[發明專利]顯示面板的制造方法和顯示面板

有效

• 申請號: 201710948404.7
• 申請日: 2017-10-12
• 公開（公告）號: CN107632441B
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發明（設計）人: 張振宇;張冉;廖燕平;吳忠厚;張云天;張春旭
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥京東方顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/1333
• 分類號: G02F1/1333;G02F1/13;G02F1/153
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 姜春咸;陳源

本發明提供一種顯示面板的制造方法，包括：提供母板，所述母板包括對盒設置的陣列基板母板和對盒基板母板，所述陣列基板母板包括多個陣列基板單元，所述對盒基板母板包括多個對盒基板單元，相鄰兩個所述顯示面板單元之間設置有間隔區，所述間隔區的至少部分區域中設置有多對檢測單元；沿各個所述間隔區切割所述母板，以獲得多個顯示面板，且切割路徑經過成對的所述檢測單元之間的間隔，所述顯示面板包括所述顯示面板單元和與該顯示面板單元相鄰的檢測單元；檢測所述檢測單元的完整性；當存在殘缺的檢測單元時，則判定該殘缺的檢測單元所在的顯示面板為不良品。本發明還提供一種顯示面板。利用所述制造方法制造顯示面板可以提高生成效率。

技術領域

本發明涉及顯示面板的制造領域，具體地，涉及一種顯示面板的制造方法和由該制造方法制得的顯示面板。

背景技術

在制造一些顯示面板(例如，液晶顯示面板、電致變色顯示面板)時，需要先制造母板，然后將母板切割成多個顯示面板。

切割時要求一定的切割精度，以獲得良品的顯示面板。為了檢測切割工藝是否達到上述切割精度，需要對顯示面板進行檢測。

目前常用的檢測方法為光學測量法，測量顯示面板的尺寸是否滿足要求。但是，光學測量法耗時較長，不利于提高顯示面板的生產效率。

因此，如何快速檢測顯示面板是否達到切割精度成為本領域亟待解決的技術問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種顯示面板的制造方法和一種由該制造方法制得的顯示面板。在利用所述制造方法制作顯示面板時，可以快速檢測顯示面板是否達到所需的切割精度。

為了實現上述目的，作為本發明的一個方面，提供一種顯示面板的制造方法，其中，所述制造方法包括：

提供母板，所述母板包括對盒設置的陣列基板母板和對盒基板母板，所述陣列基板母板包括多個陣列基板單元，所述對盒基板母板包括多個對盒基板單元，多個所述陣列基板單元與多個所述對盒基板單元一一對應，對應的所述陣列基板單元與所述對盒基板單元形成顯示面板單元，且相鄰兩個所述顯示面板單元之間設置有間隔區，所述間隔區的至少部分區域中設置有多對檢測單元，同一對所述檢測單元中的一個靠近相鄰兩個顯示面板單元中的一者，同一對所述檢測單元中的另一個靠近相鄰兩個所述顯示面板單元中的另一者，且同一對所述檢測單元之間形成有間隔；

沿各個所述間隔區切割所述母板，以獲得多個顯示面板，且切割路徑經過成對的所述檢測單元之間的間隔，所述顯示面板包括所述顯示面板單元和與該顯示面板單元相鄰的檢測單元；

檢測所述檢測單元的完整性；

當存在殘缺的檢測單元時，則判定該殘缺的檢測單元所在的顯示面板為不良品。

優選地，所述檢測單元包括導電圖形，檢測所述檢測單元的完整性時，檢測所述檢測單元的電阻，當檢測到的所述檢測單元的電阻為無窮大時，判定所述檢測單元出現殘缺；

所述導電圖形包括多個導電子圖形和多個連接導電條，所述導電子圖形包括水平導電部和分別設置在所述水平導電部兩端的兩個豎直導電部，同一個所述導電圖形中所有豎直導電部的延伸方向相同，分別屬于相鄰兩個所述導電子圖形的相鄰的兩個所述豎直導電部之間連接有一個所述連接導電條，且多個所述水平導電部位于同一條直線上。

優選地，所述檢測單元還包括兩個檢測觸點，提供母板的步驟包括提供陣列基板母板的步驟、提供對盒基板母板的步驟和將所述陣列基板母板與所述對盒基板對盒的步驟，其中，提供陣列基板的步驟包括：

提供襯底基板；

在襯底基板上形成金屬導電圖形和所述導電圖形；

形成絕緣層；