[發(fā)明專利]探針裝置及其矩形探針有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710905013.7 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109581006B | 公開(公告)日: | 2021-09-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蘇偉志;謝智鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中華精測(cè)科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/073 | 分類號(hào): | G01R1/073;G01R1/067;G01R31/28 |
| 代理公司: | 隆天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 李昕巍;章侃銥 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 探針 裝置 及其 矩形 | ||
本發(fā)明公開一種探針裝置的矩形探針,包含中間段、分別自中間段的相反兩端延伸所形成的第一連接段與第二連接段、自第一連接段朝遠(yuǎn)離中間段方向延伸所形成的第一接觸段以及自第二連接段朝遠(yuǎn)離中間段方向延伸所形成的第二接觸段。第一連接段形成有第一凹槽,并且第一凹槽的深度不大于矩形探針的最大厚度的50%。此外,本發(fā)明還提供一種探針裝置。本發(fā)明的探針裝置及其矩形探針,能通過第一凹槽的深度不大于矩形探針的最大厚度的50%,借以避免影響第一連接段的電流傳導(dǎo)特性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種探針裝置,尤其涉及一種適用于探針卡的探針裝置及其矩形探針。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí),測(cè)試機(jī)通過一探針卡而與待測(cè)物電性連接,并借由信號(hào)傳輸及信號(hào)分析,以獲得待測(cè)物的測(cè)試結(jié)果。現(xiàn)有的探針卡通常由一電路板及一探針裝置(也就是探針頭)組成,或者還包含有設(shè)于電路板及探針裝置間的一空間轉(zhuǎn)換器(也就是載板),探針裝置設(shè)有對(duì)應(yīng)待測(cè)物的電性接點(diǎn)而排列的多個(gè)探針,以借由上述多個(gè)探針同時(shí)點(diǎn)觸相對(duì)應(yīng)的電性接點(diǎn)。
現(xiàn)有探針裝置的探針包含有以微機(jī)電系統(tǒng)(Microelectromechanical Systems,MEMS)技術(shù)所制造的矩形探針,其外型可依據(jù)設(shè)計(jì)者需求而成形。更詳細(xì)地說,現(xiàn)有的矩形探針為了要與探針裝置中的導(dǎo)板固定,因此會(huì)在矩形探針上設(shè)計(jì)凸出的特征以做為卡榫使用。然而,此種矩形探針在穿過導(dǎo)板的過程中,凸出的特征(卡榫)可能會(huì)與導(dǎo)板產(chǎn)生較大的摩擦,從而刮傷導(dǎo)板,并且降低探針裝置整體的使用效率。
于是,本發(fā)明人認(rèn)為上述缺陷可改善,乃特潛心研究并配合科學(xué)原理的運(yùn)用,終于提出一種設(shè)計(jì)合理且能有效改善上述缺陷的本發(fā)明。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例在于提供一種探針裝置及其矩形探針,能有效地改善現(xiàn)有探針裝置所可能產(chǎn)生的缺陷。
本發(fā)明實(shí)施例公開一種探針裝置,包括一第一導(dǎo)板以及多個(gè)矩形探針,第一導(dǎo)板形成有多個(gè)第一孔壁,每個(gè)所述第一孔壁包圍形成有一第一貫孔;多個(gè)矩形探針分別穿設(shè)于所述第一導(dǎo)板的多個(gè)所述第一貫孔,并且每個(gè)所述矩形探針包含一中間段、一第一連接段及一第一接觸段;第一連接段自所述中間段的一端延伸所形成且穿設(shè)于相對(duì)應(yīng)的所述第一貫孔;第一接觸段自所述第一連接段延伸所形成且穿出相對(duì)應(yīng)的所述第一貫孔;其中,每個(gè)所述矩形探針的所述第一連接段形成有一第一凹槽,每個(gè)所述第一凹槽的寬度大于所述第一導(dǎo)板的厚度,每個(gè)所述第一凹槽容置于相對(duì)應(yīng)的所述第一貫孔,并且所述第一凹槽的槽底面向相對(duì)應(yīng)的所述第一孔壁的至少局部。
優(yōu)選地,于每個(gè)所述矩形探針中,所述第一凹槽的深度不大于所述矩形探針的最大厚度的50%。
優(yōu)選地,于每個(gè)所述矩形探針及其所穿設(shè)的所述第一貫孔中,所述矩形探針在所述第一凹槽的位置旁形成有一第一導(dǎo)引斜面,并且所述第一凹槽的位置能通過所述第一導(dǎo)引斜面的導(dǎo)引而對(duì)應(yīng)于所述第一孔壁。
優(yōu)選地,所述探針裝置進(jìn)一步包括有一第二導(dǎo)板,所述第二導(dǎo)板與所述第一導(dǎo)板呈間隔設(shè)置,所述第二導(dǎo)板形成有多個(gè)第二孔壁,每個(gè)所述第二孔壁包圍形成有一第二貫孔,并且多個(gè)所述矩形探針分別穿設(shè)于所述第二導(dǎo)板的多個(gè)所述第二貫孔;其中,每個(gè)所述矩形探針包含有一第二連接段及一第二接觸段,第二連接段自所述中間段的另一端延伸所形成且穿設(shè)于相對(duì)應(yīng)的所述第二貫孔;第二接觸段自所述第二連接段延伸所形成且穿出相對(duì)應(yīng)的所述第二貫孔;其中,每個(gè)所述矩形探針的所述第二連接段形成有一第二凹槽,每個(gè)所述第二凹槽的寬度大于所述第二導(dǎo)板的厚度,每個(gè)所述第二凹槽容置于相對(duì)應(yīng)的所述第二貫孔,并且所述第二凹槽的槽底面向相對(duì)應(yīng)的所述第二孔壁的至少局部。
優(yōu)選地,于每個(gè)所述矩形探針中,所述第二凹槽的深度不大于所述矩形探針的最大厚度的50%;其中,于每個(gè)所述矩形探針及其所穿設(shè)的所述第二貫孔中,所述矩形探針在所述第二凹槽的位置旁形成有一第二導(dǎo)引斜面,并且所述第二凹槽的位置能通過所述第二導(dǎo)引斜面的導(dǎo)引而對(duì)應(yīng)于所述第二孔壁。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
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