[發(fā)明專利]一種利用邊緣統(tǒng)計(jì)特征的MRF樣本塊圖像修復(fù)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710908722.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107492082A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-12-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李志丹;程吉祥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西南石油大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06T5/00 | 分類號(hào): | G06T5/00;G06T5/40;G06T7/13 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 610500 四*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 利用 邊緣 統(tǒng)計(jì) 特征 mrf 樣本 圖像 修復(fù) 方法 | ||
1.一種利用邊緣統(tǒng)計(jì)特征的MRF樣本塊圖像修復(fù)方法,其特征在于,包括以下步驟:
A、對(duì)待修復(fù)圖像I,確認(rèn)破損區(qū)域?yàn)棣福?/p>
B、對(duì)待修復(fù)圖像I劃分為邊緣特征圖像Iedge和非邊緣特征圖像Inon-edge;
C、將邊緣特征圖像Iedge和非邊緣特征圖像Inon-edge分別統(tǒng)計(jì)相似樣本塊間的偏移映射,并將偏移映射作為候選標(biāo)簽用于下一步的優(yōu)化求解;
D、利用Curvelet變換提取待修復(fù)圖像I的8方向特征;
E、構(gòu)造保持鄰域連續(xù)一致性的全局能量方程;
F、利用選擇出的候選標(biāo)簽和多標(biāo)簽圖割算法求解全局能量極值,得到分配給每個(gè)節(jié)點(diǎn)的標(biāo)簽m;
G、將每個(gè)節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)標(biāo)簽的信息復(fù)制到未知區(qū)域中,即I(x)=I(x+m),得到修復(fù)后圖像IR;
其中I(x)表示圖像位于位置x上的RGB強(qiáng)度值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用邊緣統(tǒng)計(jì)特征的MRF樣本塊圖像修復(fù)方法,其特征在于,所述步驟B中具體過(guò)程為:
(1)首先利用Curvelet變換提取待修復(fù)圖像I的高頻信息和低頻信息:若待修復(fù)圖像I為彩色圖像,將其由RGB空間轉(zhuǎn)到Y(jié)UV空間內(nèi),利用IY標(biāo)記Y通道圖像;若待修復(fù)圖像I為灰度圖像,令I(lǐng)Y=I;
(2)再利用Curvelet正變換將IY變換到超小波域:
Qij=T+(IY)
其中T+表示Curvelet正變換,Qij表示IY經(jīng)過(guò)Curvelet正變換后得到的多尺度多方向特征系數(shù),i表示尺度,j表示方向;Curvelet低頻信息是指最低尺度層Curvelet系數(shù)矩陣Q11;高頻尺度層系數(shù)矩陣,每個(gè)系數(shù)矩陣便代表一個(gè)不同尺度層下的方向矩陣;
(3)利用Curvelet反變換得到不同的方向特征圖像{Ik}k=1,…,8:
Ik=T-(Hk(Q))
其中Hk(Q)代表最低頻系數(shù)矩陣和第k個(gè)方向特征系數(shù)矩陣的集合,具體規(guī)則為:
其中{Zk}k=1,…,8為不同方向系數(shù)矩陣的集合;
(4)而后利用canny算子對(duì)每一方向特征圖像{Ik}k=1,…,8進(jìn)行邊緣特征提取,并對(duì)提取后的邊緣特征進(jìn)行形態(tài)學(xué)操作以獲得每個(gè)方向上的豐富的邊緣信息Bk;
(5)而后將不同方向上的邊緣信息{Bk}k=1,…,8進(jìn)行融合得到最終待修復(fù)圖像的邊緣特征B;
(6)按照待修復(fù)圖像I中的每個(gè)像素點(diǎn)的位置來(lái)劃分邊緣特征圖像Iedge和非邊緣特征圖像Inon-edge,其位于邊緣點(diǎn)的圖像為邊緣特征圖像Iedge,則Iedge=I·B,非位于邊緣點(diǎn)的圖像為非邊緣特征圖像,則
其中表示對(duì)邊緣信息取反。
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