[發明專利]一種激光報警器低溫探測能力測試系統

有效

• 申請號: 201710919472.0
• 申請日: 2017-09-30
• 公開（公告）號: CN107782534B
• 公開（公告）日: 2020-08-14
• 發明（設計）人: 王勝;程遠雄;張俊峰;翟玉忠;程剛;彭波;陳衛;黃明和;孟鵬飛
• 申請（專利權）人: 孝感華中精密儀器有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 方可

1.一種激光報警器低溫探測能力測試系統，包括測試儀主體(1)、工控機(2)和低溫箱(3)，所述測試儀主體(1)及工控機(2)放置在光學平臺(4)上，激光報警器(5)放置在低溫箱(3)內，其特征在于，所述測試儀主體(1)在工控機(2)的控制下發出不同功率密度的激光，并將激光分為多路輸出；所述測試儀主體(1)包括控制模塊(12)、激光發生模塊(13)、激光功率調節模塊(14)和激光分路模塊(15)；

所述控制模塊(12)用于接收工控機(2)發送的控制信號，所述激光發生模塊(13)用于在控制模塊(12)的控制下發出測試用脈沖激光；

所述激光功率調節模塊(14)包括至少一組衰減片旋轉組件(1421)，每組衰減片旋轉組件(1421)包括多個不同衰減倍率的衰減單元(14212)、旋轉盤(14211)、光耦擋片(14213)、光耦(14214)；所述旋轉盤(14211)上開有多個通孔，所述衰減單元(14212)按照透過率的高低次序粘接在所述通孔上，在控制模塊(12)的控制下進行組合以對激光發生模塊(13)發出的脈沖激光進行不同級別的光學衰減，以輸出不同功率密度的激光；

所述光耦擋片(14213)均勻分布在旋轉盤(14211)的圓周外側，每兩個通孔間設置一個光耦擋片(14213)，所述光耦擋片(14213)和光耦(14214)配合使用，用于對每個衰減單元(14212)進行精確定位；

所述激光分路模塊(15)用于將激光功率調節模塊(14)輸出的激光分為多路分別輸出至多個激光報警器。

2.如權利要求1所述的測試系統，其特征在于，所述測試儀主體(1)還包括外殼(11)；

所述外殼(11)包括固定盒(111)，及設置在固定盒(111)底部的底板(112)，所述激光發生模塊(13)和激光功率調節模塊(14)固定在底板(112)上；

所述控制模塊(12)采用控制板組件(122)實現，所述控制板組件(122)包括控制板(1221)，及安裝在固定盒(111)底部的控制板支架(1222)，所述控制板(1221)固定在控制板支架(1222)上，用于實現對脈沖激光的控制，包括控制激光輸出、脈沖重復頻率、脈沖寬度及輸出激光功率的調節；

所述激光發生模塊(13)為光纖激光器，所述光纖激光器安裝在底板(112)上，用于發出測試激光報警器的脈沖激光；

所述激光功率調節模塊(14)還包括與衰減片旋轉組件(1421)數量匹配的光耦側支架(1422)和帶座光耦(1423)，以及底座(1424)；所述衰減片旋轉組件(1421)和光耦側支架(1422)均固定在底座(1424)上；所述帶座光耦(1423)設置在光耦側支架(1422)上，用于對衰減片旋轉組件(1421)進行初始定位；所述激光分路模塊(15)包括分路器(151)和至少兩個準直鏡組件(152)，所述分路器(151)設置在固定盒(111)上與面板組件(123)相對的側面上，分路器(151)將激光功率調節模塊(14)出射的激光分成至少兩路輸出，各準直鏡組件(152)均設置在固定盒(111)的頂部，分路器(151)輸出的激光分別通過所述準直鏡組件(152)進入各激光報警器(5)。

3.如權利要求2所述的測試系統，其特征在于，所述衰減片旋轉組件(1421)還包括光耦座(14215)、固定板(14216)、驅動裝置(14217)和電機底座(14218)；

所述驅動裝置(14217)用于為衰減片旋轉組件(1421)提供動力源；所述電機底座(14218)固定在底座(1424)上，所述固定板(14216)垂直安裝在電機底座(14218)上，固定板(14216)的一側裝設旋轉盤(14211)，所述光耦座(14215)與旋轉盤(14211)同側設置在電機底座(14218)上，所述光耦(14214)設置在光耦座(14215)上

其中一個光耦擋片(14213)和帶座光耦(1423)配合使用，以確定旋轉盤(14211)零位，其它光耦擋片(14213)用于對每個衰減單元(14212)進行精確定位。

4.如權利要求3所述的測試系統，其特征在于，所述衰減單元(14212)為衰減片-30或衰減片-20或衰減片-10或衰減片-5中的任一種，或幾種的組合。