[發(fā)明專利]一種圖像均勻性評估方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710933092.2 | 申請日: | 2017-10-10 |
| 公開(公告)號: | CN109658372B | 公開(公告)日: | 2021-01-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 郭慧;姚毅 | 申請(專利權(quán))人: | 凌云光技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/11 |
| 代理公司: | 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯長明;許偉群 |
| 地址: | 100094 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 圖像 均勻 評估 方法 裝置 | ||
1.一種圖像均勻性評估方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取圖像的整體平均像素值I0,所述圖像的每一個像素點的成像環(huán)境相同;
將所述圖像劃分為M×N個面積相等的矩形區(qū)域,其中,M為所述圖像中每行矩形區(qū)域的個數(shù),N為所述圖像中每列矩形區(qū)域的個數(shù);
計算每一個矩形區(qū)域的區(qū)域平均像素值Iij和區(qū)域像素值均方差Sij,其中,i=1,2,......,M;j=1,2,......,N;
根據(jù)所述區(qū)域平均像素值Iij、區(qū)域像素值均方差Sij和所述整體平均像素值I0,計算所述圖像的均勻性系數(shù)U;根據(jù)所述區(qū)域平均像素值Iij、區(qū)域像素值均方差Sij,計算每一個區(qū)域的像素值上限Iij+Sij和每一個區(qū)域的像素值下限Iij-Sij;獲取所有所述像素值上限和所述像素值下限中的最大元素max和最小元素min;根據(jù)均勻性系數(shù)公式計算所述均勻性系數(shù)U;其中,所述獲取所有所述像素值上限和所述像素值下限中的最大值max和最小值min,包括:將所述像素值上限矩陣C和像素值下限矩陣D合并為綜合矩陣E,E=[C,D];獲取矩陣E中的最大元素max(E),將max(E)作為所述最大元素max,獲取矩陣E中的最小元素min(E),將min(E)作為所述最小元素min;
根據(jù)所述均勻性系數(shù)U評估所述圖像的均勻性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像均勻性評估方法,其特征在于,所述根據(jù)所述區(qū)域平均像素值Iij、區(qū)域像素值均方差Sij,計算每一個區(qū)域的像素值上限Iij+Sij和每一個區(qū)域的像素值下限Iij-Sij,包括:
根據(jù)區(qū)域平均像素值Iij和區(qū)域像素值均方差Sij,形成所述圖像的區(qū)域平均像素值矩陣I區(qū)域像素值均方差S,其中,
根據(jù)所述平均像素值矩陣I和所述均方差矩陣S,計算像素值上限矩陣C和像素值下限矩陣D,所述像素值上限矩陣C=I+S,所述像素值下限矩陣D=I-S。
3.根據(jù)權(quán)利要求1-2任一項所述的圖像均勻性評估方法,其特征在于,所述根據(jù)所述區(qū)域平均像素值Iij、區(qū)域像素值均方差Sij,計算每一個區(qū)域的像素值上限Iij+Sij和每一個區(qū)域的像素值下限Iij-Sij,還包括:
判斷所述Iij+Sij中任意一個元素的數(shù)值是否大于2bit-1,如果是,則用2bit-1替換所有所述大于2bit-1的元素,其中,bit為所述圖像像素值的位寬;
判斷所述Iij-Sij中任意一個元素是否小于0,如果是,則用0替換所有所述小于0的元素。
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