[發明專利]天線陣列、測試系統和用于測試受測裝置的方法

有效

• 申請號: 201710931726.0
• 申請日: 2017-10-09
• 公開（公告）號: CN107918068B
• 公開（公告）日: 2020-04-24
• 發明（設計）人: 科比特·羅威爾;亨德里克·巴爾特科;亞當·坦凱倫;貝努瓦·德拉
• 申請（專利權）人: 羅德施瓦茲兩合股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;H01Q21/00;H04B17/00;H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 王小衡;任慶威

1.一種用于在一定距離內產生和/或接收平面波的天線陣列(14)，其中所述天線陣列(14)包括相對于彼此可移動的多個天線(18)，其特征在于所述天線陣列(14)被配置為使得在所述天線陣列(14)的近場中產生和/或接收平面波，其中所述天線陣列(14)被配置為通過調整天線(18)相對于彼此的距離和/或空間來適應所述天線陣列(14)的平面波區間距離。

2.根據權利要求1所述的天線陣列(14)，其特征在于，可移動的天線(18)中的至少一個在兩個方向上可移動。

3.根據前述權利要求中任一項所述的天線陣列(14)，其特征在于，多個天線(18)中的至少一個被布置為使得所述天線(18)是圓形地、螺旋形地、旋繞地、和/或線性地可移動的。

4.根據前述權利要求1-2中任一項所述的天線陣列(14)，其特征在于，所述天線(18)以不同方式可移動。

5.根據前述權利要求1-2中任一項所述的天線陣列(14)，其特征在于，多個天線(18)成組地可移動。

6.根據前述權利要求1-2中任一項所述的天線陣列(14)，其特征在于，所述天線陣列(14)具有框架(16)和面對要被測量的受測裝置(12)的表面(24)，其中所述天線(18)相對于所述表面(24)上的參考點可移動。

7.根據前述權利要求1-2中任一項所述的天線陣列(14)，其特征在于，設置了控制單元(20)，所述控制單元(20)與所述天線(18)連接以使得所述天線(18)經由所述控制單元(20)而被控制。

8.根據前述權利要求1-2中任一項所述的天線陣列(14)，其特征在于，設置了驅動單元(22)，所述驅動單元22驅動所述天線(18)以使得所述天線(18)的位置被調整。

9.一種測試系統(10)，其包括受測裝置(12)和根據前述權利要求中任一項所述的天線陣列(14)。

10.一種用于測試受測裝置(12)的方法，其利用根據權利要求1至8中任一項所述的天線陣列(14)、或根據權利要求9所述的測試系統(10)進行測試。

11.根據權利要求10所述的方法，其特征在于，多個天線(18)被移動以使得所述天線陣列(14)的平面波區間距離和/或頻率被調整。

12.根據權利要求10或11所述的方法，其特征在于，在所述天線陣列(14)的近場中產生和/或接收平面波。

13.根據權利要求10或11所述的方法，其特征在于，在所述平面波區間中測量所述受測裝置(12)的性質。

14.根據權利要求10或11所述的方法，其特征在于，在D為受測裝置的的孔徑，并且λ是電磁信號的波長時，所述天線陣列(14)到所述受測裝置(12)的距離(d)小于夫瑯禾費距離