[發明專利]光電探測器頻率響應測量方法及裝置有效
| 申請號： | 201710950882.1 | 申請日： | 2017-10-13 |
| 公開（公告）號： | CN107741525B | 公開（公告）日： | 2019-06-14 |
| 發明（設計）人： | 薛敏;潘時龍;衡雨清;余彩云 | 申請（專利權）人： | 南京航空航天大學 |
| 主分類號： | G01R23/16 | 分類號： | G01R23/16 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知識產權代理有限公司 11467 | 代理人： | 楊楠 |
| 地址： | 210000 江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光電 探測器 頻率響應 測量方法 裝置 | ||
1.光電探測器頻率響應測量方法，其特征在于，包括以下步驟：
步驟1、將光載波分為上、下兩路；
步驟2、將頻率為ωe的微波信號強度調制于上路光載波上，生成載波抑制的光雙邊帶調制信號，對下路光載波進行頻移量為Δω的頻移操作；同時測出載波抑制的光雙邊帶調制信號的光功率PM以及頻移后的下路光載波的光功率PA；
步驟3、將載波抑制的光雙邊帶調制信號與頻移后的下路光載波合束后輸入待測光電探測器，并測出待測光電探測器輸出信號中所包含的ωe-Δω和ωe+Δω這兩個頻率分量的功率PUC、PLC中的任意一個；
步驟4、利用以下公式計算出待測光電探測器在ωe-Δω頻率處的頻率響應R(ωe-Δω)或在ωe+Δω頻率處的頻率響應R(ωe+Δω)：
其中，ZL為待測光電探測器的匹配阻抗。
2.如權利要求1所述方法，其特征在于，還包括：
步驟5、對所述微波信號的頻率掃頻并重復步驟1～步驟4，得到待測光電探測器的頻譜響應。
3.光電探測器頻率響應測量裝置，其特征在于，包括：
光源，用于輸出光載波；
光分束器，用于將所述光載波分為上、下兩路；
微波源，用于輸出頻率為ωe的微波信號；
調制單元，用于將所述微波信號強度調制于上路光載波上，生成載波抑制的光雙邊帶調制信號；
頻移單元，用于對下路光載波進行頻移量為Δω的頻移操作；
光合束器，用于將載波抑制的光雙邊帶調制信號與頻移后的下路光載波合束后輸入待測光電探測器；
光功率測量單元，用于測出載波抑制的光雙邊帶調制信號的光功率PM以及頻移后的下路光載波的光功率PA；
微波功率測量單元，用于測出待測光電探測器輸出信號中所包含的ωe-Δω和ωe+Δω這兩個頻率分量的功率PUC、PLC中的任意一個；
計算單元，用于利用以下公式計算出待測光電探測器在ωe-Δω頻率處的頻率響應R(ωe-Δω)或在ωe+Δω頻率處的頻率響應R(ωe+Δω)：
其中，ZL為待測光電探測器的匹配阻抗。
4.如權利要求3所述裝置，其特征在于，還包括：
掃頻控制單元，用于對所述微波信號的頻率掃頻。
5.如權利要求3或4所述裝置，其特征在于，所述調制單元為工作于最小傳輸工作點的馬赫-曾德爾調制器。
6.如權利要求3或4所述裝置，其特征在于，所述光功率測量單元包括與調制單元輸出端連接的第一光功率計，以及與頻移單元輸出端連接的第二光功率計。
7.如權利要求3或4所述裝置，其特征在于，所述微波功率測量單元為幅相接收機。
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