[發明專利]一種電路板耐受電場破壞的實驗裝置及實驗方法

有效

• 申請號: 201710948588.7
• 申請日: 2017-10-12
• 公開（公告）號: CN107907755B
• 公開（公告）日: 2020-09-11
• 發明（設計）人: 岳剛;何寶昌;劉俠;周建源
• 申請（專利權）人: 中車青島四方機車車輛股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京元中知識產權代理有限責任公司 11223
• 代理人: 曲艷

本發明提供了一種電路板耐受電場破壞的實驗裝置，包括測試箱，還包括與所述測試箱箱體側壁連接向所述測試箱內發射電磁波的射頻系統、可使所述測試箱內呈不同強度電場的脈沖電壓發生系統、放置待測電路板的支架、測量待測電路板附近電磁波強度的功率探頭以及放電信號檢測系統。本發明同時提供了一種電路板耐受電場破壞的實驗方法，采用如上的實驗裝置。本發明提供的一種電路板耐受電場破壞的實驗裝置和實驗方法，可模擬不同使用環境下的高電場、射頻干擾強度，對電路板的耐受電場破壞實驗。

技術領域

本發明涉及一種電路板的測試裝置，尤其是一種可以在多場作用下檢測電路板質量的實驗裝置以及相應的實驗方法

背景技術

目前針對電子器件的電磁干擾的檢測主要是通過權威的實驗中心完成測試，測試過程費時費力，對于一些專業領域使用的電路板來說，無法準確模擬電路板的使用環境下電路板耐受電場破壞的測試。所以急需一種比較簡單的電路板耐受電場破壞的測試裝置。

發明內容

本發明主要目的在于解決上述問題和不足，提供可準確模擬電路板使用狀態下電路板耐受電場破壞的測試并判斷電路板耐壓等級的一種電路板耐受電場破壞的實驗裝置及實驗方法。

為實現上述目的，本發明首先提供了一種電路板耐受電場破壞電路板質量的實驗裝置，其技術方案是：

一種電路板耐受電場破壞的實驗裝置，包括測試箱，還包括與所述測試箱箱體側壁連接向所述測試箱內發射電磁波的射頻系統、可使所述測試箱內呈不同強度電場的脈沖電壓發生系統、放置待測電路板的支架、測量待測電路板附近電磁波強度的功率探頭以及放電信號檢測系統。

進一步的，所述射頻系統包括通過傳輸線相互連接的射頻信號源、功率控制系統及復合天線，所述功率控制系統接收射頻信號源發射的電磁波，放大處理到相應的功率后經復合天線向所述測試箱體內發射電磁波。

進一步的，所述功率控制系統包括功率放大器及功率控制回路，所述功率放大器分別與所述射頻信號源、復合天線及功率控制回路連接，所述功率控制回路與所述功率探頭連接。

進一步的，所述放電信號檢測系統包括數據采集系統和數據處理和顯示系統。

進一步的，所述測試箱內部設置有屏蔽層。

本發明進一步提供了一種檢測多場作用下電戰利品板質量的實驗方法，采用如下技術方案：

一種電路板耐受電場破壞的實驗方法，使用如前文所述的實驗裝置，測試過程包括如下步驟，

S1，功率放大器預設不同的射頻干擾強度，使電路板所處的射頻干擾強度維持在預設的射頻水平；

S2，當電路板所處環境的射頻干擾強度達到恒定的預設水平后，脈沖電壓發生系統對電路板施電壓脈沖，使電路板處于強電場下；

S3，開啟放電信號檢測系統，采集電路板的放電量，根據放電量數據計算電路板的耐壓評估系數；

S4，根據評估系數評價電路板的耐壓等級。

進一步的，當耐壓評估系數大于時，耐受等級為低，耐壓評估系數小于或等于且大于時，耐受等級為中，耐壓評估系數小于等于時，耐受等級為高。

進一步的，通過如下公式計算耐壓評估系數

其中，Ф為耐壓評估系數，P_設為功率放大器的輸出功率，U_設為脈沖電壓發生系統對電路板兩端施加的電壓，Q_測為檢測到的電路板放電量，Г_板為電路板反射系數，Г_空氣為空氣反射系數。

進一步的，所述測試箱的外壁內側設置有可吸收殘余射頻干擾系數的吸波材料。