[發明專利]一種區分液晶顯示屏灰塵和缺陷的方法及裝置

有效

• 申請號: 201710945335.4
• 申請日: 2017-10-12
• 公開（公告）號: CN109656033B
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發明（設計）人: 邢志偉;姚毅;路建偉;周鐘海;馬增婷;時廣軍
• 申請（專利權）人: 凌云光技術股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01N21/94;G01N21/95
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

本申請公開一種區分液晶顯示屏灰塵和缺陷的方法及裝置，方法包括：獲取待檢測液晶顯示屏的待檢測正拍圖像和待檢測斜拍圖像；縮放待檢測正拍圖像和待檢測斜拍圖像，得到尺寸相等的縮放正拍圖像和縮放斜拍圖像；確定仿射變換矩陣；根據仿射變換矩陣對縮放斜拍圖像進行仿射變換，得到配準圖像；分別提取縮放正拍圖像和配準圖像的準缺陷坐標，保存為第一集合和第二集合；逐個計算已匹配的第一集合的元素與第二集合的元素之間的視差，得到視差集合；比較視差集合內元素與距離閾值，確定準缺陷是否為真實缺陷。本申請實施例中，通過獲取待檢測正拍圖像和待檢測斜拍圖像，得到各準缺陷的視差，通過與距離閾值對比，得到是否為真實缺陷。

技術領域

本申請涉及液晶顯示屏檢測技術領域，特別涉及一種區分液晶顯示屏灰塵和缺陷的方法及裝置。

背景技術

液晶顯示屏，英文簡稱為LCD，是屬于平面顯示器的一種，用于電視機及計算機的屏幕顯示。液晶顯示屏具有耗電量低、體積小、輻射低的優點，深受使用者的喜愛。液晶顯示屏由上至下依次由TP玻璃、上偏光片、第一玻璃基板、液晶層、第二玻璃基板、下偏光片和背光模塊組成。而在液晶顯示屏中的液晶層經常會出現缺陷，造成使用者在使用液晶顯示屏時，出現播放畫面有壞點的現象，影響畫面質量，導致使用者的觀感不佳。

現有技術中，液晶顯示屏的檢測方法是使用工業相機，在對焦清晰的前提下，通過工業相機拍攝液晶顯示屏點亮時的顯示狀態，將顯示狀態轉化為圖像，然后利用視覺處理系統對圖像進行處理，最后得到此液晶顯示屏是否為良品或者不良的結果。

然而，由于受到外界環境干擾，不可避免的在液晶顯示屏中引入灰塵等其他雜質，工業相機在常規直視拍攝的情況下，灰塵與缺陷在相機靶面的成像是一致的，無法準確區分，對缺陷檢測的結果造成干擾，比如引起過度檢測，將灰塵歸結到液晶層的缺陷中。因此，現有技術中檢測液晶顯示屏的方法不能準確檢測到液晶顯示屏的缺陷，產生過度檢測，影響生產液晶顯示屏的效率。

發明內容

本申請的目的在于提供一種區分液晶顯示屏灰塵和缺陷的方法及裝置，以解決現有技術不能準確檢測到液晶顯示屏的缺陷，產生過度檢測的問題。

第一方面，本申請實施例提供的一種區分液晶顯示屏灰塵和缺陷的方法，所述方法包括：

獲取待檢測液晶顯示屏的待檢測正拍圖像和待檢測斜拍圖像其中，所述待檢測正拍圖像從直拍相機獲得，所述待檢測斜拍圖像從斜拍相機獲得；

縮放所述待檢測正拍圖像和所述待檢測斜拍圖像，得到尺寸相等的縮放正拍圖像和縮放斜拍圖像；

確定仿射變換矩陣；

根據所述仿射變換矩陣對所述縮放斜拍圖像進行仿射變換，得到配準圖像；

提取所述縮放正拍圖像的準缺陷坐標，保存為第一集合；

提取所述配準圖像的準缺陷坐標，保存為第二集合；

匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；

逐個計算已匹配的第一集合的元素與第二集合的元素之間的視差，得到視差集合；

比較所述視差集合內元素與距離閾值，確定準缺陷是否為真實缺陷。

進一步地，確定仿射變換矩陣的步驟包括：

獲取標定板的正拍標定圖像和斜拍標定圖像，其中，所述標定板上設有m*n個標定孔；

統一所述正拍標定圖像的尺寸和斜拍標定圖像的尺寸，得到尺寸相等的縮放標定正拍圖像和縮放標定斜拍圖像；

提取所述縮放正拍標定圖像中標定孔圓心的坐標和所述縮放斜拍標定圖像中標定孔圓心的坐標；

匹配所述縮放正拍標定圖像中標定孔圓心和所述縮放斜拍標定圖像中標定孔圓心；