[發(fā)明專利]薄膜電路及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710943322.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-10-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107706091B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-08-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林亞麗;田華;周剛;孟佳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/02 | 分類號(hào): | H01L21/02;H05K1/02 |
| 代理公司: | 北京博思佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11415 | 代理人: | 林祥 |
| 地址: | 100015 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜 電路 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明涉及薄膜電路及其制備方法,該制備方法包括:提供一介質(zhì)基片;在所述介質(zhì)基片上形成復(fù)合金屬膜層;通過(guò)電鍍加厚薄膜電路圖形所在區(qū)域的位于復(fù)合金屬膜層最上層的膜層,形成電鍍膜層圖形,所述電鍍膜層圖形的上表面面積大于下表面面積;在所述電鍍膜層圖形的側(cè)面形成光刻膠遮擋圖案,通過(guò)光刻形成薄膜電路圖形。該制備方法可避免對(duì)薄膜電路圖形所在區(qū)域的膜層側(cè)面進(jìn)行腐蝕,提高最終形成的薄膜電路的性能。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及薄膜電路及其制備方法。
背景技術(shù)
薄膜電路與其他類型的電路相比,具有互連密度高和線條精度高的優(yōu)點(diǎn),可用于制造高功率電路。
目前制造薄膜電路通常采用鍍膜工藝以及通過(guò)光刻、曝光、顯影和刻蝕等構(gòu)圖工藝,在陶瓷或者石英等基板上制作電路結(jié)構(gòu),具體而言,主要包括以下步驟:
首先,通過(guò)鍍膜工藝在基板上沉積復(fù)合金屬膜層;
其次,在復(fù)合金屬膜層上涂覆光刻膠,通過(guò)掩膜版對(duì)光刻膠進(jìn)行曝光顯影,去除電路圖形部分的光刻膠,暴露出復(fù)合金屬膜層,然后進(jìn)行帶膠電鍍所需金屬層,由于非電路圖形部分被光刻膠覆蓋遮擋,無(wú)法電鍍金屬層,而暴露出的部分通過(guò)電鍍加厚了金屬膜層;
再次,帶膠電路完成后,去除光刻膠圖形,對(duì)非電路圖形部分的金屬?gòu)?fù)合膜層進(jìn)行刻蝕,以去除非電路圖形部分的金屬?gòu)?fù)合膜層,在刻蝕過(guò)程中,由于包括多層金屬?gòu)?fù)合膜層,需要采用不同金屬膜層的刻蝕液逐層刻蝕掉各層金屬膜層,而不同金屬?gòu)?fù)合膜層的刻蝕液之間可能具有相容性,在刻蝕非電路圖形部分的金屬?gòu)?fù)合膜層時(shí),可能也會(huì)對(duì)電路圖形部分的膜層的側(cè)面進(jìn)行腐蝕,因此,會(huì)影響最終的薄膜電路的性能。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供薄膜電路及其制作方法,以解決相關(guān)技術(shù)中的不足。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的第一方面,提供一種薄膜電路的制備方法,包括:
提供一介質(zhì)基片;
在所述介質(zhì)基片上形成復(fù)合金屬膜層;
通過(guò)電鍍加厚薄膜電路圖形所在區(qū)域的位于復(fù)合金屬膜層最上層的膜層,形成電鍍膜層圖形,所述電鍍膜層圖形的上表面面積大于下表面面積;
在所述電鍍膜層圖形的側(cè)面形成光刻膠遮擋圖案,通過(guò)光刻形成薄膜電路圖形。
可選的,所述通過(guò)電鍍加厚薄膜電路圖形所在區(qū)域的位于復(fù)合金屬膜層最上層的膜層,包括:
在所述復(fù)合金屬膜層上形成第一光刻膠層,對(duì)所述第一光刻膠層進(jìn)行曝光顯影后在非薄膜電路圖形所在區(qū)域形成第一光刻膠圖案;
在薄膜電路圖形所在區(qū)域的復(fù)合金屬膜層上進(jìn)行電鍍,加厚所述薄膜電路圖形所在區(qū)域的位于復(fù)合金屬膜層最上層的膜層;
剝離所述第一光刻膠圖案,形成所述電鍍膜層圖形。
可選的,所述薄膜電路圖形包括電路布線圖形;
所述在所述電鍍膜層圖形的側(cè)面形成光刻膠遮擋圖案,通過(guò)光刻形成薄膜電路圖形,包括:
通過(guò)干法刻蝕去除非電路布線圖形所在區(qū)域的位于復(fù)合金屬膜層的最上層的膜層;
在所述電路布線圖形所在區(qū)域以及非電路布線所在區(qū)域形成第二光刻膠層,對(duì)所述第二光刻膠層進(jìn)行曝光顯影后在所述電鍍膜層圖形的側(cè)面形成第一光刻膠遮擋圖案;
通過(guò)濕法一次性刻蝕去除非電路布線圖形所在區(qū)域的位于復(fù)合金屬膜層的最上層以外的膜層;
剝離所述第一光刻遮擋圖案,形成所述電路布線圖形。
可選的,所述薄膜電路圖形包括電路布線圖形和電阻圖形;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





