[發(fā)明專利]一種金剛石刀具圓弧波紋度的在位檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710945584.3
• 申請(qǐng)日: 2017-09-30
• 公開（公告）號(hào): CN107796338B
• 公開（公告）日: 2020-06-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 宗文俊;崔志鵬;牛春巖;孫濤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 哈爾濱工業(yè)大學(xué)
• 主分類號(hào): G01B11/30
• 分類號(hào): G01B11/30
• 代理公司: 哈爾濱龍科專利代理有限公司 23206
• 代理人: 高媛

1. 一種金剛石刀具圓弧波紋度的在位檢測(cè)裝置，其特征是：其組成包括進(jìn)給臺(tái)(1)，所述的進(jìn)給臺(tái)(1)的頂面設(shè)置研磨機(jī)床擺軸(2)，所述的研磨機(jī)床擺軸(2)的上表面設(shè)置金剛石刀具夾具(3)，所述的金剛石刀具夾具(3)上設(shè)置金剛石刀具(4)；

所述的進(jìn)給臺(tái)(1)上還設(shè)置二維精密運(yùn)動(dòng)平臺(tái)(5)，所述的二維精密運(yùn)動(dòng)平臺(tái)(5)上設(shè)置磁性表座(6)，所述的磁性表座(6)的橫向支桿上設(shè)置C_LVDT夾具(7)，所述的C_LVDT夾具(7)的上表面設(shè)置水平珠(8)，所述的C_LVDT夾具(7)的前端設(shè)置C_LVDT(9)，所述的進(jìn)給臺(tái)(1)與L形支架(10)的豎向底端連接，所述的L形支架(10)的橫向支桿底設(shè)置磁性表座(6)的豎向支桿，所述的L形支架(10)的橫向支桿上設(shè)置CCD體視顯微鏡(11)，所述的C_LVDT(9)配合金剛石刀具(4)使用；

所述的C_LVDT(9)包括接觸式金剛石探針(13)，所述的接觸式金剛石探針(13)裝在方形軸(14) 的內(nèi)腔中，所述的方形軸(14)設(shè)置在多孔質(zhì)碳座(15)的內(nèi)腔中，并由端蓋(12)軸向阻擋防止方形軸(14)探頭從多孔質(zhì)碳座(15)中脫離，所述的多孔質(zhì)碳座(15)設(shè)置在不銹鋼外殼 (16)內(nèi)，所述的方形軸(14)的后端設(shè)置電容探測(cè)靶標(biāo)(17)，所述的電容探測(cè)靶標(biāo)(17)的后側(cè)設(shè)置電容探頭(18)，電容探測(cè)靶標(biāo)(17)和電容探頭(18)均設(shè)置在不銹鋼外殼(16)內(nèi)，所述的不銹鋼外殼(16)后端沿軸向設(shè)有螺紋安裝孔，所述的螺紋安裝孔內(nèi)螺紋連接有接觸壓力調(diào)整螺釘(19)，不銹鋼外殼(16)后端設(shè)置氣源進(jìn)口(20)；所述的不銹鋼外殼(16)的前端設(shè)置探針回縮口(21)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金剛石刀具圓弧波紋度的在位檢測(cè)裝置，其特征是：所述的C_LVDT夾具(7)包括傳感器支架(24)，銅套(22)設(shè)置在傳感器支架(24)的首端，所述的傳感器支架(24)的尾端裝配有磁性表座(6)的橫向支桿，緊固螺釘(23)穿過(guò)磁性表座(6)的橫向支桿并裝配在傳感器支架(24)的尾端，所述的傳感器支架(24)的上頂面設(shè)置水平珠(8)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金剛石刀具圓弧波紋度的在位檢測(cè)裝置，其特征是：信號(hào)采集、處理控制計(jì)算機(jī)與NI數(shù)據(jù)采集雙向傳輸信號(hào)，所述的信號(hào)采集、處理控制計(jì)算機(jī)將信號(hào)經(jīng)過(guò)數(shù)據(jù)處理后得到刀尖圓弧波紋度；

所述的NI數(shù)據(jù)采集將信號(hào)傳輸至C_LVDT控制器，所述的C_LVDT控制器與C_LVDT位移傳感器雙向傳輸信號(hào)，所述的C_LVDT金剛石探針與圓弧刃金剛石刀具相接觸，所述的圓弧刃金剛石刀具所連接的金剛石刀具研磨機(jī)床擺軸與研磨機(jī)控制計(jì)算機(jī)雙向傳輸信號(hào)，所述的研磨機(jī)控制計(jì)算機(jī)通過(guò)1394接口與CCD圖像傳感器、高倍體視顯微鏡雙向傳輸信號(hào)。