[發(fā)明專利]陶瓷體上硅襯底的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710940454.0 | 申請日: | 2017-10-11 |
| 公開(公告)號: | CN107731731B | 公開(公告)日: | 2020-04-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李瑾;冒薇;王豐梅;楊靜;趙書平 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州研材微納科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/762 | 分類號: | H01L21/762;H01L27/12 |
| 代理公司: | 南京思拓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32288 | 代理人: | 張濤 |
| 地址: | 215121 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陶瓷 體上硅 襯底 制備 方法 | ||
1.一種陶瓷體上硅襯底的制備方法,其特征是,所述制備方法包括如下步驟:
步驟1、提供所需的第一硅襯底(1)以及第二硅襯底(3),并對所述第一硅襯底(1)、第二硅襯底(3)進行清洗;
步驟2、在第一硅襯底(1)上均勻涂覆陶瓷埋材層(2),所述陶瓷埋材層(2)包括聚硅氮烷;
所述陶瓷埋材層(2)為聚硅氮烷時,陶瓷埋材層(2)涂覆在第一硅襯底(1)上的過程為:先將聚硅氮烷溶解,再將聚硅氮烷溶液滴于第一硅襯底(1)的中心,最后利用勻膠機將聚硅氮烷均勻涂覆在第一硅襯底(1)上;
在利用勻膠機涂覆時,勻膠機先以700rpm~900rpm的轉(zhuǎn)速將第一硅襯底(1)上的聚硅氮烷液體攤開,再以4000rpm~5000rpm的轉(zhuǎn)速將聚硅氮烷液體均勻涂覆在第一硅襯底(1)上;
步驟3、將第二硅襯底(3)鍵合在上述第一硅襯底(1)上,第二硅襯底(3)通過陶瓷埋材層(2)與第一硅襯底(1)間隔;
步驟4、對上述陶瓷埋材層(2)進行陶瓷化工藝,以得到位于第一硅襯底(1)與第二硅襯底(3)之間的陶瓷體絕緣埋層(4);
陶瓷埋材層(2)采用聚硅氮烷時,步驟4中,對陶瓷埋材層(2)進行陶瓷化時,將第一硅襯底(1)、第二硅襯底(3)以及陶瓷埋材層(2)置于馬弗爐中,將馬弗爐的溫度升高到800℃以上,以使得陶瓷埋材層(2)發(fā)生熱裂解;在陶瓷埋材層(2)發(fā)生熱裂解后,再使得馬弗爐的溫度升高到1400℃以上,以在第一硅襯底(1)與第二硅襯底(3)間結(jié)晶形成陶瓷體絕緣埋層(4)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陶瓷體上硅襯底的制備方法,其特征是:在得到陶瓷體絕緣埋層(4)后,對第二硅襯底(3)進行減薄,對第二硅襯底(3)進行減薄的方式包括化學(xué)機械拋光。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陶瓷體上硅襯底的制備方法,其特征是,所述陶瓷埋材層(2)的厚度不大于3μm。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





