[發明專利]控制器的生成方法、裝置及存儲介質

有效

• 申請號: 201710911551.7
• 申請日: 2017-09-29
• 公開（公告）號: CN109582511B
• 公開（公告）日: 2022-11-15
• 發明（設計）人: 孟祥剛;高國重;郝守青;劉暢
• 申請（專利權）人: 龍芯中科技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 莎日娜

本發明實施例提供了一種控制器的生成方法、裝置及存儲介質，預置有高層次綜合工具和針對至少有一個隨機存儲器RAM的指令腳本，所述方法包括：在高層次綜合工具中寫入控制器的高級編程語言代碼；通過所述高層次綜合工具，基于所述高級編程語言代碼生成所述控制器的寄存器轉移層次代碼；所述寄存器轉移層次代碼描述有的控制器的端口；所述端口包括有效端口；根據所述指令腳本和所述寄存器轉移層次代碼設置所述控制器的有效端口。本發明實施例與通過手寫寄存器轉移層次代碼設計控制器的方式相比，大大降低了控制器的相關算法實現的復雜度，縮短了設計時間，提高了生產力，降低了測試成本。同時也彌補了專用工具算法單一，自定義算法難度大等問題。

技術領域

本發明涉及集成電路技術領域，特別是涉及一種控制器的生成方法、一種控制器的生成裝置以及一種存儲介質。

背景技術

隨著集成電路的發展，嵌入式存儲器在芯片中的面積越來越大。由于芯片端口數量的限制和存儲器本身機構比較復雜，嵌入式存儲器的測試面臨著很大的挑戰。

目前，由于嵌入式存儲器規模和容量逐漸擴大，使得存儲器的測試成本相應的增加，因此，如何優化嵌入式存儲器的測試過程，減少存儲器的測試成本，已經成為一個急待解決的技術問題。

發明內容

鑒于上述問題，本發明實施例提供一種控制器的生成方法、一種控制器的生成裝置以及一種存儲介質，以解決目前存儲器的測試過程測試成本高的問題。

為了解決上述問題，本發明實施例公開了一種控制器的生成方法，預置有高層次綜合工具和針對至少有一個隨機存儲器RAM的指令腳本，所述方法包括：

在高層次綜合工具中寫入控制器的高級編程語言代碼；

通過所述高層次綜合工具，基于所述高級編程語言代碼生成所述控制器的寄存器轉移層次代碼；所述寄存器轉移層次代碼描述有的控制器的端口；所述端口包括有效端口；

根據所述指令腳本和所述寄存器轉移層次代碼設置所述控制器的有效端口。

優選地，在所述根據所述指令腳本和所述寄存器轉移層次代碼設置所述控制器的有效端口的步驟之后，還包括：

基于設置有效端口后的控制器對于RAM進行測試。

優選地，所述端口還包括冗余端口，所述指令腳本包括端口移除信息，所述根據所述指令腳本和所述寄存器轉移層次代碼設置所述控制器的有效端口的步驟，包括：

基于所述端口移除信息，從所述控制器的端口中確定出冗余端口；

移除所述控制器的冗余端口，使得所述控制器保留有效端口。

優選地，所述端口移除信息包括控制端口移除信息和使能端口移除信息，所述冗余端口包括冗余控制端口和冗余使能端口，所述基于所述端口移除信息，從所述寄存器轉移層次代碼描述的控制器的端口中確定出冗余端口的步驟，包括：

基于所述控制端口移除信息，從所述控制器的端口中確定出冗余控制端口；

基于所述使能端口移除信息，從所述控制器的端口中確定出冗余使能端口。

優選地，當所述RAM為多個時，所述控制器具有端口數組，在所述根據所述指令腳本和所述寄存器轉移層次代碼設置所述控制器的有效端口的步驟之前，還包括：

將所述控制器的端口數組，分割為所述多個RAM分別對應的獨立端口。

優選地，所述基于所述使能端口移除信息，從所述控制器的端口中確定出冗余使能端口的步驟，包括：

從所述控制器的端口篩選所述多個RAM分別對應的獨立端口；

基于所述使能端口移除信息，分別從所述獨立端口中確定出第一冗余使能端口；