[發(fā)明專利]存儲器件、包括它的半導(dǎo)體系統(tǒng)和驅(qū)動半導(dǎo)體系統(tǒng)的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710945399.4 | 申請日: | 2017-10-12 |
| 公開(公告)號: | CN108122586A | 公開(公告)日: | 2018-06-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 權(quán)正賢;趙上球;李圣恩 | 申請(專利權(quán))人: | 愛思開海力士有限公司 |
| 主分類號: | G11C16/16 | 分類號: | G11C16/16;G11C16/34;G11C29/44 |
| 代理公司: | 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 程強;許偉群 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 現(xiàn)象分析 半導(dǎo)體系統(tǒng) 樣本數(shù)據(jù) 正常數(shù)據(jù) 儲存 讀取 半導(dǎo)體器件 參考數(shù)據(jù) 存儲器件 樣本 驅(qū)動 | ||
1.一種半導(dǎo)體器件,包括:
至少一個正常塊,適用于儲存正常數(shù)據(jù);
至少一個樣本塊,適用于儲存樣本數(shù)據(jù);
現(xiàn)象分析塊,適用于基于樣本數(shù)據(jù)產(chǎn)生至少一個現(xiàn)象分析信號;以及
控制塊,適用于基于所述至少一個現(xiàn)象分析信號,控制讀取正常數(shù)據(jù)時所需的參考數(shù)據(jù)的電平。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其中,樣本數(shù)據(jù)具有與正常數(shù)據(jù)所具有的相同比例的兩個或更多數(shù)據(jù)值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其中,控制塊包括:
參考數(shù)據(jù)發(fā)生單元,適用于產(chǎn)生多個數(shù)據(jù),各個數(shù)據(jù)具有不同的電平;
參考數(shù)據(jù)選擇單元,適用于基于選擇控制信號來選擇所述多個數(shù)據(jù)中的一個作為參考數(shù)據(jù);以及
選擇控制單元,適用于基于所述至少一個現(xiàn)象分析信號產(chǎn)生選擇控制信號。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其中,現(xiàn)象分析塊包括:
比較數(shù)據(jù)儲存單元,適用于儲存比較數(shù)據(jù),所述比較數(shù)據(jù)具有與樣本數(shù)據(jù)的預(yù)定數(shù)據(jù)模式相同的數(shù)據(jù)模式,所述樣本數(shù)據(jù)具有與正常數(shù)據(jù)所具有的相同比例的兩個或更多數(shù)據(jù)值;
數(shù)據(jù)比較單元,適用于將比較數(shù)據(jù)與樣本數(shù)據(jù)比較;以及
比率計算單元,適用于基于數(shù)據(jù)比較單元的比較結(jié)果來產(chǎn)生所述至少一個現(xiàn)象分析信號,其中,所述至少一個現(xiàn)象分析信號包括與數(shù)據(jù)值的比率相對應(yīng)的第一現(xiàn)象分析信號和第二現(xiàn)象分析信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,還包括:
讀取電路塊,適用于基于參考數(shù)據(jù)讀取正常數(shù)據(jù)中的至少一個或者讀取樣本數(shù)據(jù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其中,樣本塊包括起始-間隔塊。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其中,樣本塊設(shè)置成與正常塊相鄰或者設(shè)置在正常塊中。
8.一種半導(dǎo)體系統(tǒng),包括:
半導(dǎo)體器件,適用于儲存正常數(shù)據(jù)和樣本數(shù)據(jù),其中,樣本數(shù)據(jù)表示正常數(shù)據(jù)的特性;以及
控制器件,適用于基于樣本數(shù)據(jù)分析正常數(shù)據(jù)中發(fā)生的現(xiàn)象,其中,現(xiàn)象包括漂移現(xiàn)象和殘留現(xiàn)象。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體系統(tǒng),其中,樣本數(shù)據(jù)具有與正常數(shù)據(jù)所具有的相同比例的兩個或更多數(shù)據(jù)值。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體系統(tǒng),其中,所述半導(dǎo)體器件基于控制器件所產(chǎn)生的至少一個現(xiàn)象分析信號來控制讀取正常數(shù)據(jù)中的至少一個時所需的參考數(shù)據(jù)的電平,所述至少一個現(xiàn)象分析信號對應(yīng)于現(xiàn)象分析的結(jié)果。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的半導(dǎo)體系統(tǒng),其中,所述半導(dǎo)體器件包括:
至少一個正常塊,適用于儲存正常數(shù)據(jù);
至少一個樣本塊,適用于儲存樣本數(shù)據(jù);以及
控制塊,適用于基于所述至少一個現(xiàn)象分析信號控制參考數(shù)據(jù)的電平。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體系統(tǒng),其中,控制塊包括:
參考數(shù)據(jù)發(fā)生單元,適用于產(chǎn)生多個數(shù)據(jù),各個數(shù)據(jù)具有不同的電平;
參考數(shù)據(jù)選擇單元,適用于基于選擇控制信號選擇所述多個數(shù)據(jù)中的一個作為參考數(shù)據(jù);以及
選擇控制單元,適用于基于所述至少一個現(xiàn)象分析信號產(chǎn)生選擇控制信號。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體系統(tǒng),其中,所述半導(dǎo)體器件還包括:
讀取電路塊,適用于基于參考數(shù)據(jù)讀取正常數(shù)據(jù)中的至少一個或者讀取樣本數(shù)據(jù)。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體系統(tǒng),其中,樣本塊包括起始-間隔塊。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體系統(tǒng),其中,樣本塊設(shè)置成與正常塊相鄰或者設(shè)置在正常塊中。
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