[發明專利]一種像素補償方法及系統、顯示裝置

有效

• 申請號: 201710955277.3
• 申請日: 2017-10-13
• 公開（公告）號: CN109671393B
• 公開（公告）日: 2020-07-31
• 發明（設計）人: 孟松;吳仲遠
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/3225
• 分類號: G09G3/3225
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

本發明公開一種像素補償方法及系統、顯示裝置，涉及顯示技術領域，用于改善顯示裝置的畫面顯示質量。所述像素補償方法包括：獲取像素的驅動晶體管的當前補償用特性值K；根據像素的驅動晶體管的當前補償用特性值K，對對應的像素進行補償。所述像素補償方法中，先獲取像素的驅動晶體管的當前補償用特性值K，然后根據像素的驅動晶體管的當前補償用特性值K對對應的像素進行補償，因而顯示裝置在工作時，施加給像素電流時考慮到了驅動晶體管的特性可能發生的變化，從而可以使得施加給像素的電流均勻，并使得施加給像素的電流匹配于待顯示畫面，進而改善顯示裝置的畫面顯示質量。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種像素補償方法及系統、顯示裝置。

背景技術

顯示裝置是一種用于顯示文字、數字、符號、圖片，或者由文字、數字、符號和圖片中至少兩種組合形成的圖像等畫面的裝置，為人們的生活、工作提供較大的便利性。

目前，顯示裝置通常包括多個像素，根據像素的驅動方式的不同，可以將像素的類型分為電壓驅動型和電流驅動型，對于采用電流驅動型的像素的顯示裝置，顯示裝置的畫面顯示質量通常受到施加給像素的電流的影響，例如，對于有源驅動有機發光二極管(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，AMOLED)顯示裝置來說，顯示裝置的畫面顯示質量通常受到施加給OLED像素的電流的影響，而由于OLED像素中的驅動晶體管(例如薄膜晶體管)的工藝制程、對溫度等的敏感性等因素，顯示裝置中各OLED像素的驅動晶體管的特性(例如薄膜晶體管的閾值電壓、遷移率、電流電壓公式的比例系數等)通常會在顯示裝置工作時發生變化，因而引起施加給各OLED像素的電流不均勻且施加給各OLED像素的電流不匹配于待顯示畫面，從而造成顯示裝置的畫面顯示質量較差。

發明內容

本發明的目的在于提供一種像素補償方法，用于改善顯示裝置的畫面顯示質量。

為了實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種像素補償方法，包括：獲取像素的驅動晶體管的當前補償用特性值K；根據像素的驅動晶體管的當前補償用特性值K，對對應的像素進行補償。

優選地，獲取像素的驅動晶體管的當前補償用特性值K包括：

對像素的驅動晶體管進行檢測，得到像素的驅動晶體管的當前特性值K1；

提取上一輪次獲取的像素的驅動晶體管的歷史補償用特性值K2；

根據像素的驅動晶體管對應的所述當前特性值K1和所述歷史補償用特性值K2，計算獲得像素的驅動晶體管的所述當前補償用特性值K。

優選地，根據像素的驅動晶體管對應的所述當前特性值K1和所述歷史補償用特性值K2，計算獲得像素的驅動晶體管的所述當前補償用特性值K，包括：

計算所述當前特性值K1與所述歷史補償用特性值K2之間的差值Ktemp，其中，Ktemp＝K1-K2；

根據所述差值Ktemp，確定步長值Kstep，其中，0＜Kstep＜|Ktemp|；

比較所述當前特性值K1與所述歷史補償用特性值K2的大??；

根據所述當前特性值K1與所述歷史補償用特性值K2的大小、以及所述步長值Kstep，計算獲得所述當前補償用特性值K；其中，當所述當前特性值K1大于所述歷史補償用特性值K2時，K＝K2+Kstep；當所述當前特性值K1小于所述歷史補償用特性值K2時，K＝K2-Kstep。

優選地，根據像素的驅動晶體管對應的所述當前特性值K1和所述歷史補償用特性值K2，計算獲得像素的驅動晶體管的所述當前補償用特性值K，包括：

計算所述當前特性值K1與所述歷史補償用特性值K2之間的差值Ktemp，其中，Ktemp＝K1-K2；