[發明專利]機械手的控制方法及裝置、可讀存儲介質及自動化設備

有效

• 申請號: 201710943375.5
• 申請日: 2017-10-11
• 公開（公告）號: CN107511829B
• 公開（公告）日: 2020-06-05
• 發明（設計）人: 黎志雄
• 申請（專利權）人: 深圳市威博特科技有限公司
• 主分類號: B25J9/16
• 分類號: B25J9/16;B25J13/08
• 代理公司: 深圳市恒程創新知識產權代理有限公司 44542
• 代理人: 趙愛蓉

1.一種機械手的控制方法，其特征在于，包括以下步驟：

接收激光測距裝置測得的工件特征元附近點的位置參數，根據所述位置參數計算獲得在基座坐標系中的特征元位置及機械手預設工作位置；

根據所述特征元位置控制機械手移動至所述特征元并在預設工作位置上進行作業；

當所述特征元為特征線，且所述特征線為兩個工作面的相交線時；

接收激光測距裝置測得的工件特征元附近點的位置參數，根據所述位置參數計算獲得在基座坐標系中的特征元位置及機械手預設工作位置的步驟，包括：

接收激光測距裝置測得的其中一工作面上工件特征元附近第一組點的位置參數；

根據接收到的第一組點位置參數得到第一組點在基座坐標系中的坐標值，并將第一組點的坐標值的平均值作為第一特征點的坐標值，以獲得所述第一特征點的位置；

根據第一組點的坐標值由預設算法計算出第一組點構成的第一特征平面方程；

接收激光測距裝置測得的工件另一工作面上工件特征元附近第二組點的位置參數；

根據接收到的第二組點位置參數得到第二組點在基座坐標系中的坐標值，并將第二組點的坐標值的平均值作為第二特征點的坐標值，以獲得所述第二特征點的位置；

根據第二組點的坐標值由預設算法計算出第二組點構成的第二特征平面方程；

根據第一特征平面方程和第二特征平面方程分析出兩個特征平面相交線的方程；

根據相交線的方程計算出垂直于相交線的法向平面的方程，并分析出機械手平行于法向平面的預設工作位置；

根據第一特征點和第二特征點分別投影在相交線上的第一投影點和第二投影點的坐標值求出兩點之間連線中點的坐標值，記兩點之間連線中點為機械手運動的起始點；

根據相交線的方程確定機械手在相交線上運動的方向。

2.如權利要求1所述的機械手的控制方法，其特征在于，所述特征元為特征點：

接收激光測距裝置測得的工件特征元附近點的位置參數，根據所述位置參數計算獲得在基座坐標系中的特征元位置及機械手預設工作位置的步驟，包括：

接收激光測距裝置測得的工件特征元附近的多個點的位置參數；

根據接收到多個點的位置參數得到多個點在基座坐標系中的坐標值，并將多個點的坐標值的平均值作為特征點的坐標值，以獲得所述特征點的位置；

根據預設算法求取工件工作面所在面法向量并分析出機械手平行于法向量的預設工作位置。

3.如權利要求1所述的機械手的控制方法，其特征在于，所述特征元為特征線：

接收激光測距裝置測得的工件特征元附近點的位置參數，根據所述位置參數計算獲得在基座坐標系中的特征元位置及機械手預設工作位置的步驟，包括：

接收激光測距裝置測得的工件工作面上特征線其中一端點附近第一組點的位置參數；

根據接收到的第一組點的位置參數得到第一組點在基座坐標系中的坐標值，并將第一組點的坐標值的平均值作為第一特征點的坐標值；

接收激光測距裝置測得的工件工作面上特征線另一端點附近第二組點的位置參數；

根據接收到第二組點的位置參數得到第二組點在基座坐標系中的坐標值，并將第二組點的坐標值的平均值作為第二特征點的坐標值，通過所述第一特征點的坐標值和所述第二特征點的坐標值，確定所述特征線的位置；

根據預設算法求取工件工作面所在面法向量并分析出機械手平行于法向量的預設工作位置。

4.如權利要求1所述的機械手的控制方法，其特征在于，所述特征元為特征面；

接收激光測距裝置測得的工件特征元附近點的位置參數，根據所述位置參數計算獲得在基座坐標系中的特征元位置及機械手預設工作位置的步驟，包括：

接收激光測距裝置測得的工件特征面上多個不在同一直線上的點的位置參數；

根據接收到多個點的位置參數得到多個點的坐標值，并通過多個點的坐標值由預設算法計算出這多個點構成的特征面方程，通過所述特征面方程確定所述特征面的位置；

根據特征平面方程求取工件工作面所在面法向量并分析出機械手平行于法向量的預設工作位置。