[發明專利]用于重構發射活動圖像的系統和方法

有效

• 申請號: 201710902875.4
• 申請日: 2017-09-28
• 公開（公告）號: CN107871331B
• 公開（公告）日: 2023-07-14
• 發明（設計）人: S.安;L.程;F.維辛格爾;D.貝克;S.S.考施克;D.D.尚巴
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G06T11/00
• 分類號: G06T11/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 師瑋;王小東

1.一種用于生成優化發射活動圖像的方法，所述方法包括：

接收受檢者的來自發射斷層掃描儀的原始發射投射數據和來自射線照相掃描儀的原始射線照相投射數據；

獲取所述受檢者的具有初始發射活動圖像和初始發射衰減圖或初始射線照相圖像中的至少一個的初始化數據集；

應用第一建模函數使用所述初始發射活動圖像、所述初始發射衰減圖和將發射活動圖像空間映射到發射投射數據空間中的一個或多個發射算子生成估計發射投射數據；

應用第二建模函數使用所述初始射線照相圖像和將射線照相圖像空間映射到射線照相投射數據空間中的至少一個射線照相算子生成估計射線照相投射數據；

提供縮放函數以將射線照相圖像空間映射到發射衰減圖空間中；以及

使用優化函數來迭代地確定優化發射活動圖像，所述優化函數是基于所述第一建模函數、所述第二建模函數、所述縮放函數、所述原始發射投射數據和所述原始射線照相投射數據的。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：進一步包括使用所述優化函數生成優化發射衰減圖。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于：進一步包括使用所述縮放函數和所述優化發射衰減圖生成優化射線照相圖像。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于：進一步包括使用所述原始發射投射數據和所述優化發射衰減圖或所述優化射線照相圖像中的至少一個生成衰減被校正的發射活動圖像。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：進一步包括使用所述優化函數迭代地確定優化射線照相圖像。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：進一步包括使用所述優化函數迭代地確定優化發射衰減圖和優化射線照相圖像。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：所述優化函數包括對于所述發射活動圖像空間、所述發射衰減圖空間或所述射線照相圖像空間中的至少一個的一個或多個約束。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：迭代地確定包括使用一個或多個數值優化算法。

9.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：迭代地確定包括生成迭代發射活動圖像和迭代發射衰減圖或迭代射線照相圖像中的至少一個。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于：所述迭代發射活動圖像與所述迭代發射衰減圖或所述迭代射線照相圖像中的所述至少一個是以交替順序生成。

11.根據權利要求9所述的方法，其特征在于：所述迭代發射活動圖像與所述迭代發射衰減圖或所述迭代射線照相圖像中的所述至少一個是同時生成。

12.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：迭代地確定包括使用一個或多個終止準則來生成所述優化發射活動圖像。

13.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：所述優化函數進一步基于發射分散估計。

14.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：所述優化函數進一步基于從所述原始射線照相投射數據和所述第二建模函數生成的重構射線照相圖像中識別出的一個或多個不確定區。