜管每0.5m斜度變化推算水平位移。固定式測斜儀是將測斜探頭作為單點傳感器,每隔一定固定距離(一般3~8m,即Li=3~8m),埋設于測斜管中,通過假定傳感器之間測斜管斜度與傳感器測量斜度變化相同,從而推算水平位移。測斜原理圖1,左側豎直的為基準線,右側的曲線為變形后曲線,陰影部分為測斜儀,計算公式為:ΔSi=(θi-θi-1).L,其中ΔSi為深度i處水平位移變化量,θ為深度i處重復測量的傾角變化量,L為量測間隔。
現有的活動式測斜儀作為目前工程監測應用最廣泛的方法之一,通過預埋測斜管,數據采集中,每n/2米(n為整數)進行數據采集,然后計算水平位移,具有便攜、經濟、數據采集密度高等特點,然而其實際應用中存在以下諸多缺點:
第一、測量輔助設施(測斜管)埋設難度高:測斜管通長綁扎于預制鋼筋籠上,并在工程樁澆筑前同鋼筋籠同步下放至鉆孔內,然后與支護樁一體澆筑,后經樁頭破除,續接及砌筑保護墩等多道工序才能完成輔助設施的埋設,而在整個工序中,因測斜管接管不牢、密封不緊、吊裝變形、方向錯位等任何一個疏漏,均可造成該部位支護結構無法進行深層水平位移測量。若采用在樁身旁土體進行鉆孔埋設,則同樣面臨沉管困難、測斜管周邊填充不密實、泥漿沉淀導致深度不滿足設計要求、土體與支護結構變形不協調及埋設費用高昂等多種問題。
第二、勞動強度大、數據采集慢:活動式測斜的數據采集主要采用人工提升測斜傳感器,每0.5m懸停,待數據穩定采集測斜數據,為減小誤差,采用正、反測兩次。以25米測斜孔計算,假定每次懸停5秒待數據穩定,則在整個數據采集中,設備下放50m,提升50m,人工需懸停100次,500秒,整個采集過程單孔只是要約15分鐘,若一般工程按15孔計算,則,單獨測斜項目需2個人不停采集225分鐘(即約3.5小時),勞動強度十分大,采集效率低。
第三、數據精度差:有測斜原理(詳見本文第1節)可知,巖土體或支護結構深層水平位移采用某深度0.5米長度內傾角變化量值,通過換算得到該深度的水平位移變化量,單點位移計算如下:
ΔSi=(θi-θi-1).L
ΔSi—深度i處水平位移變化量;
θ—深度i處重復測量的傾角變化量;
L—量測間隔。
由公式可知,其主要誤差源有:θ重復測量中深度無法完全保持一致,導致i深度處水平位移計算誤差。
現有的固定式測斜儀主要應用于需永久監測的工程,如大壩、永久邊坡、尾礦等,其具備數據自動采集、遠程傳輸、采集頻次高、單點精度高等特點,然而其實際應用中存在以下諸多缺點:
第一、測量輔助設施(測斜管)埋設難度高:與活動式測斜儀同,不在敘述;
第二、設備成本高:單點固定式采集儀國內外價格差異極大,大致為1500~20000元/點,一般工程限于造價無法應用;
第三、采集密度低,數據擬合度差:鑒于成本原因,固定式測斜儀一般安裝間隔為3~10m一點;且,因單個傳感器需引線至測斜管口(管口直徑70mm),傳感器過多將導致導線太多無法進行安裝。因此,固定式測斜儀所測量數據所繪制數據曲線與實際變形擬合度差。
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