[發明專利]移動終端的指紋識別方法及系統

有效

• 申請號: 201710937899.3
• 申請日: 2017-09-30
• 公開（公告）號: CN107644220B
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: 周超
• 申請（專利權）人: 上海摩軟通訊技術有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/62
• 代理公司: 上海弼興律師事務所 31283
• 代理人: 薛琦;羅朗

1.一種移動終端的指紋識別方法，所述移動終端包括指紋識別模塊，其特征在于，所述指紋識別方法包括：

獲取所述指紋識別模塊的磨損區域；

根據所述磨損區域控制所述移動終端的指紋識別；

所述根據所述磨損區域控制移動終端的指紋識別的步驟具體包括：

根據所述磨損區域計算所述指紋識別模塊的磨損率，計算公式為：E＝S_E/S，其中，所述E為所述磨損率，所述S_E為所述磨損區域的面積，所述S為所述指紋識別模塊的覆蓋面積；

根據所述磨損率控制所述移動終端的指紋識別；

所述根據所述磨損率控制所述移動終端的指紋識別的步驟具體包括：

判斷所述磨損率是否大于最大磨損值；

若是，停止所述移動終端的指紋識別并生成提示信息，所述提示信息表征所述指紋識別模塊已損壞；

若否，根據所述磨損率調整指紋識別成功所需的最小匹配相似度，根據所述最小匹配相似度控制所述移動終端的指紋識別；

其中，用于調整所述最小匹配相似度的調整公式為：P＝1-E，其中，所述P為所述最小匹配相似度。

2.如權利要求1所述的指紋識別方法，所述指紋識別模塊設有矩陣排列的多個電容模塊，每個電容模塊均對應一個指紋識別單位區域，其特征在于，所述獲取所述指紋識別模塊的磨損區域的步驟具體包括：

在檢測到有手指接觸所述指紋識別模塊時，獲取第一類電容模塊的電容變化值，所述第一類電容模塊為與所述手指接觸的每個所述電容模塊；

對于每個所述第一類電容模塊，判斷所述電容變化值是否在預設范圍內，若否，則確定所述第一類電容模塊為異常電容模塊；

根據所有所述異常電容模塊確定所述磨損區域，所述磨損區域包括所有所述異常電容模塊所對應的指紋識別單位區域。

3.如權利要求1所述的指紋識別方法，其特征在于，獲取所述指紋識別模塊的磨損區域后，所述指紋識別方法還包括：

在移動終端的顯示屏上顯示指紋識別模塊的指紋識別區域，并標示出所述磨損區域。

4.如權利要求3所述的指紋識別方法，其特征在于，所述指紋識別方法還包括：

將移動終端的部分應用場景設置為高保密等級；

判斷當前應用場景是否屬于高保密等級，若是，執行所述標示出所述磨損區域的步驟。

5.如權利要求1所述的指紋識別方法，其特征在于，所述獲取所述指紋識別模塊的磨損區域的步驟具體包括：

每隔預設時間獲取所述指紋識別模塊的磨損區域，或，在所述移動終端每次開機時獲取所述指紋識別模塊的磨損區域。

6.一種移動終端的指紋識別系統，所述移動終端包括指紋識別模塊，其特征在于，所述指紋識別系統包括檢測模塊及控制模塊；

所述檢測模塊用于獲取所述指紋識別模塊的磨損區域；

所述控制模塊用于根據所述磨損區域進行所述移動終端的指紋識別；

所述檢測模塊還包括計算單元；

所述計算單元用于根據所述磨損區域計算所述指紋識別模塊的磨損率，計算公式為：E＝S_E/S，其中，所述E為所述磨損率，所述S_E為所述磨損區域的面積，所述S為所述指紋識別模塊的覆蓋面積；

所述控制模塊用于根據所述磨損率進行所述移動終端的指紋識別；

所述控制模塊還用于判斷所述磨損率是否大于最大磨損值；

若是，停止所述移動終端的指紋識別并生成提示信息，所述提示信息表征所述指紋識別模塊已損壞；

若否，根據所述磨損率調整指紋識別成功所需的最小匹配相似度，根據所述最小匹配相似度控制所述移動終端的指紋識別；

其中，用于調整所述最小匹配相似度的調整公式為：P＝1-E，其中，所述P為所述最小匹配相似度。