[發明專利]陶瓷體上硅襯底的制備方法有效
| 申請號: | 201710940454.0 | 申請日: | 2017-10-11 |
| 公開(公告)號: | CN107731731B | 公開(公告)日: | 2020-04-21 |
| 發明(設計)人: | 李瑾;冒薇;王豐梅;楊靜;趙書平 | 申請(專利權)人: | 蘇州研材微納科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/762 | 分類號: | H01L21/762;H01L27/12 |
| 代理公司: | 南京思拓知識產權代理事務所(普通合伙) 32288 | 代理人: | 張濤 |
| 地址: | 215121 江蘇省蘇州市工業園區*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陶瓷 體上硅 襯底 制備 方法 | ||
1.一種陶瓷體上硅襯底的制備方法,其特征是,所述制備方法包括如下步驟:
步驟1、提供所需的第一硅襯底(1)以及第二硅襯底(3),并對所述第一硅襯底(1)、第二硅襯底(3)進行清洗;
步驟2、在第一硅襯底(1)上均勻涂覆陶瓷埋材層(2),所述陶瓷埋材層(2)包括聚硅氮烷;
所述陶瓷埋材層(2)為聚硅氮烷時,陶瓷埋材層(2)涂覆在第一硅襯底(1)上的過程為:先將聚硅氮烷溶解,再將聚硅氮烷溶液滴于第一硅襯底(1)的中心,最后利用勻膠機將聚硅氮烷均勻涂覆在第一硅襯底(1)上;
在利用勻膠機涂覆時,勻膠機先以700rpm~900rpm的轉速將第一硅襯底(1)上的聚硅氮烷液體攤開,再以4000rpm~5000rpm的轉速將聚硅氮烷液體均勻涂覆在第一硅襯底(1)上;
步驟3、將第二硅襯底(3)鍵合在上述第一硅襯底(1)上,第二硅襯底(3)通過陶瓷埋材層(2)與第一硅襯底(1)間隔;
步驟4、對上述陶瓷埋材層(2)進行陶瓷化工藝,以得到位于第一硅襯底(1)與第二硅襯底(3)之間的陶瓷體絕緣埋層(4);
陶瓷埋材層(2)采用聚硅氮烷時,步驟4中,對陶瓷埋材層(2)進行陶瓷化時,將第一硅襯底(1)、第二硅襯底(3)以及陶瓷埋材層(2)置于馬弗爐中,將馬弗爐的溫度升高到800℃以上,以使得陶瓷埋材層(2)發生熱裂解;在陶瓷埋材層(2)發生熱裂解后,再使得馬弗爐的溫度升高到1400℃以上,以在第一硅襯底(1)與第二硅襯底(3)間結晶形成陶瓷體絕緣埋層(4)。
2.根據權利要求1所述的陶瓷體上硅襯底的制備方法,其特征是:在得到陶瓷體絕緣埋層(4)后,對第二硅襯底(3)進行減薄,對第二硅襯底(3)進行減薄的方式包括化學機械拋光。
3.根據權利要求1所述的陶瓷體上硅襯底的制備方法,其特征是,所述陶瓷埋材層(2)的厚度不大于3μm。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





