[發(fā)明專利]一種基于參數(shù)提取的快速ADC測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710902624.6
• 申請(qǐng)日: 2017-09-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107800434A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-03-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃成;陳啟蒙;郭展鴻;馮雪;張軒
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東南大學(xué);東南大學(xué)-無(wú)錫集成電路技術(shù)研究所
• 主分類號(hào): H03M1/10
• 分類號(hào): H03M1/10
• 代理公司: 南京瑞弘專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙)32249
• 代理人: 陳國(guó)強(qiáng)

1.一種基于參數(shù)提取的快速ADC測(cè)試方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟一，通過(guò)仿真實(shí)驗(yàn)確定現(xiàn)有動(dòng)態(tài)參數(shù)估算算法的最佳測(cè)試條件，并進(jìn)行仿真分析，得到在此最佳測(cè)試條件下的動(dòng)態(tài)參數(shù)值；其中，所述現(xiàn)有動(dòng)態(tài)參數(shù)估算算法為基于INL值估算動(dòng)態(tài)參數(shù)算法；

步驟二，通過(guò)理論推導(dǎo)以及實(shí)驗(yàn)仿真，明確靜態(tài)參數(shù)與動(dòng)態(tài)參數(shù)之間存在的關(guān)系，為現(xiàn)有動(dòng)態(tài)參數(shù)估算算法的優(yōu)化作鋪墊；

步驟三，對(duì)現(xiàn)有動(dòng)態(tài)參數(shù)估算算法進(jìn)行優(yōu)化，具體為：通過(guò)對(duì)靜態(tài)測(cè)試所采集的靜態(tài)碼值，進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，使其能夠進(jìn)行頻譜分析進(jìn)而得出動(dòng)態(tài)參數(shù)指標(biāo)，并通過(guò)對(duì)12位ADC模型進(jìn)行MATLAB仿真驗(yàn)證所提優(yōu)化算法的可行性以及精確性；

步驟四，在上述步驟優(yōu)化算法的基礎(chǔ)上，采用移動(dòng)平均濾波器法優(yōu)化直方圖方法，從而達(dá)到優(yōu)化測(cè)試時(shí)間的目的；

步驟五，選擇一款A(yù)DC芯片，搭建ADC測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)具體的實(shí)驗(yàn)對(duì)優(yōu)化算法做性能驗(yàn)證。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于參數(shù)提取的快速ADC測(cè)試方法，其特征在于：步驟一中，確定最佳測(cè)試條件的方法為：在不同的采樣點(diǎn)數(shù)下，其他測(cè)試條件相同，計(jì)算INL誤差。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于參數(shù)提取的快速ADC測(cè)試方法，其特征在于：步驟三中，在靜態(tài)測(cè)試時(shí)，采用的測(cè)試條件是輸入信號(hào)幅度略高于ADC滿量程幅度。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于參數(shù)提取的快速ADC測(cè)試方法，其特征在于：步驟四中，優(yōu)化的直方圖方法即是利用較少的采樣點(diǎn)數(shù)，通過(guò)平均移動(dòng)濾波器法，得出ADC靜態(tài)參數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于參數(shù)提取的快速ADC測(cè)試方法，其特征在于：步驟五中，ADC芯片為ADI公司生產(chǎn)的AD9258芯片。