[發明專利]芯片高精度電阻自校準電路

在審

• 申請號: 201710949744.1
• 申請日: 2017-10-13
• 公開（公告）號: CN107741757A
• 公開（公告）日: 2018-02-27
• 發明（設計）人: 周貴明
• 申請（專利權）人: 廣州市時芯電子科技有限公司
• 主分類號: G05F1/625
• 分類號: G05F1/625
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種芯片高精度電阻自校準電路，其特征包括：片上晶體振蕩器或穩定時鐘產生源（1），片上RC 充放電校準時鐘產生電路模塊（2），片上RC 充電電路（3），片上RC 放電電路（4），片上高精度電容（5）， 片上開關電阻陣列（6），比較器模塊（7），數字檢測判決電路（8），模擬參考電壓產生模塊（9），穩壓電源模塊（10）。

2.如權利要求1所述芯片高精度電阻自校準電路的一種實施方法，所述方法包括如下步驟：

第一步，片上晶體振蕩器或穩定時鐘產生源產生一個穩定的頻率和占空比的時鐘信號到片上RC 充放電校準時鐘產生電路模塊中；

第二步，RC充放電校準時鐘產生模塊根據輸入的參考時鐘源， 內部產生充放電電路需要的非交疊三相時鐘，一個時鐘給RC充電電路，一個時鐘給RC放電電路以及一個時鐘給比較器電路和數字檢測判決電路；

第三步：片上RC 充電電路和RC 放電電路，通過片上RC 充放電時鐘產生電路送來的時鐘，對片上開關電阻陣列和片上高精度電容組成的RC并聯陣列進行充放電；

第四步：RC 并聯陣列充放電后在RC 并聯陣列上產生的模擬電壓和模擬參考電壓產生模塊產生的參考電壓進行比較，比較通過比較器模塊完成，比較結束后把比較器的輸出送到數字檢測判決電路進行判決，判決結果返回數字控制信號到片上開關電阻陣列控制電阻陣列的開關，最后實現片上電阻的自動校準；

第五步，以上所有電路均在片上穩壓電源模塊供電下下工作。