[發明專利]基于DLP快速成型技術的切片圖勻光方法及系統

有效

• 申請號: 201710906040.6
• 申請日: 2017-09-29
• 公開（公告）號: CN107756784B
• 公開（公告）日: 2019-11-12
• 發明（設計）人: 林佳裕;李忠林
• 申請（專利權）人: 深圳晗竣雅科技有限公司
• 主分類號: B29C64/124
• 分類號: B29C64/124;B29C64/264;B33Y30/00
• 代理公司: 北京酷愛智慧知識產權代理有限公司 11514
• 代理人: 任媛

1.基于DLP快速成型技術的切片圖勻光方法，其特征在于，包括：

步驟S1，將全白的切片圖作灰度處理，得到一系列灰度值梯度的切片圖；

步驟S2，對同一位置不同灰度值切片圖作測量，測出所述同一位置的光強，并得到光強與灰度的函數關系；其中，同一灰度值梯度的切片圖來自一系列灰度值梯度的切片圖；

步驟S3，將所述全白的切片圖投射到成像面上，按預定的陣列測量所述成像面各區域的光強分布；

步驟S4，根據所述成像面各區域的光強分布，以光強測量值的最低值作為成像面勻光后各點的最終光源強度；

步驟S5，結合所述最終光源強度，結合所述光強與灰度的函數關系，對切片完成后的圖片進行勻光，具體為：

通過所述光強與灰度的函數關系計算出所述成像面中各個陣列區域所需處理的灰度值；

根據所述所需處理的灰度值，結合所述最終光源強度，對切片完成后的圖片進行勻光。

2.根據權利要求1所述的基于DLP快速成型技術的切片圖勻光方法，其特征在于，

所述步驟S5，具體為：

通過所述光強與灰度的函數關系對切片完成后的圖片計算灰度值，得到所述切片完成后的圖片對應的所需處理的灰度值；

根據所述所需處理的灰度值，結合所述最終光源強度，對所述切片完成后的圖片進行勻光。

3.根據權利要求1所述的基于DLP快速成型技術的切片圖勻光方法，其特征在于，

所述步驟S2中，通過光強測量裝置測量得到投射出來的所述不同灰度值切片圖的光強；

所述步驟S3中，通過光強測量裝置測量所述成像面各區域的光強分布。

4.根據權利要求3所述的基于DLP快速成型技術的切片圖勻光方法，其特征在于，

所述光強測量裝置為光強測量探頭或攝像頭。

5.基于DLP快速成型技術的切片圖勻光系統，其特征在于，包括：

灰度處理模塊，用于將全白的切片圖作灰度處理，得到一系列灰度值梯度的切片圖；

函數關系生成模塊，用于對同一位置不同灰度值切片圖作測量，測出所述同一位置的光強，并得到光強與灰度的函數關系；

光強分布測量模塊，用于將所述全白的切片圖投射到成像面上，按預定的陣列測量所述成像面各區域的光強分布；

光源強度確定模塊，用于根據所述成像面各區域的光強分布，以光強測量值的最低值作為成像面勻光后各點的最終光源強度；

圖片勻光模塊，用于結合所述最終光源強度，結合所述光強與灰度的函數關系，對切片完成后的圖片進行勻光。

6.根據權利要求5所述的基于DLP快速成型技術的切片圖勻光系統，其特征在于，

所述圖片勻光模塊，具體用于：

通過所述光強與灰度的函數關系計算出所述成像面中各個陣列區域所需處理的灰度值；

根據所述所需處理的灰度值，結合所述最終光源強度，對切片完成后的圖片進行勻光。

7.根據權利要求6所述的基于DLP快速成型技術的切片圖勻光系統，其特征在于，

所述圖片勻光模塊，具體用于：

通過所述光強與灰度的函數關系對切片完成后的圖片計算灰度值，得到所述切片完成后的圖片對應的所需處理的灰度值；

根據所述所需處理的灰度值，結合所述最終光源強度，對所述切片完成后的圖片進行勻光。

8.根據權利要求6所述的基于DLP快速成型技術的切片圖勻光系統，其特征在于，

所述函數關系生成模塊中，通過光強測量裝置測量得到投射出來的所述不同灰度值切片圖的光強；

所述光強分布測量模塊中，通過光強測量裝置測量所述成像面各區域的光強分布。

9.根據權利要求8所述的基于DLP快速成型技術的切片圖勻光系統，其特征在于，

所述光強測量裝置為光強測量探頭或攝像頭。