[發(fā)明專利]一種微陣列式偏振光羅盤的定向方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710914696.2 | 申請日: | 2017-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN107728106B | 公開(公告)日: | 2019-08-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 胡小平;韓國良;練軍想;何曉峰;張禮廉;王玉杰;范晨;吳雪松;蔡宇 | 申請(專利權(quán))人: | 中國人民解放軍國防科技大學(xué) |
| 主分類號: | G01S3/782 | 分類號: | G01S3/782 |
| 代理公司: | 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429 | 代理人: | 陸薇薇 |
| 地址: | 410073 湖*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 陣列 偏振光 羅盤 定向 方法 | ||
1.一種微陣列式偏振光羅盤的定向方法,其特征在于包括以下步驟:
步驟1.建立微陣列式偏振光羅盤的測量方程:
微陣列式偏振光羅盤主要由廣角鏡頭、像素偏振片陣列和CCD(Charge-CoupledDevice)相機組成;像素偏振片陣列的像素與CCD像素尺寸完全相等,相鄰的4個CCD像素構(gòu)成一個偏振測量單元,完成對某一個視角方向入射光的偏振態(tài)解算;對于任意偏振測量單元,微陣列式偏振光羅盤的測量方程為:
其中,j為相鄰的4個CCD像素的編號,fj為第j個像素的測量值,入射光的總光強為I,偏振度為d,φ為入射光偏振方向與參考方向的夾角,即入射光的偏振角,βj為第j個偏振片的極化方向與參考方向的夾角,β1、β2、β3和β4分別為0°、90°、45°、135°,Kj和bj為待標定的CCD相機線性誤差參數(shù),kj和εj為待標定的偏振片安裝誤差參數(shù),nj為測量噪聲;
步驟2.CCD相機線性誤差參數(shù)標定:
以無偏的自然光作為輸入,并在不同光強的輸入下記錄每個CCD像素的響應(yīng),最小化下述目標函數(shù)來估計CCD相機的線性誤差參數(shù)Kj和bj:
其中,i為測量的編號,N為測量次數(shù),為第i次測量中的輸入光強,為第i次測量的測量值;
Kj和bj可由下式計算得到:
步驟3.偏振片安裝誤差參數(shù)標定:
3.1)計算偏振測量單元對應(yīng)的入射光的偏振角和偏振度
將步驟1中的(1)式改寫為矩陣形式,得到每個偏振測量單元的測量方程:
HX=P (4)
其中,
其中,k1、k2、k3、k4、ε1、ε2、ε3和ε4為待標定的偏振片安裝誤差參數(shù),K1、K2、K3、K4、b1、b2、b3和b4為通過步驟2標定得到的CCD相機線性誤差參數(shù);
采用最小二乘法估計天空偏振角模式,則X的最小二乘估計由下式給出:
其中,是X的最小二乘估計;
每個偏振測量單元對應(yīng)的入射光的偏振角和偏振度分別為:
3.2)運用迭代最小二乘法求解待標定的偏振片安裝誤差參數(shù)
定義如下目標函數(shù):
其中,是第m次測量中偏振角的測量值,和分別表示偏振角的初次測量的測量值和它的測量誤差,Δφm為偏振角變化的真實值,rm為第m次測量中的測量誤差;
迭代方程為:
其中,x0為迭代初值,xn和xn+1分別為第n次和第n+1次迭代后方程的解,Jr(x)為雅可比矩陣;
當(dāng)||xn+1-xn||≤0.01時,迭代方程收斂到最優(yōu)解;
步驟4.基于天空偏振角模式估計太陽方位:
4.1)求解入射光的E矢量方向
每個偏振測量單元對應(yīng)的入射光的E矢量方向為:
其中,e為入射光的E矢量方向,為入射光坐標系到相機坐標系的變換矩陣;
4.2)建立太陽方向矢量關(guān)于入射光的E矢量方向的方程
根據(jù)瑞利散射模型,入射光的E矢量方向垂直于散射面,即
eTs=0 (10)
其中,s為太陽方向矢量;
太陽方向矢量可以通過兩個不相關(guān)的E矢量估計得到,定義E=[e1…eN],其中eN為第N個偏振測量單元的E矢量方向,可以得到:
ETs=0 (11)
4.3)建立優(yōu)化目標函數(shù)估計太陽方向矢量
太陽方向矢量s的最優(yōu)估計可以通過求解如下的優(yōu)化問題得到:
太陽方向矢量的最優(yōu)估計是與EET最小特征值相對應(yīng)的特征向量,太陽方向矢量在水平面的投影即為太陽的方位。
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