[發(fā)明專利]一種基于紅外光譜法檢測銅礦和含銅物料的檢測方法

在審

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• 申請日: 2017-10-09
• 公開（公告）號: CN107462543A
• 公開（公告）日: 2017-12-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 呂新明;孫春曉;田延河;王吉德;周安麗;陳偉
• 申請（專利權(quán)）人: 阿拉山口出入境檢驗檢疫局綜合技術(shù)服務(wù)中心
• 主分類號: G01N21/3563
• 分類號: G01N21/3563
• 代理公司: 北京德崇智捷知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11467
• 代理人: 劉小靜

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及礦石檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種基于紅外光譜法檢測銅礦和含銅物料的檢測方法。

背景技術(shù)

近年來，隨著“一帶一路”的推行，從新疆口岸進口的礦產(chǎn)品種類、數(shù)量不斷增加，西橋頭堡的阿拉山口口岸經(jīng)常以“銅锍”(有色重金屬硫化物與鐵的硫化物的共融體稱為熔锍，是銅、鎳等金屬的硫化物精礦火法冶煉的重要中間產(chǎn)物。銅冶煉過程中得到的锍稱為銅锍，習(xí)稱冰銅)的名義進口哈薩克斯坦國生產(chǎn)的銅的初級冶煉或粗加工的燒結(jié)礦物或冶煉渣，該商品的特點銅含量較高，達到銅冶煉的原料，因此部分進口商把冶煉廢渣以該商品名稱申報進口，甚至有虛報瞞報品名的情況，以達到快速通關(guān)、減少關(guān)稅的目的。經(jīng)初步查詢，國內(nèi)外沒有關(guān)于此類“含銅物料”的檢驗、鑒定方法標(biāo)準，相關(guān)文獻報道也較少。科技查新報告查新結(jié)論:國內(nèi)已見“X熒光光譜儀”測定“艾薩冰銅”和“燒結(jié)礦”中部分元素的文獻報道，未見任何利用大型設(shè)備對其鑒定含銅物料的研究文獻報道。

由于進口可利用含銅物料與一般銅礦石或銅精礦存在差異，同時與一般的礦產(chǎn)品冶煉廢渣不同，無法僅從各主要元素含量的高低來鑒別、區(qū)分，因此，在口岸研究制定進口礦產(chǎn)品的快速檢驗、鑒定方法，快速確定其主要成分，以及找出其應(yīng)屬類別迫在眉睫，必要時為含銅物料建立專門的圖片庫，對今后近似物質(zhì)的鑒定提供依據(jù)。

此外，現(xiàn)有的含銅物料和銅精礦的定量分析方法只能針對已確定品名的商品中的各元素進行含量分析。針對銅礦和含銅物料的鑒定方法應(yīng)用X熒光光譜儀和X射線衍射儀兩種設(shè)備連用才能鑒別，部分實驗室僅有其中一臺設(shè)備時就不能進行鑒定工作。

為此，本發(fā)明提供一種僅利用一臺設(shè)備對進口銅礦和含銅物料進行鑒定，擴展紅外光譜儀在鑒定領(lǐng)域的應(yīng)用，尤其在礦產(chǎn)品領(lǐng)域?qū)儆诔醪诫A段。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種基于紅外光譜法檢測銅礦和含銅物料的檢測方法，利用一臺設(shè)備對進口銅礦和含銅物料進行鑒定，尤其在礦產(chǎn)品領(lǐng)域?qū)儆诔醪诫A段，使紅外鑒定技術(shù)在可利用的冶煉渣中得到應(yīng)用。

本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的：

一種基于紅外光譜法檢測銅礦和含銅物料的檢測方法，包括以下步驟：

S1.取0.5～1重量份的待測樣品與140～460重量份的溴化鉀粉末，研磨至樣品顆粒小于2.5μm，并混合均勻；

S2.將混合后的待測樣品進行壓片處理，然后放入紅外光譜儀中進行檢測，得到譜圖；所述紅外光譜儀的檢測條件為件：以空白溴化鉀片為背景，樣品掃描次數(shù)為32，分辨率為4.00cm，激光頻率為15798cm^-1，檢測器為DTGS KBr，動鏡速度為0.6329，光闌100.00，檢測范圍4000cm^-1～400cm^-1；

S3.將譜圖進行基線校正、平滑、標(biāo)峰分析，然后將樣品譜圖在圖譜庫中檢索、并結(jié)合化合物特征吸收峰初步確定樣品中主要化合物。

進一步地，所述步驟S1中，采用十萬分之一天平稱取0.5～1mg的待測樣品與140～460mg的溴化鉀粉末進行研磨。由于樣品量過少會導(dǎo)致光譜吸光度太低；樣品量過多會出現(xiàn)有些譜帶全吸收；溴化鉀用量過少，壓出來的片易碎；溴化鉀用量過多，會造成壓出來的片不透明；故優(yōu)選采用1mg的待測樣品與150mg的溴化鉀粉末，在待測樣品為強極性集團時，采用0.5mg的待測樣品與150mg的溴化鉀粉末。

進一步地，所述步驟S1中，將樣品研磨至過200～300目篩。由于在檢測過程中，當(dāng)顆粒大于光波長時，會發(fā)生散射，混合物研磨的不夠細，在中紅外光譜的高端容易出現(xiàn)光散射現(xiàn)象，使光譜高頻段基線抬高，故優(yōu)選采用過200～300目篩的待測樣品混合物。

進一步地，所述步驟S2中，所述壓片是將待測樣品在7.5～8.5t壓力下壓50～70s，壓出透明或半透明的錠片。