[發明專利]器件故障的電學檢測方法、裝置和顯示模組

有效

• 申請號: 201710900166.2
• 申請日: 2017-09-28
• 公開（公告）號: CN107516483B
• 公開（公告）日: 2020-06-30
• 發明（設計）人: 袁粲
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥鑫晟光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;劉偉

本發明提供一種器件故障的電學檢測方法、裝置和顯示模組。所述器件故障的電學檢測方法包括：在一檢測階段包括的置位時間段，向外部補償線提供一預定置位電壓，經過預定置位時間后進入該檢測階段包括的檢測時間段；在該檢測階段包括的檢測時間段，控制外部補償線處于浮空狀態，向數據線提供預定數據電壓，向電源電壓輸入端提供預定電源電壓，向數據寫入控制端提供預定數據寫入控制電壓，向外部補償控制端提供外部補償控制電壓，經過預定檢測時間后，檢測外部補償線上的電壓，并根據該電壓判斷外部補償像素電路包括的器件是否發生故障。本發明解決在有機發光二極管顯示面板制程中的各種暗點不良無法在點燈狀態下被準確的檢測的問題。

技術領域

本發明涉及顯示不良檢測方法，尤其涉及一種器件故障的電學檢測方法、裝置和顯示模組。

背景技術

在OLED(Organic Light-Emitting Diode，有機發光二極管)顯示領域中，會由于驅動模塊的復雜程度較高，導致在Panel(面板)工藝制程上會有較高的難度，暗點不良高發且有些暗點不良上不可避免的。然而在現有的點燈測試中，難以準確檢測各種暗點不良。并且，在工藝制程中會有很多測試區篩選顯示面板，導致產品制作過程的良率損失較大，且很多不良是在測試后制程也會發生。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種器件故障的電學檢測方法、裝置和顯示模組，解決現有技術中在OLED(有機發光二極管)顯示面板制程中的各種暗點不良無法在點燈狀態下被準確的檢測的問題。

為了達到上述目的，本發明提供了一種器件故障的電學檢測方法，應用于外部補償像素電路，所述外部補償像素電路與數據寫入控制端、數據線、電源電壓輸入端、外部補償控制端和外部補償線連接，一檢測階段包括置位時間段和檢測時間段，所述器件故障的電學檢測方法包括：

在一檢測階段包括的置位時間段，向所述外部補償線提供一預定置位電壓，經過預定置位時間后進入該檢測階段包括的檢測時間段；

在該檢測階段包括的檢測時間段，控制所述外部補償線處于浮空狀態，向所述數據線提供預定數據電壓，向所述電源電壓輸入端提供預定電源電壓，向所述數據寫入控制端提供預定數據寫入控制電壓，向所述外部補償控制端提供外部補償控制電壓，經過預定檢測時間后，檢測所述外部補償線上的電壓，并根據該電壓判斷所述外部補償像素電路包括的器件是否發生故障。

實施時，本發明所述的器件故障的電學檢測方法具體包括：在第一檢測階段包括的置位時間段，向所述外部補償線提供第一置位電壓，經過第一預定置位時間后進入所述第一檢測階段包括的檢測時間段；所述第一置位電壓為第一正電壓；

在所述第一檢測階段包括的檢測時間段，控制所述外部補償線處于浮空狀態，向所述數據寫入控制端提供第一數據寫入控制電壓，以使得數據寫入晶體管的柵源電壓大于該數據寫入晶體管的閾值電壓，向所述外部補償控制端提供第一外部補償控制電壓，以使得外部補償控制晶體管的柵源電壓大于該外部補償控制晶體管的閾值電壓，向所述數據線提供第一數據電壓，以使得驅動晶體管的柵源電壓小于該驅動晶體管的閾值電壓，向所述電源電壓輸入端提供第一電源電壓，經過第一預定檢測時間后，檢測所述外部檢測線上的電壓，根據該電壓判斷所述外部補償像素電路包括的器件是否發生故障；所述第一數據電壓為第二正電壓。

實施時，第一數據電壓小于第一置位電壓；所述根據該電壓判斷所述外部補償像素電路包括的器件是否發生故障步驟包括：當檢測到的所述外部檢測線上的電壓位于所述第一數據電壓和所述第一置位電壓之間時，判斷到所述外部補償像素電路包括的存儲電容的兩端之間短路。

實施時，所述外部補償像素電路還與低電壓輸入端連接，所述低電壓輸入端輸入的低電壓小于所述第一置位電壓；所述根據該電壓判斷所述外部補償像素電路包括的器件是否發生故障步驟還包括：當檢測到的所述外部檢測線上的電壓與所述低電壓之間的差值的絕對值小于第一預定電壓差值時，判斷到所述外部補償像素電路包括的發光元件的第一極與該發光元件的第二極之間短路。