[發(fā)明專利]一種基于多層石墨烯輔助層的三維硅通孔垂直互聯(lián)方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710901161.1 | 申請日: | 2017-09-28 |
| 公開(公告)號: | CN107658264A | 公開(公告)日: | 2018-02-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陸向?qū)?/a>;宿磊;何貞志;樊夢瑩;劉凡 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇師范大學(xué) |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L23/48 |
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| 地址: | 221000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 多層 石墨 輔助 三維 硅通孔 垂直 方法 | ||
1.一種基于多層石墨烯輔助層的三維硅通孔垂直互聯(lián)方法,其特征在于,包括以下步驟:
a.在硅基片(1)上制作硅孔(8);
b.在硅基片(1)表面及硅孔(8)內(nèi)壁沉積絕緣層(2);
c.在絕緣層(2)上沉積阻擋層(3);
d.在阻擋層(3)表面上形成多層石墨烯輔助層(4);
e.在硅基片(1)表面上的多層石墨烯輔助層(4)上貼干膜,然后曝光、顯影形成干膜層(5);
f.在硅孔(8)底面和干膜層(5)表面上沉積種子層(6);
g.在硅孔(8)內(nèi)填充導(dǎo)電材料(7)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于多層石墨烯輔助層的三維硅通孔垂直互聯(lián)方法,其特征在于,所述步驟a中硅孔(8)的制作采用深反應(yīng)離子刻蝕、激光刻蝕或濕法腐蝕法刻蝕。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于多層石墨烯輔助層的三維硅通孔垂直互聯(lián)方法,其特征在于,所述步驟b中沉積的絕緣層(2)采用熱氧化、化學(xué)氣相沉積或者物理氣相沉積方法制作,材料為二氧化硅、氧化鋁、聚酰亞胺、聚對二甲苯或光刻膠。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于多層石墨烯輔助層的三維硅通孔垂直互聯(lián)方法,其特征在于,所述步驟c中沉積的阻擋層(3)采用物理氣相淀積、原子層淀積或化學(xué)氣相淀積方法制作,材料為鈦、氮化鈦、鉭、氮化鉭。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于多層石墨烯輔助層的三維硅通孔垂直互聯(lián)方法,其特征在于,所述步驟d中多層石墨烯采用氧化還原法制備,并采用濕法工藝在阻擋層(3)形成多層石墨烯輔助層(4)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于多層石墨烯輔助層的三維硅通孔垂直互聯(lián)方法,其特征在于,所述步驟f中種子層(6)采用物理氣相淀積、原子層淀積或者化學(xué)氣相淀積方法制作,材料可以是金或者銅。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于多層石墨烯輔助層的三維硅通孔垂直互聯(lián)方法,其特征在于,所述步驟f中干膜層(5)的孔直徑小于硅孔(8)直徑。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于多層石墨烯輔助層的三維硅通孔垂直互聯(lián)方法,其特征在于,所述步驟g中以種子層(6)為引導(dǎo)對硅孔(8)內(nèi)進(jìn)行電鍍填充導(dǎo)電材料(7)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





