[發明專利]一種高效的存儲器失效分析方法

在審

• 申請號: 201710906554.1
• 申請日: 2017-09-29
• 公開（公告）號: CN107610738A
• 公開（公告）日: 2018-01-19
• 發明（設計）人: 董攀;蔣玉茜
• 申請（專利權）人: 北京中電華大電子設計有限責任公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種高效的存儲器失效物理分析方法，用于存儲器的失效物理分析。

背景技術

目前存儲器基本已經大量應用在許多電子產品中，例如手機、PC、PAD、等等；甚至國內航空、航天等高危領域也不少使用存儲器。存儲器不僅應用廣泛，而且其使用頻率相對其他外圍電路來說僅次于CPU，因此其存儲器的可靠性非常重要，在其使用的生命周期中不能夠出現可靠性問題。從另一方面來說，存儲器的可靠性評估是非常必要的。

目前各大芯片公司及企業也都非常重視存儲器的可靠性評估，在評估過程中使用的方法都類似：首先，在高低溫環境中對存儲器進行反復擦寫并讀出數據對比，將失效數據打印出來形成文本記錄。其次，工作人員從大量的文本記錄中摘取數據，然后逐步分析失效物理數據，再將失效物理數據整合在EXCEL表格中。最后，根據表格繪制直方圖、正態分布圖等等圖形分析和定論。

上述的方法，屬于傳統方法，存在以下缺點：

1)、工作人員需要整理文本記錄，從中間篩選出有效的物理數據(部分廠家實現了軟件自動篩選)，工作量巨大；

2)、在整理失效物理數據時，需要將0翻1、1翻0以及翻轉的物理地址和相應位全部整理出來，工作繁瑣；

3)、最后整理成EXCEL表格，繪制分布圖，工作繁瑣亦不直觀；

4)、由于圖形不夠直觀，針對整理的表格和分布圖來討論和分析問題，定位比較困難；

從上述問題可以看出，存儲器可靠性評估工作是一種工作量大、工作繁瑣的工作，且目前沒有高效直觀的方法能夠評估存儲器的可靠性，因此設計一種分析方法是非常必要的。

根據上述問題，本文提出一種設計本方法用于高效直觀的分析存儲器的可靠性問題。該方法要求以下三方面，首先，統一規格的存儲器失效物理地址數據記錄；其次，通過軟件繪制2D或3D的存儲器單元物理模型；最后，將統一規格的存儲器失效物理地址數據記錄導入該軟件，將失效物理單元顯示出來，并統計相應的結果在軟件界面上，包括失效總數、0翻1、1翻0總數，物理地址、相應失效位等信息，其中每種失效信息使用不同的顏色區分出來，方便工作人員分析定位。

發明內容

本發明的方法解決問題是：改善現有方法的不足，提供了一種高效的存儲器失效分析方法，可提高存儲器的可靠性評估效率。

本發明的方法解決方案是：

首先，建立統一規格的存儲器失效物理地址數據記錄，將可靠性驗證過程中發現的失效物理單元失效方式按照統一個格式記錄并保存下來，生成TXT等形式的文本記錄，例如：

VCC＝5，CLK＝30M，ADDR＝0x0000AF4E，EXPECTDATA＝0x55555555，WRONGDATA＝0x55555557；

上述格式表示，工作電壓5V，工作頻率30Mhz，失效地址為0xAF4E，期望數據0x55555555；實際數據0x55555557；表明在0xAF4E地址處的第1位發生了0翻1的失效變化；

其次，利用軟件建立存儲器單元物理地址模型，每一個物理地址都能夠映射在該軟件模型中，通過輸入具體地址可以顯示該地址的相關信息，將生成的失效數據記錄導入該軟件模型，生成可視化的失效物理圖形，從圖形中可以直觀的看出哪一部分物理地址容易發生失效，當鼠標移動該地址范圍內時，顯示具體的失效信息，并且通過鼠標放大和縮小功能可以顯示具體的物理地址信息；如圖1到圖2的變化。

最后，軟件在后臺統計出所有的物理地址失效數據并直觀顯示，方便用戶分析和定位問題，如圖3所示。

圖形化模擬存儲器單元的實際物理模型用于將存儲器實際的物理地址單元通過軟件繪制成2D或者3D圖形并在圖形中顯示出每一個物理地址單元，還能夠通過顏色、形狀區分存儲器失效的具體方式(0翻1或者1翻0)；統一規格的存儲器失效物理地址數據記錄，主要是在可靠性測試過程中將失效物理數據通過固定且統一的方式導出，主要是方便軟件解析和容易導入到圖形化模擬存儲器單元的實際物理模型中，具體形式(失效物理數據在文本中的顯示方式)及格式(TXT、EXCEL、WORD等)由開發者實現，該文本用于將失效數據導入到圖形化存儲器單元的物理模型中，形成失效的存儲器物理地址圖形；失效數據顯示格式及方式，主要是顯示失效分析結果，具體形式由軟件開發者實現。